本发明专利技术涉及一种电子设备的自诊断装置，其包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据；以及安全区域测试控制器，其被配置为选择测试模式，控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT，将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较，并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。以输出比较结果信息。以输出比较结果信息。
【技术实现步骤摘要】
电子设备的自诊断装置
[0001]本专利技术涉及电子设备的自诊断装置。更具体地，本专利技术涉及一种测试技术，其能够通过分析被测器件(Device Under Test，DUT)(诸如半导体、电路模块或系统)随时间推移在安全操作区域中的特性变化来提高DUT的安全性，并且即使在DUT运行时也允许执行常规测试和周期性测试，这与现有技术不同。
技术介绍
[0002]通常，对于装备有电气和电子电路的移动系统的功能安全，ISO 26262定义了在汽车安全完整性级别(Automotive Safety Integrity Level，ASIL)4上确保高安全性的标准。
[0003]为了实现这样的高安全性目标，需要具有能够在现场执行自诊断的测试电路。
[0004]图1是示出根据现有技术的美国专利号US 10,620,266B2的设备的配置的图，图2和图3是用于描述根据现有技术的操作的图。
[0005]参照图1至图3，根据现有技术，具有多个核心的设备包括自诊断控制电路，并且至少一个核心在使用地点根据外部测试指令将当前算术操作状态存储在存储器中，并且控制进入诊断睡眠模式。
[0006]根据现有技术，由于在进入测试模式的处理中需要停止核心的算术运算电路并在测试之后恢复核心的算术运算电路的处理，并且采用通过从外部接收测试模式进入指令来执行测试的被动方法，因此存在系统的操作效率降低的问题。
[0007]此外，现有技术具有不应用于需要高安全性的系统的问题，因为不可能知道电路功能的劣化和由于时间变化引起的质量的变化。
[0008](现有技术文献)
[0009](专利文献)
[0010](专利文献1)美国专利号US 10,620,266B2(注册日期：2020年4月14日，标题为“诊断睡眠状态下现场自检的系统、设备和方法”)
技术实现思路
[0011]技术问题
[0012]本专利技术的技术目的在于提供一种设备，该设备被配置为确认诸如半导体器件、信息和通信技术(Information and Communications Technology，ICT)模块或系统的被测器件(DUT)的安全操作区域(region)，并分析该安全操作区域随时间推移的特性变化，从而提高装备有电气和电子电路的移动对象的安全性。
[0013]本专利技术的另一技术目的是允许即使在DUT运行时也执行常规测试和周期性测试，从而为安装在诸如自主车辆或无人机的移动对象上的电子设备的测试提供特别有效的解决方案。
[0014]解决问题的技术方案
[0015]根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据所述测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(Design For Test，DFT)测试代码、与根据所述DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于所述DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据，该测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，所述DFT测试代码结果值是根据所述DFT测试代码的DFT测试的结果，所述测试功能代码结果值是根据所述测试功能代码的功能测试的结果，所述非测试功能代码结果值是根据所述非测试功能代码的功能测试的结果；以及安全区域测试控制器，其被配置为：从所述测试功能代码、所述DFT测试代码以及所述非测试功能代码中选择一个以选择测试模式，响应于所选择的测试模式控制施加到所述DUT的测试信号的环境变量并测试所述DUT，将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较，并将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
[0016]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以进行控制以将操作区段(operation section)的部分区段(a partial section)周期性地分配到执行根据所述测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段(boot section)和终止所述DUT的操作的终止区段(termination section)之间，从而允许在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。
[0017]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以控制要累积在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据所述测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值与存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值进行比较，确定所述测试功能代码正常运行的区段和所述测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。
[0018]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，可以通过外部设备输入存储在所述向量存储器中的所述测试功能代码、所述DFT测试代码、所述功能测试期望值、所述DFT测试期望值和所述非测试功能代码。
[0019]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以包括：自测试控制器，该自测试控制器被配置为针对所述DUT设置测试环境和测试周期，并根据所述测试数据的时间变化信息输出提前警告信息；测试模式选择器，其被配置为针对所述DUT选择测试模式；电压控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的电压；时钟控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的时钟；数据比较器，其被配置为将存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值进行比较，并将存储在所述向量存储器中的所述DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的所述DFT测试代码结果值进行比较；以及网络接口，其被配置为支持与外部设备的网络连接。
[0020]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括电压寄存器，该电压寄存器被配置为存储电压环境变量，所述电压环境变量包括由所述电压控制器施加到所述DUT的电压的最小值和最大值，以及阶跃值，即，在所述电压从最小值逐渐增加到最大值的情况下、所述电压从最大值逐渐减小到最小值的情况下、以及对故障电压区段和操作电压区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位电压变化值。
[0021]在根据本专利技术的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括时钟寄存器，该时钟寄存器被配置为存储时钟环境变量，所述时钟环境变量包括：由时钟控制器施加到所述DUT的时钟的频率的最小值和最大值；阶跃值，即，时钟的单位频率变化值和最小延迟值本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子设备的自诊断装置，所述自诊断装置包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、对应于根据所述测试功能代码的功能测试的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、对应于根据DFT测试代码的DFT测试的DFT测试期望值、以及用于一般算术操作或被测器件(DUT)的操作的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据，该测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，所述DFT测试代码结果值是根据所述DFT测试代码的DFT测试的结果，所述测试功能代码结果值是根据所述测试功能代码的功能测试的结果，所述非测试功能代码结果值是根据所述非测试功能代码的功能测试的结果；以及安全区域测试控制器，其被配置为：从所述测试功能代码、所述DFT测试代码以及所述非测试功能代码中选择一个以选择测试模式；响应于所选择的测试模式控制施加到所述DUT的测试信号的环境变量，并测试所述DUT；将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较；并且将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。2.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器将操作区段的部分区段周期性地分配到执行根据所述测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段和终止所述DUT的操作的终止区段之间，以便控制在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。3.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器控制要累积在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据所述测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值与存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值进行比较，确定所述测试功能代码正常运行的区段和所述测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。4.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，通过外部设备允许输入存储在所述向量存储器中的所述测试功能代码、所述DFT测试代码、所述功能测试期望值、所述DFT测试期望值以及所述非测试功能代码。5.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器包括：自测试控制器，其被配置为针对所述DUT设置测试环境和测试周期，并根据所述测试数据的时间变化信息输出预先警告信息；测试模式选择器，其被配置为针对所述DUT选择测试模式；电压控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的电压；时钟控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择...
【专利技术属性】
技术研发人员：金秉奎，金秉润，
申请(专利权)人：普适福了有限公司，
类型：发明
国别省市：
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