本实用新型专利技术公开一种半导体材料批量生产用自动检测设备，包括检测箱、两个第一液压杆和传送带，每个所述第一液压杆的顶端均与检测箱的内顶壁固定连接，两个第一液压杆的输出端共同固定连接有检测架，检测架的底端固定连接有等距离排列的检测探头，传送带的上表面固定连接有物料座，物料座的内部放置有缓冲板。本实用新型专利技术通过设置有检测箱配合传送带，能够在生产时通过操作检测设备对半导体材料进行快速检测，无需将半导体材料从而产线上取下，利用第一液压杆能够带动检测架和检测探头向下运动，从而能够对半导体材料进行快速检测，避免手动将半导体材料取下，增加劳动强度，并多次触摸半导体材料，影响被测半导体材料品质和性能的问题。性能的问题。性能的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体材料批量生产用自动检测设备
[0001]本技术涉及半导体
，具体涉及一种半导体材料批量生产用自动检测设备。
技术介绍
[0002]半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，为了增加半导体材料的生产效率，通常都会使用批量生产的方式，为了确保半导体材料的整体性能，需要再一定数量内对其进行抽样检测，但现有的半导体材料自动检测设备在使用过程中存在以下弊端：
[0003]传统的半导体材料自动检测设备在对半导体材料进行抽样检测时，都是有由工作人员手动从产线上将某一个半导体材料取下，然后再将其放入自动检测设备的内部，对半导体材料进行性能检测，极大的浪费了人力，增加了触摸半导体材料的次数，容易导致半导体材料性能下降，影响了半导体材料的品质。
[0004]由此可见，需要提供一种半导体材料批量生产用自动检测设备。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种半导体材料批量生产用自动检测设备，以解决需要手动将半导体材料放入自动检测设备内部浪费人力，增加了触摸半导体材料次数，影响被测产品品质和性能的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术通过以下技术方案实现：
[0007]一种半导体材料批量生产用自动检测设备，包括检测箱、两个第一液压杆和传送带，每个所述第一液压杆的顶端均与检测箱的内顶壁固定连接，两个所述第一液压杆的输出端共同固定连接有检测架，所述检测架的底端固定连接有等距离排列的检测探头，所述传送带的上表面固定连接有物料座，所述物料座的内部放置有缓冲板，所述缓冲板的底面固定连接有两个缓冲弹簧，每个所述缓冲弹簧的底端均与物料座的内底壁固定连接，所述检测箱的内壁固定连接有两组第二液压杆，每组所述第二液压杆的输出端均共同固定连接有稳固架，两个所述稳固架相互靠近的一侧面分别与物料座的正面和物料座的背面相接触。
[0008]进一步，所述检测箱的底面固定连接有底板，所述检测箱的上表面开设有出线通孔，所述检测架的上表面固定连接有接线管，所述接线管的顶端贯穿出线通孔并延伸检测箱的上方。
[0009]进一步，所述检测箱的内壁活动铰接有等距离排列的辅助辊轴，每个所述辅助辊轴的外表面均与传送带的底面相接触。
[0010]进一步，每组所述第二液压杆的外表面均固定连接有稳固块，两组所述稳固块相互远离的一侧面均与检测箱的内壁固定连接。
[0011]进一步，所述检测箱的正面活动铰接有检修门，所述检修门的正面固定连接有握
把。
[0012]进一步，所述底板的底面固定连接有两组支撑腿，每组所述支撑腿的底面均固定连接有稳定板。
[0013]进一步，所述接线管的外表面固定连接有固定环，所述固定环的底面与检测架的上表面固定连接。
[0014]本技术的有益效果在于:
[0015]1.本技术通过设置有检测箱配合传送带，能够在生产时通过操作检测设备对半导体材料进行快速检测，无需将半导体材料从而产线上取下，利用第一液压杆提供的动力能够带动检测架和检测探头向下运动，从而能够对半导体材料进行快速检测，避免手动将半导体材料取下，增加劳动强度，并多次触摸半导体材料，影响被测半导体材料品质和性能的问题。
[0016]2.本技术通过设置有第二液压杆提供的动力能够带动两个稳固架相互靠近，两个稳固架相互靠近的同时，能够将物料座卡紧，从而能够固定物料座内部的半导体材料，方便检测设备对其进行检测，避免物料座位置发生偏移影响检测精度，或物料座在检测过程中发生晃动，将检测探头折断的问题。
[0017]3.本技术通过设置有缓冲板配合物料座和缓冲弹簧，能够吸收检测架向下移动并接触半导体材料时的压力，防止检测架与半导体材料接触时的压力过大，导致半导体材料受损，起到保护半导体材料，降低其损坏率的作用。
[0018]简而言之，本申请技术方案利用检测箱和配合传动带，能够在半导体生产时对其进行检测，无需拿取半导体材料，极大的节约了人力，并且利用第一液压杆带动检测架，能够快速对半导体进行检测，通过第二液压杆和稳固架，能够对物料座进行夹持，增加检测时的稳定性精确度。
[0019]本技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本技术的实践中得到教导。本技术的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
[0020]图1为本技术检测箱正视图剖视图的结构示意图；
[0021]图2为本技术检修门正视图的结构示意图；
[0022]图3为本技术检测箱俯视图剖视图的结构示意图；
[0023]图4为本技术物料座正视图剖视图的结构示意图；
[0024]图中：1、检测箱；2、第一液压杆；3、出线通孔；4、接线管；5、固定环；6、检测架；7、底板；8、传送带；9、辅助辊轴；10、物料座；11、支撑腿；12、稳定板；13、检测探头；14、稳固架；15、检修门；16、握把；17、缓冲板；18、第二液压杆；19、缓冲弹簧；20、稳固块。
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描
述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0026]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0028]在本技术的上述描述中，需要说明的是，术语“一侧”、“另一侧”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0029]此外，术语“相同”等术语并不表示要求部件绝对相同，而是可以存在微小的差异。术语“垂直”仅仅是指部件之间的位置关系相对“平行”而言更加垂直，并不是表示该结构一定要完全垂直，而是可以稍微倾斜。
[0030]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种半本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体材料批量生产用自动检测设备，包括检测箱(1)、两个第一液压杆(2)和传送带(8)，其特征在于：每个所述第一液压杆(2)的顶端均与检测箱(1)的内顶壁固定连接，两个所述第一液压杆(2)的输出端共同固定连接有检测架(6)，所述检测架(6)的底端固定连接有等距离排列的检测探头(13)，所述传送带(8)的上表面固定连接有物料座(10)，所述物料座(10)的内部放置有缓冲板(17)，所述缓冲板(17)的底面固定连接有两个缓冲弹簧(19)，每个所述缓冲弹簧(19)的底端均与物料座(10)的内底壁固定连接，所述检测箱(1)的内壁固定连接有两组第二液压杆(18)，每组所述第二液压杆(18)的输出端均共同固定连接有稳固架(14)，两个所述稳固架(14)相互靠近的一侧面分别与物料座(10)的正面和物料座(10)的背面相接触。2.根据权利要求1所述的一种半导体材料批量生产用自动检测设备，其特征在于：所述检测箱(1)的底面固定连接有底板(7)，所述检测箱(1)的上表面开设有出线通孔(3)，所述检测架(6)的上表面固定连接有接线管(4)，所述接线管(4)的顶端贯穿出线通...
【专利技术属性】
技术研发人员：邢小亮，
申请(专利权)人：无锡世百德微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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