【技术实现步骤摘要】
一种开关以及开关线路的自动检测方法及装置
本专利技术涉及车辆电路检测
，尤其涉及一种开关以及开关线路的自动检测方法及装置。
技术介绍
为了保证车辆驾驶的安全，不管是二轮车，还是四轮车，均需要对各开关以及整个开关线路进行检测，检测开关是否失效，或者当开关失效时，是开关故障原因，还是线路故障原因，均要求能检测出来，方便技术人员快速准确的故障定位，进行维修。目前常见检测技术可以检测到开关失效，但是，对开关内部触点接触电阻过大、进液体等，等均不好自动识别出来；同时，也不能自动识别出是线路损坏，还是开关故障；就是能识别出来，要另外加识别线成本较高；另外，常见识别开关好坏的方法也有用AD转换原理来识别，但是非常占用CPU的时间，而且不能极时响应开关动作信息。
技术实现思路
为克服现有技术存在的缺陷，本专利技术实施例提供一种开关以及开关线路的自动检测方法及装置，能够自动检测开关故障或者开关线路故障，提高故障检测效率。一方面，本专利技术实施例提供一种开关以及开关线路的自动检测方法，包括以下步骤：
【技术保护点】
1.一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1，轻触开关检测时，分压电阻R1的两个接脚分别与所述开关的两个接脚相关联；/nS2，INT脚连接到MCU并产生高低电平中断变化；所述INT为连接到MCU的信号输入中断脚，所述MCU内配置弱下拉电阻R3和强上拉电阻R4分别与INT脚和AD接脚对应连接；/nS3，所述MCU通过所述开关轻触前和轻触时AD接脚电压来判断开关的状态。/n
【技术特征摘要】
1.一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，轻触开关检测时，分压电阻R1的两个接脚分别与所述开关的两个接脚相关联；
S2，INT脚连接到MCU并产生高低电平中断变化；所述INT为连接到MCU的信号输入中断脚，所述MCU内配置弱下拉电阻R3和强上拉电阻R4分别与INT脚和AD接脚对应连接；
S3，所述MCU通过所述开关轻触前和轻触时AD接脚电压来判断开关的状态。
2.根据权利要求1所述的一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，所述分压电阻R1的选型方式满足：
VDD>R1\(R1+R2+R4)*VDD-0.3V>2.2V
其中，所述VDD为工作电压，0.3V二极管D1的常规压降，所述锗型二极管D1负极与所述INT脚输入端连接，分压电阻R2的输出端与所述AD接脚输入端连接。
3.根据权利要求2所述的一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，所述分压电阻R2的选型方式满足：
IuA<(VDD-0.3V)*(R1+R2)/(R2+R4+R1)<ImA
其中，所述ImA指的MCU的IO脚通过的最大电流，0.3V为二极管D2的常规压降，所述二极管D2为锗型二极管，所述二极管D2正极连接所述分压电阻R2的输入端；所述二极管D2负极连接二极管D1的正极；所述IuA指的是MCU模数转换时的最小电流。
4.根据权利要求3所述的一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，所述AD接脚的电压VAD计算公式：
VAD＝VDD*(R1+R2)/(R1+R2+R4)；
计算记录正常状态和检测时所述开关轻触前和轻触时的AD接脚的电压VAD。
5.根据权利要求4所述的一种开关以及开关线路的自动检测方法，其特征在于，轻触所述开关检测时，所述AD接脚的电压VAD与工作电压VDD相等，表示所述开关断路；
所述开关检测之前或所述开关检测时，所述AD接脚的电压VAD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关被氧化；
所述开关检测之前，检测记录所述AD接脚的电压VAD范围在正常状态下开关检测前AD接脚电压和正常状态下开关检测时AD接脚电压之间时，表示开关或者开关线路上有液体浸入。
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【专利技术属性】
技术研发人员：苏晓聪，朱敦尧，吴新祥，车清龙，陈辉，程敏，张俊，潘兵，雷激光，陈程，
申请(专利权)人：武汉光庭科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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