用于测试被试设备的基于处理器的测量方法及利用其的测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：device under test)的测量方法，具体而言，涉及用于测量诸如电子设备、半导体元件、电路模块、电路基板等装有电子电路的各种电子设备的功能及性能所需的手段，涉及一种为了与配备高价的各种硬件来运用的以往手段相比能够节省单价而处理器以软件方式支持测量的方法及利用其的装置。

The measurement method based on processor and the measurement device used for testing the tested equipment

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测试被试设备的基于处理器的测量方法及利用其的测量装置
本专利技术涉及用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：deviceundertest)的测量方法，具体而言，涉及一种用于对诸如电子设备、半导体元件、电路模块、电路基板等装有电子电路的各种电子设备的功能及性能进行测量的手段，涉及一种为了与配备高价的各种硬件来运用的以往手段相比能够节省单价而处理器以软件方式支持测量的方法及利用其的装置。
技术介绍
以指示对被试设备(DUT)的测量准备及测量程序的执行的微控制器(或微处理器)与实际执行其的多种模块(或计测器)的组合运用测量装置。图1是从概念上图示用于测试被试设备的以往一个示例性测量装置、特别是如美国授权专利公报第6,028,439号公开的装置那样的测量装置的框图。根据通常的以往测量手段，美国授权专利公报第6,028,439号所公开的测量装置具备：微控制器(微处理器)110、生成测量模式(pattern)的模式发生器(PATGEN)120、测量泄漏电流的泄漏电流计测器(LCTU)125、向被试设备供应电压的电源供应器(DevicePowerSupply)180、测量信号特性的参量计测器(parametermeasuringunit：PMU)190、生成时钟的周期发生器(PeriodGen；图中未示出)等物理测量装置。就这种测量手段而言，微控制器(microcontroller)110负责测量指示及控制，测量的执行由高价的物理测量装置负责，这使测量装置的体积增加，结果存在制作费用增加的缺点。作为旨在弥补这种缺点的测量装置的另一示例，国家仪器公司(NationalInstruments)的测量装置采取如图2所示的构成，独立于担任测量的数字测试器而具备PC(personalcomputer：个人计算机)，选择性地利用了通过在PC上运行的应用软件来比较数字测试器测量的被试设备的输出信号与预期值的方案。但是，这种方式由于数字测试器将测量数据传递给PC并存储于存储器的过程中的延迟时间、应用软件读取存储的数据并执行数据比较的过程中的延迟时间、应用软件驱动导致的延迟时间等，存在对测量结果的实时比较、分析困难的问题，不适合于高速测量。因此，为了实时数据比较，推荐独立配备物理数据比较器装置而使用。另外，就国家仪器公司的测量装置示例而言，由于利用应用软件来替代物理计测器的手段限定于数据比较，仅利用相应方法论，在测量装置小型化及减少制作费用方面存在界限。
技术实现思路
(专利技术所要解决的问题)为了解决上述问题，本专利技术目的在于提供一种新型测量手段，该新型测量手段摒弃具备用于模式产生、泄漏电流、模拟信号等的测量、比较及分析所需的独立物理手段并利用其的以往测量方式，使得微处理器实时衔接于模式发生作业、实时数据变换及分析作业，从而替代模式发生器、泄漏电流测量装置、模拟信号处理装置等物理测量模块的使用。另外，本专利技术另一目的在于提供一种能够实时积累、审核微处理器输出的指示数据、测量过程中发生的测量数据、最终判定结果及分析数据等的测量手段。换言之，本专利技术又一目的在于提供一种如下的手段，即，无论在测量进行中或测量结束后，所述手段使使用者能够随时分析测量过程及其结果，提供支持以能够在测量对象物发生误操作时实现对此的原因分析及/或精密审核其结果物水平。(解决问题所采用的措施)旨在达成如上所述本专利技术目的、实现后述本专利技术特征性效果的本专利技术的特征性构成如下。根据本专利技术一种形态，提供一种用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：deviceundertest)的基于处理器的测量方法，该测量方法包括：(a)步骤，其中，处理器执行：(i)获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务，及(ii)建立测量模式表的处理任务；(b)步骤，其中，所述测量模式表建立后，所述处理器将测量开始信号传递给总线调节器，从而使所述总线调节器开放总线；及(c)步骤，其中，所述总线开放后，所述处理器执行：(i)以如下方式对所述被试设备进行测量的处理任务，所述方式为：使所述测量模式表、所述电源设定信号及开关设定信号与测量序号一同加载于所述总线而使所述测量模式表、所述开关设定信号及所述电源设定信号分别传递于测试器通道、开关调节器及电源供应器，从而使所述测试器通道将基于所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备，使所述电源供应器将基于所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备，使所述开关调节器根据所述开关设定信号来调节介于所述测试器通道与所述被试设备之间的开关。根据本专利技术另一形态，提供一种用于测试具有多个端子的被试设备的基于处理器的测量方法，该测量方法包括：(a)步骤，其中，处理器为了特定测量而执行：(i)获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务，及(ii)建立测量模式表的处理任务；(b)步骤，其中，所述测量模式表建立后，所述处理器执行：(i)以如下方式对所述被试设备进行所述特定测量的处理任务，所述方式为：使所述测量模式表、所述电源设定信号及开关设定信号与测量序号一同加载于总线而使所述测量模式表、所述开关设定信号及所述电源设定信号分别传递至测试器通道、开关调节器及电源供应器，从而使所述测试器通道将基于所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备，使所述电源供应器将基于所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备，使所述开关调节器根据所述开关设定信号来调节介于所述测试器通道与所述被试设备之间的开关；及(c)步骤，其中，如果借助于所述测量而从所述被试设备获得了测量数据，则所述处理器比较测量值与基于所述特定测量的预期值，从而判定所述被试设备是否不良，其中，所述测量值是(i)所述测量数据或(ii)通过借助于所述处理器而运行的软件模块来从所述测量数据计算的值。其中，所述测量方法的(c)步骤优选地可以包括(c1)步骤，在所述(c1)步骤中，如果为了获得所述测量值而需要通过所述软件模块的计算，则所述处理器通过所述软件模块来从所述测量数据计算所述测量值，如果不需要通过所述软件模块的计算，则所述处理器将所述测量数据用作所述测量值，从而判定所述被试设备是否不良；所述(c)步骤在所述(c1)步骤之前可以还包括(c0)步骤，在所述(c0)步骤中，所述处理器为了进行与所述特定测量不同的其他测量，开始反复所述(a)至(c)步骤。根据本专利技术的又一形态，提供一种用于测试具有多个端子的被试设备的基于处理器的测量装置，该测量装置包括：处理器，所述处理器执行获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务及建立测量模式表的处理任务，建立所述测量模式表后，产生测量开始信号；总线，所述总线与所述处理器连接；总线调节器，如果从所述处理器接收所述测量开始信号，所述总线调节器则开放所述总线；至少一个测试器通道，所述至少一个测试器通道将基于因加载于所述总线而获得的所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备；开关，所述开关介于所述测试器通道与所述被试设备之间；电源供应器，所述电源供应器将基于因加载于所述总线而获得的所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备；及开关调节本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量方法，其为用于测试具有多个端子的被试设备的基于处理器的测量方法，包括：/n(a)步骤，其中，处理器执行：(i)获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务，及(ii)建立测量模式表的处理任务；/n(b)步骤，其中，所述测量模式表建立后，所述处理器将测量开始信号传递给总线调节器，从而使所述总线调节器开放总线；及/n(c)步骤，其中，所述总线开放后，所述处理器执行：(i)以如下方式对所述被试设备进行测量的处理任务，所述方式为：使所述测量模式表及所述电源设定信号及开关设定信号与测量序号一同加载于所述总线而使所述测量模式表、所述开关设定信号及所述电源设定信号分别传递于测试器通道、开关调节器及电源供应器，从而使所述测试器通道将基于所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备，使所述电源供应器将基于所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备，使所述开关调节器根据所述开关设定信号来调节介于所述测试器通道与所述被试设备之间的开关。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170620 KR 10-2017-00778921.一种测量方法，其为用于测试具有多个端子的被试设备的基于处理器的测量方法，包括：
(a)步骤，其中，处理器执行：(i)获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务，及(ii)建立测量模式表的处理任务；
(b)步骤，其中，所述测量模式表建立后，所述处理器将测量开始信号传递给总线调节器，从而使所述总线调节器开放总线；及
(c)步骤，其中，所述总线开放后，所述处理器执行：(i)以如下方式对所述被试设备进行测量的处理任务，所述方式为：使所述测量模式表及所述电源设定信号及开关设定信号与测量序号一同加载于所述总线而使所述测量模式表、所述开关设定信号及所述电源设定信号分别传递于测试器通道、开关调节器及电源供应器，从而使所述测试器通道将基于所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备，使所述电源供应器将基于所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备，使所述开关调节器根据所述开关设定信号来调节介于所述测试器通道与所述被试设备之间的开关。


2.根据权利要求1所述的测量方法，还包括：
(d)步骤，其中，所述测量完成后，所述处理器执行：(i)对所述电源设定信号及开关设定信号进行初始化的处理任务，及(ii)将测量结束信号传递给所述总线调节器，从而使所述总线调节器关闭所述总线的处理任务。


3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
在所述(b)步骤中，与所述总线连接的通信部的通信端口借助于接收所述测量开始信号的所述通信部而开放，
在所述(c)步骤中，借助于所述测量而从被试设备获得的测量数据通过所述总线传递到所述通信部。


4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，
在所述(c)步骤中执行所述测量时，
加载于所述总线而传递的信号中至少一部分满足下述条件中的至少一种，所述条件为：(1)实时记录于存储器或规定的存储装置，及(2)通过所述通信部借助于外部装置得到保存。


5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
借助于所述处理器而从测量程序或外部文件获得所述测量模式表，或由借助于所述处理器而运行的软件模块以软件方式生成所述测量模式表。


6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
在所述(a)步骤中，
所述电源设定信号、开关设定信号及所述测量模式表存储于存储器，
在所述(c)步骤中，
存储器中存储的所述电源设定信号、开关设定信号及所述测量模式表，与所述测量序号一同加载于所述总线。


7.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
在所述(c)步骤中，所述测量包括通过包括参量计测器及模拟计测器中至少一种的一个以上计测器来执行的个别测量。


8.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
在所述(c)步骤中，若执行对所述被试设备的模拟测量而从所述被试设备获得的测量数据作为所述模拟测量的结果经过所述总线调节器传递至所述处理器，所述处理器则通过借助于所述处理器而运行的软件模块来从所述测量数据计算模拟信号的特性值。


9.根据权利要求8所述的测量方法，其特征在于，
所述模拟信号的特性值包括准确度、分辨率、动态范围、偏移误差、增益误差、微分非线性性及积分非线性性中至少一个。


10.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，
在所述(c)步骤中，所述测量包括泄漏电流的测量，如果测量了所述泄漏电流的泄漏所需的时间，则所述处理器执行通过借助于所述处理器而运行的软件模块来将所述泄漏所需的时间变换成所述泄漏电流的处理任务，从而测量所述泄漏电流。


11.根据权利要求10所述的测量方法，其特征在于，
若针对连接于所述被试设备的测量端子测量相对于预先设定电压变化量的电压变化所需的时间，作为所述所需的时间的测量结果的时间数据经过所述总线调节器传递至所述处理器，所述处理器则借助于以预先设定的所述测量端子的电容值和所述电压变化量为常数的计算来测量所述泄漏电流。


12.一种测量方法，其为用于测试具有多个端子的被试设备的基于处理器的测量方法，包括：
(a)步骤，其中，处理器为了特定测量而执行：(i)获得电源设定信号及开关设定信号的处理任务，及(ii)建立测量模式表的处理任务；
(b)步骤，其中，所述测量模式表建立后，所述处理器执行：(i)以如下方式对所述被试设备进行所述特定测量的处理任务，所述方式为：使所述测量模式表、所述电源设定信号及开关设定信号与测量序号一同加载于总线而使所述测量模式表、所述开关设定信号及所述电源设定信号分别传递至测试器通道、开关调节器及电源供应器，从而使所述测试器通道将基于所述测量模式表的模式信号施加于所述被试设备，使所述电源供应器将基于所述电源设定信号的电源电压施加于所述被试设备，使所述开关调节器根据所述开关设定信号来调节介于所述测试器通道与所述被试设备之间的开关；及
(c)步骤，其中，如果借助于所述测量而从所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：金秉圭，金秉润，
申请(专利权)人：普适福了有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR