本实用新型专利技术公开了一种DB防呆装置，包括防呆座、端子、测试站，所述防呆座上设置有固定螺纹孔、防呆螺纹孔一、防呆螺柱一，所述防呆螺柱一用于安装在防呆螺纹孔一上；所述防呆座通过固定螺纹孔与端子固定连接；所述测试站上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二和防呆螺柱二，功能接口上的防呆螺柱二的安装位置与该功能接口功能相应的端子上的防呆螺柱一的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二的安装位置不同形成防呆结构。本实用新型专利技术可降低因插错导致设备损坏以及芯片测试数据混乱。低因插错导致设备损坏以及芯片测试数据混乱。低因插错导致设备损坏以及芯片测试数据混乱。
【技术实现步骤摘要】
一种DB防呆装置
[0001]本技术涉及一种半导体测试设备电源输出接口的防呆结构，属于半导体测试
技术介绍
[0002]目前设备单Site(测试站)测试效率较低不能满足生产的需求，且无法满足一些复杂元器件的测试，多站测试应运而生，但是多站测试带来的就是多组信号电源线的区分问题。
[0003]现在的硬件设计趋向于高集成度，多站更是如此，每站内部电源输出以及Signal(信号) 输出需要区分，站与站之间的电源/Signal输出也需要区分。
技术实现思路
[0004]技术目的：半导体测试设备在多Site使用过程中，操作人员线缆接错，轻则会引起测试失效，数据传输错误，重则导致设备高低压之间的短路，造成设备故障影响人身安全。本技术提供一种DB防呆装置，该装置能够避免不同site/功能接口相互插错，减少不必要的损失。
[0005]技术方案：为实现上述目的，本技术采用的技术方案为：
[0006]一种DB防呆装置，包括防呆座、端子、测试站，所述防呆座上设置有固定螺纹孔、防呆螺纹孔一、防呆螺柱一，所述防呆螺柱一的数目小于防呆螺纹孔一的数目，所述防呆螺柱一用于安装在防呆螺纹孔一上。所述防呆座通过固定螺纹孔与端子固定连接。所述测试站上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二和防呆螺柱二，所述防呆螺柱二用于安装在防呆螺纹孔二上，功能接口上的防呆螺柱二的安装位置与该功能接口功能相应的端子上的防呆螺柱一的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二的安装位置不同形成防呆结构。
[0007]优选的：螺丝穿过固定螺纹孔将防呆座与端子固定连接。
[0008]优选的：所述防呆座包括连接在一起的正面和侧面，所述正面和侧面相互垂直，所述防呆螺纹孔一开设于正面上，所述固定螺纹孔开设于侧面上。
[0009]优选的：所述防呆螺纹孔一的个数为3个以上。
[0010]优选的：所述防呆螺纹孔二的个数为3个以上。
[0011]优选的：所述防呆螺纹孔一与防呆螺纹孔二的排列形状一致。
[0012]优选的：所述防呆螺纹孔一的个数为4个。
[0013]优选的：所述防呆座采用金属制成。
[0014]本技术相比现有技术，具有以下有益效果：
[0015]1.可降低因插错导致设备损坏，芯片测试数据混乱以及高压造成人身安全问题。
[0016]2.接口简单，改动较少，成本较低。
[0017]3.使用方便，便于培训相关操作人员。
附图说明
[0018]图1为防呆座结构示意图。
[0019]图2为防呆座与端子结构示意图。
[0020]图3为测试站结构示意图。
具体实施方式
[0021]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本技术，应理解这些实例仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围，在阅读了本技术之后，本领域技术人员对本技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
[0022]一种DB防呆装置，如图1
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2所示，包括防呆座1、端子2、测试站3，所述防呆座1上设置有固定螺纹孔11、防呆螺纹孔一12、防呆螺柱一13。所述防呆螺纹孔一12的个数为4 个，在本技术的另一实施例中，所述防呆螺纹孔一12的个数为3个。在本技术的又另一实施例中，所述防呆螺纹孔一12的个数为7个。所述防呆座1采用金属制成。所述防呆座1通过固定螺纹孔11与端子2固定连接，所述防呆座1包括连接在一起的正面和侧面，所述正面和侧面相互垂直，所述防呆螺纹孔一12开设于正面上，所述固定螺纹孔11开设于侧面上。螺丝穿过固定螺纹孔11将防呆座1与端子2固定连接。所述防呆螺柱一13的数目小于防呆螺纹孔一12的数目，所述防呆螺柱一13用于安装在防呆螺纹孔一12上。如图3所示，所述测试站3上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二32和防呆螺柱二33，所述防呆螺纹孔一 12与防呆螺纹孔二32的排列形状一致。所述防呆螺柱二33用于安装在防呆螺纹孔二32上，功能接口上的防呆螺柱二33的安装位置与该功能接口功能相应的端子2上的防呆螺柱一13 的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二33的安装位置不同形成防呆结构。
[0023]我们根据测试线缆的DB37金属接头尺寸设计了金属防呆座1，并根据需求进行开大小为 M3具有内螺纹的防呆螺纹孔一12以及固定螺纹孔11。防呆座1与DB37端子连接的整体再与测试盒(测试站3)HD
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ANA及HD
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SIG接口连接。
[0024]如图3所示，我们在测试盒的HD
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ANA以及HD
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SIG接口上方打四个平行且大小为M3具有内螺纹的小孔作为防呆螺纹孔二32，拿测试一站举例：1站的HD
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ANA防呆螺柱二33固定在第一个小孔的位置，那相对于的连接线缆防呆座剩余三个大小为M3具有内螺纹的小孔处固定 3个防呆螺柱一13，这样可以两头可以完美契合。在连接同一个测试站不同功能的接口如 HD
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ANA以及HD
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SIG时，也需要注意，因都为DB37母头，所以防呆需要错开，因此在HD
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ANA 防呆螺柱固定在第一个小孔的情况下避免插错，我们HD
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SIG的方案将防呆螺柱与HD
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ANA错开，固定在第二个防呆螺纹孔二32，这样可以避免相同Site的电源与信号线缆的接错。
[0025]在确定了一个Site的防呆方案后，以此类推，Site2的HD
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ANA以及HD
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SIG接口分别在第二个防呆螺纹孔二32位置和第三个防呆螺纹孔二32位置防止防呆螺柱；Site3的HD
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ANA 以及HD
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SIG接口分别在第三个防呆螺纹孔二32位置和第四个防呆螺纹孔二32位置防止防呆螺柱；Site4的HD
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ANA以及HD
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SIG接口分别在第四个防呆螺纹孔二32位置和第一个防呆螺纹孔二32位置防止防呆螺柱，最终完成四站不同功能信号的一一对应的防呆方案的。
[0026]本技术将防呆座正面开孔，通过螺丝与Anolog
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in/Signal线缆的DB37金属端
子固定。将防呆座的侧面开大小为M3具有内螺纹孔，通过螺柱与测试站正面开的孔契合。每站的防呆，防呆座螺柱与测试站开孔一一对应(例如1站对应1孔位置以此类推)。测试线缆与测试盒按照防呆方案对应连接，即可完成。在现有的测试设备电源/Signal输出端子上方加装防呆座，且在端子上方钻孔，防呆座与防呆孔通过螺柱来配合区分不同site,大大减少了测试设备接线错误导致的问题。成本较低，简单高效，安全系数提高。
[0027]以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出：对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种DB防呆装置，其特征在于：包括防呆座(1)、端子(2)、测试站(3)，所述防呆座(1)上设置有固定螺纹孔(11)、防呆螺纹孔一(12)、防呆螺柱一(13)，所述防呆螺柱一(13)的数目小于防呆螺纹孔一(12)的数目，所述防呆螺柱一(13)用于安装在防呆螺纹孔一(12)上；所述防呆座(1)通过固定螺纹孔(11)与端子(2)固定连接；所述测试站(3)上的功能接口上设置有防呆螺纹孔二(32)和防呆螺柱二(33)，所述防呆螺柱二(33)用于安装在防呆螺纹孔二(32)上，功能接口上的防呆螺柱二(33)的安装位置与该功能接口功能相应的端子(2)上的防呆螺柱一(13)的安装位置相互匹配，不同功能的功能接口上的防呆螺柱二(33)的安装位置不同形成防呆结构。2.根据权利要求1所述DB防呆装置，其特征在于：螺丝穿过...
【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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