一种用于ATE的信号处理电路制造技术

本发明专利技术公开一种用于ATE的信号处理电路，属于电路测试技术领域。该信号处理电路包括仪表放大器、基准源和继电器；其中，所述基准源的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器的正输入端IN+；所述继电器一端接所述基准源的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器的负输入端IN‑；所述仪表放大器的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压Vout，参考电压REF接地GND，负电源端VS‑接负电压。使用时只需将仪表放大器的负输入端IN‑接到待测电路的输出端，输出端VOUT接入ATE的测试通道，编写程序读出测量值即可。利用精密仪器测量需要1秒以上的时间，而本发明专利技术测试时间为10毫秒级别，大大提高了测试效率，满足批量生产的需要。

A signal processing circuit for ate

【技术实现步骤摘要】
一种用于ATE的信号处理电路
本专利技术涉及电路测试
，特别涉及一种用于ATE的信号处理电路。
技术介绍
ATE(AutomaticTestEquipment，自动测试系统)是集成电路大规模生产测试环节必需的系统设备，由于ATE中的测试板卡的固定误差和随机测试误差，每一个电压测量值都有一定的偏差，基本上量程越大误差越大。常规ATE的电压测试精度都在0.1％左右，最小量程为1V，最高精度为1mV左右，如果要测试精度要求较高的基准电压，就需要借助高精度的外接设备。但是，由于外接设备和ATE的通信需要较长时间，这就会降低测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于ATE的信号处理电路，以解决目前在测试精度要求较高的基准电压时，由于外接设备和ATE的通信需要较长时间，导致测试效率降低的问题。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种用于ATE的信号处理电路，连接在待测电路和ATE之间，该信号处理电路包括仪表放大器、基准源和继电器；其中，所述基准源的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器的正输入端IN+；所述继电器一端接所述基准源的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器的负输入端IN-；所述仪表放大器的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压Vout，参考电压REF接地GND，负电源端VS-接负电压。可选的，所述用于ATE的信号处理电路还包括电容C1～C3和电阻RL；所述电容C1一端接地GND，另一端接所述仪表放大器的正电源端VS+；所述电容C2一端接地GND，另一端接所述仪表放大器的负电源端VS-；所述电容C3一端接地GND，另一端接所述基准源的输入端IN；所述电阻RL一端接地GND，另一端接所述仪表放大器的输出端OUT。可选的，所述电容C1、所述电容C2和所述电容C3的电容量相等。可选的，所述仪表放大器的负输入端IN-接所述待测电路的输出端。可选的，所述基准源的基准电压Vref＝2.5V。可选的，所述仪表放大器的固定增益为100倍。可选的，所述基准源的地端接地GND。在本专利技术中提供了一种用于ATE的信号处理电路，连接在待测电路和ATE之间，该信号处理电路包括仪表放大器、基准源和继电器；其中，所述基准源的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器的正输入端IN+；所述继电器一端接所述基准源的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器的负输入端IN-；所述仪表放大器的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压Vout，参考电压REF接地GND，负电源端VS-接负电压。本专利技术提供的用于ATE的信号处理电路使用时只需将仪表放大器的负输入端IN-接到待测电路的输出端，输出端VOUT接入ATE的测试通道，编写程序读出测量值即可。利用精密仪器测量需要1秒以上的时间，而本专利技术测试时间为10毫秒级别，大大提高了测试效率，满足批量生产的需要。附图说明图1是本专利技术提供的用于ATE的信号处理电路结构示意图；图2是用于ATE的信号处理电路的使用原理示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出的一种用于ATE的信号处理电路作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。实施例一本专利技术提供了一种用于ATE的信号处理电路，其结构如图1所示，包括仪表放大器U1、基准源U2和继电器k1；其中，所述基准源U2的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器U1的正输入端IN+，地端接地GND；所述继电器k1一端接所述基准源U2的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器U1的负输入端IN-；所述仪表放大器U1的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压VOUT，参考电压端REF接地GND，负电源端VS-接负电压。具体的，所述用于ATE的信号处理电路还包括电容C1～C3和电阻RL；所述电容C1一端接地GND，另一端接所述仪表放大器U1的正电源端VS+；所述电容C2一端接地GND，另一端接所述仪表放大器U1的负电源端VS-；所述电容C3一端接地GND，另一端接所述基准源U2的输入端IN；所述电阻RL一端接地GND，另一端接所述仪表放大器U1的输出端OUT。优选的，所述电容C1、所述电容C2和所述电容C3的电容量相等。在本实施例中，所述基准源U2的基准电压Vref＝2.5V，所述仪表放大器的固定增益为100倍，所述电容C1、所述电容C2和所述电容C3的电容量均为0.1μF，所述电阻RL的阻值为10KΩ；进一步的，上述所指正电压均为+5V，负电压均为-5V。本专利技术提供的用于ATE的信号处理电路的使用框图如图2所示，所述信号处理电路通过引入一个经过精密仪器校准过的外部基准信号，将其与待测电路输出的电压信号VIN进行差分运算，运算结果经过固定增益放大后接入ATE进行测试，测试结果经过公式反推可得到电压信号VIN的测量值。所述继电器k1用于消除仪表放大器U1的失调电压对待测信号的影响，在待测电路上电之前闭合所述继电器k1，此时仪表放大器U1的输入信号的共模电压为2.5V，差模电压为0V，输出电压VOUT即为输出失调电压VOS；再断开继电器k1，给待测电路上电，仪表放大器的输入信号就变成了待测电路输出的电压信号VIN(即待测信号)和基准源U2输出电压Vref的差值，此时仪表放大器的输出电压为VOUT，计算结果时将失调电压VOS考虑进去，所以得出待测电路输出的电压信号VIN计算公式为：VIN＝Vref-(VOUT-VOS)/100Vref通过精密仪器测量基准源U2得到，电压精度可达1μV，VOUT和VOS都是ATE(自动测试系统)的测试值，由公式可知VOUT和VOS的测量误差减小到系统测量误差的1％，1mV的测量精度可以提高到10μV。本专利技术提供的用于ATE的信号处理电路使用时只需将仪表放大器的负输入端IN-接到待测电路的输出端，输出端VOUT接入ATE(自动测试系统)的测试通道，编写程序读出测量值即可。利用精密仪器测量需要1秒以上的时间，而本专利技术测试时间为10毫秒级别，大大提高了测试效率。上述描述仅是对本专利技术较佳实施例的描述，并非对本专利技术范围的任何限定，本专利
的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于ATE的信号处理电路，连接在待测电路和ATE之间，其特征在于，该信号处理电路包括仪表放大器、基准源和继电器；其中，/n所述基准源的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器的正输入端IN+；/n所述继电器一端接所述基准源的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器的负输入端IN-；/n所述仪表放大器的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压Vout，参考电压REF接地GND，负电源端VS-接负电压。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于ATE的信号处理电路，连接在待测电路和ATE之间，其特征在于，该信号处理电路包括仪表放大器、基准源和继电器；其中，
所述基准源的输入端IN接正电压，输出端OUT接所述仪表放大器的正输入端IN+；
所述继电器一端接所述基准源的输出端OUT，另一端接所述仪表放大器的负输入端IN-；
所述仪表放大器的正电源端VS+接正电压，输出端VOUT输出电压Vout，参考电压REF接地GND，负电源端VS-接负电压。


2.如权利要求1所述的用于ATE的信号处理电路，其特征在于，所述用于ATE的信号处理电路还包括电容C1～C3和电阻RL；
所述电容C1一端接地GND，另一端接所述仪表放大器的正电源端VS+；
所述电容C2一端接地GND，另一端接所述仪表放大器的负电源端VS-；
所述电容C3一端接地...

【专利技术属性】
技术研发人员：程法勇，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32