【技术实现步骤摘要】
一种清针台
本技术涉及清针装置
,尤其是一种清针台。
技术介绍
集成电路制造领域中,芯片测试是芯片制造业不可缺少的一个重要环节,针卡是芯片测试所必需的精密工具,针卡是一种测试接口,一般针卡的中部通孔处分布有垂直布置的探针,针卡通过连接测试机和芯片,对裸芯参数进行测试;具体测试时,是将针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出芯片讯号;针卡应用在芯片尚未封装前,针对裸晶系以探针做功能测试,筛选出不良品,然后再进行之后的封装工程。因此,针卡是降低芯片制造成本的重要装置之一,且针卡探针状态的好坏直接影响着测试的质量和芯片制造成本。然而,在日常的生产测试过程中,随着测试的进行,针卡扎针后会有部分污染物如碎屑、颗粒物粘附在探针的针壁或针尖上,另外也会产生氧化等现象。现有技术中的芯片测试设备中,一些出厂配置较低硬件部位,没有配备清针装置,这样在测试生产中当针卡针尖扎针频次到一定的数量后针尖会产生氧化导致测试良率会变低。这个现象不仅仅造成测试产品的良率低,还会造成停机维修增加停机时间,增加作业员技术员的工作量,影响工作效率。
技术实现思路
本申请人针对上述现有生产技术中的缺点,提供一种结构合理的清针台,从而在原先的设备上增加清针台,实现设备自动完成清洁针卡针尖的动作,大大提高了整机的工作可靠性,避免停机维修的工作,提高工作效率。本技术所采用的技术方案如下:一种清针台,所述清针台采用一体式结构,具体结构为:包括圆柱体结构的清针台本体,所述清针台本体的底部延伸有凸台 ...
【技术保护点】
1.一种清针台,其特征在于:所述清针台采用一体式结构,具体结构为:包括圆柱体结构的清针台本体(2),所述清针台本体(2)的底部延伸有凸台(3),所述凸台(3)的底部延伸有间隔设置的第一连接凸起(4)和第二连接凸起(5),所述清针台本体(2)的顶部安装有砂纸(1);还包括针卡(6),针卡(6)的底部为针尖(7),所述针尖(7)与砂纸(1)对应。/n
【技术特征摘要】
1.一种清针台,其特征在于:所述清针台采用一体式结构,具体结构为:包括圆柱体结构的清针台本体(2),所述清针台本体(2)的底部延伸有凸台(3),所述凸台(3)的底部延伸有间隔设置的第一连接凸起(4)和第二连接凸起(5),所述清针台本体(2)的顶部安装有砂纸(1);还包括针卡(6),针卡(6)的底部为针尖(7),所述针尖(7)与砂纸(1)对应。
2.如权利要求1所述的一种清针台,其特征在于:所述砂纸(1)粘贴于清针台本体(2)的顶面。
3.如权利要求1所述的一种清针台,其特征在于:所...
【专利技术属性】
技术研发人员:李学涛,
申请(专利权)人:无锡市华宇光微电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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