用于测试被测器件的方法以及使用其的装置制造方法及图纸

本申请公开了一种用于测试被测器件的方法以及使用其的装置。本发明专利技术涉及用于测试被测器件(DUT)的测试装置，该装置以比DUT的运行频率低的运行频率来运行。测试装置包括：时钟源，其根据测试装置的运行频率来生成时钟；时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于DUT的第一时钟；相位转换器，其被配置为根据乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的多个第二时钟来从DUT顺序地收集数据段。

【技术实现步骤摘要】
用于测试被测器件的方法以及使用其的装置
本专利技术涉及一种用于测试被测器件(DUT，deviceundertest)的测量方法和测量装置。更具体地，本专利技术涉及一种用于通过以相对低速时钟运行的测试装置来测试以相对高速时钟运行的DUT的测量方法和测量装置。
技术介绍
通常，为了测试诸如双倍数据速率(DDR)存储器、网络集成电路(IC)、处理器等之类的高速半导体器件，需要具有与高速半导体器件的运行速度相对应的运行速度的高速测试装置。但是，使测试装置加速不可避免地成为经济负担。具体地，在几乎没有配备昂贵的测试装置的中小型企业中，加速成为测试半导体器件的沉重负担。根据现有技术，为了克服这种费用负担，在美国专利申请公开No.2004/0044492中公开了一种使用相对于被测器件(DUT)较慢的测试装置的测试方法。根据现有技术的测试方法具有如下的结构：在两个模式发生器交替地生成测试数据段(piecesoftestdata)之后，通过多路复用器合成所述测试数据段以输出到作为DUT的存储器，或者从存储器接收数据段并通过两个通道将所述数据段传输到比较器。在此，由于输入通道或测试装置内部的模式发生器的运行频率使用作为DUT的存储器的运行频率的1/2的时钟，因此使用两个模式发生器。即使测试装置以相对低速运行，这种常规测试方法也可以测试以相对高速运行的存储器。然而，存在的问题在于：测试装置根据存储器的性能而变得太大。在上述示例的情况下，由于测试装置的运行频率是作为DUT的存储器的运行频率的1/2，因此可以仅使用两个模式发生器来实现测试装置。然而，具体地，为了以超高速串行数据输出为特征在网络接口设备上执行诸如4分区、8分区等的多分区测试(multi-divisiontest)，存在的问题在于：测试装置变大。换句话说，根据现有技术，存在的问题在于：在测试装置中不可避免地需要额外的模式发生器以便测试更快的存储器，并且因此测试装置不可避免地连续变大以及成本也不可避免地上升。另外，甚至存在测试装置不能针对各种运行频率来执行测试的问题。
技术实现思路
本专利技术的技术目的是允许企业甚至使用现有的低性能测试装置来对高性能被测器件(DUT)执行测试，其中尽管DUT的性能逐渐提高，但是企业几乎不能根据DUT的性能来准备测试装置。下面将要描述的用于达到本专利技术的上述目的并实现本专利技术的特性效果的本专利技术的特性配置如下。本专利技术涉及一种用于测试被测器件(DUT)的测试装置，该测试装置以比DUT的运行频率低的运行频率来运行。该测试装置包括：时钟源，其根据测试装置的运行频率来生成时钟；时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据DUT的运行频率而设置的乘数(multiplicationnumber)，并输出用于DUT的第一时钟；相位转换器，其被配置为根据乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的多个第二时钟来从DUT顺序地收集数据段。根据本专利技术，尽管测试装置以比被测器件(DUT)的运行频率相对低的运行频率来运行，但是该测试装置可以执行DUT的测试。因此，根据本专利技术的一个实施例的测试装置即使在相对低的成本下也可以对高性能DUT执行测试。尽管已经参考诸如特定组件、示例性实施例和附图之类的特定项描述了本专利技术，但是提供这些仅仅是为了帮助理解本专利技术，而本专利技术不限于这些实施例，并且本专利技术所属领域的技术人员可以根据本专利技术的描述进行各种改变和修改。因此，本专利技术的精神不应该限于上述实施例，而应该解释为所附权利要求以及所附权利要求的所有等同物或等同修改都将落入本专利技术的范围内。这样的等同物或等同修改将包括例如在数学或逻辑上地等同并且可以产生与实施根据本专利技术的方法相同的结果的方法。附图说明用于描述本专利技术的实施例的附图仅是本专利技术的实施例的一部分，并且其他附图可以由本专利技术所属领域的技术人员(以下称为“普通技术人员”)在无需任何创造性工作的情况下基于该附图来获得。图1是示出根据本专利技术的一个实施例的测试装置和被测器件(DUT)的示意性框图。图2是示出根据本专利技术的一个实施例的在将测试装置应用于DUT时的输出的波形图。图3是示出根据本专利技术的另一实施例的测试装置和DUT的示意性框图。图4是示出根据本专利技术的另一实施例的在将测试装置应用于DUT时的输出的波形图。图5是示出根据本专利技术的又一实施例的测试装置的框图。图6是示出根据本专利技术的一个实施例的测试装置的操作的流程图。具体实施方式本专利技术的以下详细描述参考通过图示的方式示出了能够实施本专利技术的具体实施例的附图，以阐明本专利技术的目的、技术方案和优点。对这些实施例进行了足够详细的描述，以使本领域技术人员能够实施本专利技术。此外，遍及本专利技术的详细描述和权利要求，术语“包括”及其变型并不旨在排除其他技术特征、添加、组件或步骤。本领域技术人员将会从本专利技术的该说明书和实施中的一些来理解本专利技术的其他目的、优点和特性。下面的示例和附图是通过举例的方式提供的，并不意图限制本专利技术。此外，本专利技术涵盖本文中所指示的实施例的所有可能的组合。应当理解，本专利技术的各种实施例尽管不同，但不一定是相互排斥的。例如，在不脱离本专利技术的精神和范围的情况下，可以在其他实施例内实现在本文中结合一个实施例所描述的特定形式、结构和特性。此外，应当理解，在不脱离本专利技术的范围的情况下，可以修改每个公开的实施例内的各个组件的位置或布置。因此，下面详细的描述不应被理解为限制意义的，并且本专利技术的范围仅由适当解释的所附权利要求连同权利要求所赋予的等同物的全部范围来限定。在附图中，贯穿几个视图，相同的附图标记表示相同或相似的功能。除非在本说明书中另外指出或与上下文明显矛盾，否则被称为单数的项包括多个事物，除非在该上下文中另外要求。此外，在描述本专利技术时，当相关的已知配置或功能的详细描述被确定为使本专利技术的主旨不清楚时，将省略其详细描述。在下文中，将参考附图详细描述本专利技术的示例性实施例，以允许本专利技术所属领域的技术人员能够容易地实践本专利技术。图1是示出根据本专利技术的一个实施例的测试装置和被测器件(DUT)的示意性框图。如图1所示，根据本专利技术的一个实施例的测试装置100包括时钟发生器110和测试器120。时钟发生器110包括时钟源111、时钟乘法器112和相位转换器113。时钟源111生成系统时钟。该时钟信号是锯齿波信号，在所述锯齿波信号中数字0和1以规则的时段交替重复。这里，从时钟源111生成的系统时钟的频率小于在DUT200中使用的时钟的频率。例如，从时钟源111生成的系统时钟的频率可以是在DUT200中使用的时钟的频率1/2或1/4。由于本专利技术的目的是使用以相对低速运行的测试装置来测试以相对高速运行的DUT，因此假设测试装置的运行频率总是比DUT的运行频率慢。时钟乘法器112通过整数乘法改变从时钟源111生成的时钟的频率。在特本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种以比被测器件(DUT)的运行频率低的运行频率来运行的测试装置，所述测试装置包括：/n时钟源，其根据所述测试装置的运行频率来生成时钟；/n时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据所述DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于所述DUT的第一时钟；/n相位转换器，其被配置为根据所述乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及/n测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的所述多个第二时钟来从所述DUT顺序地收集数据段。/n

【技术特征摘要】
20200213 KR 10-2020-00173541.一种以比被测器件(DUT)的运行频率低的运行频率来运行的测试装置，所述测试装置包括：
时钟源，其根据所述测试装置的运行频率来生成时钟；
时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据所述DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于所述DUT的第一时钟；
相位转换器，其被配置为根据所述乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及
测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的所述多个第二时钟来从所述DUT顺序地收集数据段。


2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，测试器通过将所收集的数据段与预储存的期望值进行比较来判断所述DUT是否发生故障。


3.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述测试模式比较器根据所述第二时钟而从所述DUT一次仅收集一个数据段。


4.一种以比被测器件(DUT)的运行频率低的运行频率来运行的测试装置，所述测试装置包括：
时钟源，其根据所述测试装置的运行频率来生成时钟；
时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据所述DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于所述DUT的第一时钟；
相位转换器，其被配置为根据所述乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及
测试模式发生器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的所述多个第二时钟来顺序地将测试模式施加于所述DUT。


5.根据权利要求4所述的测试装置，其中，所述测试模式发生器根据所述第二时钟而一次仅将一个测试模式应用于所述DUT。


6.一种以比被测器件(DUT)的运行频率低的运行频率来运行的测试装置，所述测试装置包括：
时钟源，...

【专利技术属性】
技术研发人员：金秉圭，金秉润，
申请(专利权)人：普适福了有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR