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本发明涉及用于测试具有多个端子的被试设备(DUT：device under test)的测量方法，具体而言，涉及用于测量诸如电子设备、半导体元件、电路模块、电路基板等装有电子电路的各种电子设备的功能及性能所需的手段，涉及一种为了与配备高价的...
该专利属于普适福了有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过普适福了有限公司授权不得商用。

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