【技术实现步骤摘要】
一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置
本专利技术涉及半导体自动测试设备测试领域，尤其是涉及自动测试设备的拓展卡助拔推进装置。
技术介绍
半导体自动测试设备测试是对集成电路或芯片进行检测，旨在通过对比测量电路或芯片的输出和理论值，确定集成电路或芯片功能是否满足客户需求的过程。测试方法为，通过测试拓展卡(LOADBOARD)与探针台或封测机对接，实现集成电路或芯片的测试。测试拓展卡与半导体自动测试设备通过欧式插座连接在一起，使用时需要频繁更换测试集成电路板或芯片，因此就需要更换测试拓展卡，故测试拓展卡在现实应用环境中需要频繁的插拔。在传统的测试设备上使用的是链条和钢丝的简易装置实现助拔机构的推进。推进的距离需要依靠定位装置来辅助完成推进距离的确认，但是推进的距离仍然不精准并且导致结构复杂，成本昂贵。由于在手动插拔的过程中，不能保证每个欧式插座所受的力是相同的，就会把欧式插座的针插弯或者公母座配合的时候摩擦了过大，从而增加了欧式插座的磨损，进而减少了座子的使用寿命。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，解决原来推进装置推进距离精度不够和结构复杂成本昂贵的问题，通过手柄扳手配合连杆的结构来实现。参照图1，一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，由手柄扳手1、手柄扳手固定板2、U型推进杆3、滚针轴承4、滑槽5、限位顶针6和固定轴7组成，所述滑槽5为圆弧形，限位顶针6塞在滑槽5中，只能在滑槽5中滑动；所述U型推进杆3开设有腰...
【技术保护点】
1.一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，由手柄扳手（1）、手柄扳手固定板（2）、U型推进杆（3）、滚针轴承（4）、滑槽（5）、限位顶针（6）和固定轴（7）组成，其特征在于：所述滑槽（5）为圆弧形，限位顶针（6）上端焊接在手柄扳手固定板（1）下方，下端塞在滑槽（5）中，直径略小于滑槽（5）的直径，只能在滑槽（5）中滑动；所述U型推进杆（3）开设有腰孔，腰孔套装在滚针轴承（4）上；所述滚针轴承（4）下端嵌套在固定轴（7）内孔中，上端略小于U型推进杆（3）的腰孔，只能在U型推进杆（3）的腰孔中沿U型推进杆（3）运动的垂直方向滑动。/n
【技术特征摘要】
1.一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，由手柄扳手（1）、手柄扳手固定板（2）、U型推进杆（3）、滚针轴承（4）、滑槽（5）、限位顶针（6）和固定轴（7）组成，其特征在于：所述滑槽（5）为圆弧形，限位顶针（6）上端焊接在手柄扳手固定板（1）下方，下端塞在滑槽（5）中，直径略小于滑槽（5）的直径，只能在滑槽（5）中滑动；所述U型推进杆（3）开设有腰孔，腰孔套装在滚针轴承（4）上；所述滚针轴承（4）下端嵌套在固定轴（7）内孔中，上端略小于U型推进杆（3）的腰孔，只能在U型推进杆（3）的腰孔中沿U型推进杆（3）运动的垂直方向滑动。
2.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：包智杰，赵坤岭，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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