本发明专利技术公开了一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统及方法，包括多个测试支路，测试支路包括TTL信号接口、指示灯一、上拉电阻、指示灯二、下拉电阻，所述指示灯一、指示灯二并联连接在TTL信号接口上；所述上拉电阻的一端与电源正极连接，而上拉电阻的另一端与指示灯一连接；所述下拉电阻的一端与接地端连接，而下拉电阻的另一端与指示灯一连接。本发明专利技术不仅调试方便、操作简单，而且能够信号批量检测降低劳动强度,同时能够降低成本。检测降低劳动强度,同时能够降低成本。检测降低劳动强度,同时能够降低成本。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统及方法
[0001]本专利技术涉及一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统及方法，属于半导体测试
技术介绍
[0002]现有半导体测试机检测方案多采用二种方法，一种是利用示波器来检测实际波形，另一种是直接连接分选机来进行信号的检测。
[0003]利用示波器的方案，因为示波器通道数量的限制，需要逐个勾选不同的信号线，来完成所有通道信号的检测，一般一台测试机至少有32个TTL信号，这就导致需要不停的去更换探棒测试点，造成测试时间会比较长，测试员会反复做很枯燥的动作，而且操作示波器以及看波形对于测试员也要求有一定的技术基础。
[0004]利用分选机检测，一方面分选机价格比较贵，另外因为设备本身的重量不方便挪动，对于量产过程中随时随地的检测造成了限制。
技术实现思路
[0005]专利技术目的：针对现有技术测试时间长、成本高的缺点，本专利技术提供一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统及方法，可实现快速完成此类信号的检测，本专利技术在保证测试功能的前提下，简化测试电路，减少测试时间，降低了测试成本。而且可以随时随地进行检测。
[0006]技术方案：为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，包括多个测试支路，测试支路包括TTL信号接口、指示灯一、上拉电阻、指示灯二、下拉电阻，所述指示灯一、指示灯二并联连接在TTL信号接口上；所述上拉电阻的一端与电源正极连接，而上拉电阻的另一端与指示灯一连接；所述下拉电阻的一端与接地端连接，而下拉电阻的另一端与指示灯一连接。
[0007]优选的：所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为高电压时，高电压的TTL信号电压与电源正极的电压相等；所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为低电压时，低电压的TTL信号电压与接地端的电压相等。
[0008]优选的：所述测试支路的支路数至少32个。
[0009]优选的：所述指示灯一、指示灯二均为发光二极管。
[0010]一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测方法，采用半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，包括以下步骤：步骤1，将测试机的不同管脚与不同的测试支路的TTL信号接口相连接；步骤2，如果测试机设置的是低电平有效，则默认情况下，TTL信号是高电压，高电压的TTL信号电压和电源正极的电压为同一个电压值，这种情况下，指示灯一是不亮的状态，而指示灯二是发光的状态；然后进入步骤3；步骤3，点击测试机软件上的发送按钮，测试机会发送一个低电平的TTL信号到TTL
信号接口上；低电平的TTL信号不能驱动接有下拉电阻的指示灯二，而能驱动上拉电阻的指示灯一，低电平的TTL信号就变成了接地端的电压，此时指示灯一就会处于发光的状态，而指示灯二就变成了灭的状态；通过检查指示灯一、指示灯二的状态变化，判定测试机的发送TTL信号低电平有效电路功能是否正确；步骤4，如果测试机设置的是高电平有效，则默认情况下，TTL信号是低电压，低电压的TTL信号电压和接地端的电压为同一个电压值，这种情况下，指示灯一就是发光的状态，而指示灯二是不亮的状态；然后进入步骤5；步骤5，点击测试机软件上的发送按钮，测试机会发送一个高电平的TTL信号到TTL信号接口上；高电平的TTL信号不能驱动接有上拉电阻的指示灯一，而能驱动下拉电阻的指示灯二，高电平的TTL信号就变成了电源正极的电压，此时指示灯一就变成了熄灭的状态，而指示灯二就变成发光的状态；通过检查指示灯一、指示灯二的状态变化，判定测试机的发送TTL信号高电平有效电路功能是否正确。
[0011]优选的：依次发送不同管脚的TTL信号，通过不同管脚对应的测试支路的指示灯一、指示灯二的状态变化来完成所有TTL信号的判定。
[0012]本专利技术相比现有技术，具有以下有益效果：本专利技术利用低电平的信号，不能驱动接有下拉电阻的信号灯，而能驱动上拉电阻的信号灯发光，来判定信号为低电平。利用高电平的信号，不能驱动接有上拉电阻的信号灯，而能驱动接着下拉电阻的信号灯发光，来判定信号为高电平。因此本专利技术不仅调试方便、操作简单，而且能够信号批量检测降低劳动强度,同时能够降低成本。
附图说明
[0013]图1为TTL信号检测示意图。
[0014]图2为本专利技术实施例的检测系统示意图。
具体实施方式
[0015]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本专利技术，应理解这些实例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围，在阅读了本专利技术之后，本领域技术人员对本专利技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
[0016]一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，如图1、2所示，包括多个测试支路，所述测试支路的支路数至少32个，支路数大于等于半导体测试机的TTL信号管脚数。如图1所示，测试支路包括TTL信号接口、指示灯一、上拉电阻、指示灯二、下拉电阻，所述指示灯一、指示灯二并联连接在TTL信号接口上。指示灯一、指示灯二均为发光二极管。所述上拉电阻的一端与电源正极连接，而上拉电阻的另一端与指示灯一连接。所述下拉电阻的一端与接地端连接，而下拉电阻的另一端与指示灯一连接。所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为高电压时，高电压的TTL信号电压与电源正极的电压相等。所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为低电压时，低电压的TTL信号电压与接地端的电压相等。
[0017]本专利技术利用低电平的信号，不能驱动接有下拉电阻的信号灯二，而能驱动上拉电阻的信号灯发光一，来判定信号为低电平；即图1中接着上拉电阻的指示灯一（正接的发光二极管）发光，而接下拉电阻的指示灯二（正接的发光二极管）熄灭，来判定TTL信号是低电
平信号（接近GND的电压）。
[0018]利用高电平的信号，不能驱动接有上拉电阻的信号灯一，而能驱动接着下拉电阻的信号灯发光二，来判定信号为高电平；即图1中接着上拉电阻的指示灯一（正接的发光二极管）熄灭，而接下拉电阻的指示灯二（正接的发光二极管）发光，来判定TTL信号是高电平信号（接近VCC的电压）。
[0019]一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测方法，采用半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，包括以下步骤：步骤1，将测试机的不同管脚与不同的测试支路的TTL信号接口相连接。
[0020]步骤2，如果测试机设置的是低电平有效，则默认情况下，TTL信号是高电压，高电压的TTL信号电压和电源正极的电压为同一个电压值，这种情况下，指示灯一是不亮的状态，而指示灯二是发光的状态。然后进入步骤3。
[0021]步骤3，点击测试机软件上的发送按钮，测试机会发送一个低电平的TTL信号到TTL信号接口上。低电平的TTL信号不能驱动接有下拉电阻的指示灯二，而能驱动上拉电阻的指示灯一，低电平的TTL信号就变成了接地端的电压，此时指示灯一就会处于发光的状态，而指示灯二就变成了灭的状态。通过检查指示灯一、指示灯二的状态变化，判定测试机的发送TTL信号低电平有效电路功能本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，其特征在于：包括多个测试支路，测试支路包括TTL信号接口、指示灯一、上拉电阻、指示灯二、下拉电阻，所述指示灯一、指示灯二并联连接在TTL信号接口上；所述上拉电阻的一端与电源正极连接，而上拉电阻的另一端与指示灯一连接；所述下拉电阻的一端与接地端连接，而下拉电阻的另一端与指示灯一连接。2.根据权利要求1所述半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，其特征在于：所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为高电压时，高电压的TTL信号电压与电源正极的电压相等；所述TTL信号接口输出的TTL信号电压为低电压时，低电压的TTL信号电压与接地端的电压相等。3.根据权利要求2所述半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，其特征在于：所述测试支路的支路数至少32个。4.根据权利要求3所述半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，其特征在于：所述指示灯一、指示灯二均为发光二极管。5.一种半导体测试机发送的通讯TTL电平检测方法，采用如权利要求2所述半导体测试机发送的通讯TTL电平检测系统，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将测试机的不同管脚与不同的测试支路的TTL信号接口相连接；步骤2，如果测试机设置的是低电平有效，则默认情况下，TTL信号是高电压，高电压的TTL信号电压和电源正极的电压为同一个电压值，这种情况下，指示灯一是不亮...
【专利技术属性】
技术研发人员：严六平，吕帅，毛国梁，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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