用于包括光学元件的显示面板的测量设备和方法技术

本发明专利技术涉及用于对包括光学元件的单元阵列的被测装置执行测量的测量设备，该测量设备包括：与光学元件的单元阵列的信号端子并联连接的电容器；I/O缓冲器，其通过所述电容器的充电或放电来增加或减少所述电容器的电荷量，并且输出与根据所述电容器的一端的电压的输出逻辑值相对应的信号；用于测量到达时间的时间测量仪器，所述到达时间是所述电容器的一端的所述电压从预定的第一电压达到预定的第二电压的时间；以及处理器，其通过控制所述输入I/O缓冲器和所述时间测量仪器来测量所述到达时间，并且通过使用所述到达时间来测量与光学元件的单元阵列的测量有关的电流的值，并且基于测量值测量所述光学元件的单元阵列是否有缺陷。

【技术实现步骤摘要】
用于包括光学元件的显示面板的测量设备和方法
本专利技术涉及用于测量由诸如LCD或LED显示器的光学元件组成的单元阵列或半导体元件的操作特性并检测元件的缺陷的测量设备和方法。
技术介绍
通常，为了提供用于测量由诸如LCD或LED显示器的光学元件构成的单元阵列或半导体元件的操作特性并检测元件的缺陷的测量图案，需要图案生成设备和阵列驱动设备。在这方面，如在韩国专利申请公开号10-0839942中所公开，常规的图案生成设备由诸如图案文件匹配单元和块生成单元的昂贵硬件组成，使得经济负担大。另外，如美国专利号6,433,485中所公开，常规的阵列驱动设备采用将电流表附接到电源单元、或将电流源连接到每个数据输入端子，以测试单元特性的方法。此时，在前一种情况下，花费大量时间来测量所有阵列单元，并且在后一种情况下，使用高成本电流源的经济负担非常高。
技术实现思路
技术问题本专利技术的目的是提出这样的测量设备，即，其能够检测单元阵列或光学元件中的缺陷，而无需像现有技术中那样将高成本的电流源附接到每个数据输入端子。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量设备，其对包括光学元件的单元阵列的被测装置执行测量，其中所述测量设备包括：/n电容器，其与光学元件的单元阵列的信号端子并联连接；/nI/O缓冲器，其通过对所述电容器充电或放电来增加或减少所述电容器的电荷量，并且输出与根据所述电容器的一端的电压的输出逻辑值相对应的信号；/n时间测量仪器，其用于测量到达时间，所述到达时间是所述电容器的一端的所述电压从预定的第一电压达到预定的第二电压的时间；以及/n处理器，其通过控制输入I/O缓冲器和所述时间测量仪器来测量所述到达时间，并且通过使用所述到达时间来测量与光学元件的单元阵列的测量有关的电流的值，并且基于测量到的值来测量所述光学元件的单元阵列是...

【技术特征摘要】
20200213 KR 10-2020-00173551.一种测量设备，其对包括光学元件的单元阵列的被测装置执行测量，其中所述测量设备包括：
电容器，其与光学元件的单元阵列的信号端子并联连接；
I/O缓冲器，其通过对所述电容器充电或放电来增加或减少所述电容器的电荷量，并且输出与根据所述电容器的一端的电压的输出逻辑值相对应的信号；
时间测量仪器，其用于测量到达时间，所述到达时间是所述电容器的一端的所述电压从预定的第一电压达到预定的第二电压的时间；以及
处理器，其通过控制输入I/O缓冲器和所述时间测量仪器来测量所述到达时间，并且通过使用所述到达时间来测量与光学元件的单元阵列的测量有关的电流的值，并且基于测量到的值来测量所述光学元件的单元阵列是否有缺陷，并且
其中所述处理器通过执行软件模块来执行所述光学元件的单元阵列的测量，所述软件模块包括：
图案生成单元，其用于生成测量图案；
电流时间转换单元，其用于执行泄漏电流的测量；以及
数据操作单元，其使用从所述处理器传输的所述测量数据来计算需要操作的模拟信号的特性。


2.根据权利要求1所述的测量设备，其中所述处理器通过产生测量图案来执行测量，所述测量图案能够同时驱动构成所述光学元件的单元阵列的多条线。


3.根据权利要求1所述的测量设备，其中在所测量到的值与预先存储的期望值相同时，所述处理器将所述光学元件的对应单元阵列确定为正常，并且在所测量到的值...

【专利技术属性】
技术研发人员：金秉圭，金秉润，
申请(专利权)人：普适福了有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR