一种量子芯片测试线路集成装置制造方法及图纸

本新型属于量子芯片测试领域，具体公开了一种量子芯片测试线路集成装置，其包括：多路量子芯片测试线路，各路所述量子芯片测试线路均集成设置在一对应PCB板上；封装体，内部开设有平行排列且相互独立的封装槽，各所述封装槽分别用于封装一路所述量子芯片测试线路，各所述量子芯片测试线路沿对应的所述封装槽的长度方向布置，且各所述封装槽的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽的盖板。本新型能够克服现有技术中商用器件组件的测试线路体积大、空间利用率低、可靠性低、信号串扰等问题。

An integrated device for measuring circuit of quantum chip

【技术实现步骤摘要】
一种量子芯片测试线路集成装置
本新型属于量子芯片测试领域，特别是一种量子芯片测试线路集成装置。
技术介绍
量子芯片测试线路用于测试和控制量子芯片，对量子芯片所需信号及输出信号进行一定的处理。当前的量子芯片测试线路中，使用了大量商用器件，这些商用器件之间通过同轴线或者其它传输线实现物理连接以组件量子芯片测试线路。采用商用器件的量子芯片测试线路存在以下缺陷和不足：1.这些商用器件具有独立的封装结构和接口，自身体积较大，形状各异。使用这些商用器件搭建量子芯片测试线路时会遇到占用体积大，空间利用率低的问题。2.测试线路中，商用器件之间的连接使用了同轴线或者其它传输线，会存在连接节点可靠性问题，测试线路的损坏风险上升，整体可靠性降低。3.测试线路上难免会出现信号的泄露，泄露的信号会影响到附近的其它测试线路，相互作用之后，测试线路上的指标性能会出现偏差，影响整个系统的正常运行。
技术实现思路
本新型的目的是提供一种量子芯片测试线路集成装置，以解决现有技术中的不足，它能够克服现有技术中商用器件组件的测试线路体积大、空间利用率低、可靠性低、信号串扰等问题。本新型采用的技术方案如下：一种量子芯片测试线路集成装置，其中，所述量子芯片测试线路集成装置包括：多路量子芯片测试线路，各路所述量子芯片测试线路均集成设置在一对应PCB板上；封装体，内部开设有平行排列且相互独立的封装槽，各所述封装槽分别用于封装一路所述量子芯片测试线路，各所述量子芯片测试线路沿对应的所述封装槽的长度方向布置，且各所述封装槽的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽的盖板。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述量子芯片测试线路包括：功能电路，集成设置在所述PCB板上；元器件，通过设置在所述PCB板上的焊盘集成设置在所述PCB板上；所述功能电路和所述元器件通过设置在所述PCB板上的微带连接线电连接。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述功能电路为带通滤波器时，所述功能电路包括：沿所述PCB板的长度方向依次倾斜设置的耦合传输线，其中，第2N条耦合传输线和第2N-1条耦合传输线平行耦合，第2N条耦合传输线和第2N+1条耦合传输线首尾连接；N为≥1的正整数。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，各所述耦合传输线整体呈中心对称排布。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述功能电路为带通滤波器时，所述功能电路还包括：输入馈线，设置在所述PCB板长度方向的一端，连接排布在所述PCB板长度方向一端部的一所述耦合传输线的端部；输出馈线，设置在所述PCB板长度方向的另一端，连接排布在所述PCB板长度方向另一端部的一所述耦合传输线的端部。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述功能电路为带通滤波器时，所述功能电路还包括：低通滤波部，用于低通滤波，设置在所述PCB板上布置所述输出馈线的一端，并连接所述输出馈线。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述低通滤波部包括多条微带线；各所述微带线沿所述PCB板的长度方向依次设置在所述PCB板上，并依次首尾连接。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述量子芯片测试线路集成装置还包括：设置在所述封装体的两相对侧，分别连接各路所述量子芯片测试线路两端的连接器。如上所述的量子芯片测试线路集成装置，其中，优选的是，所述封装体的与所述封装槽的槽口相对的侧面上设置有散热器安装孔。与现有技术相比，本新型相比现有技术，采用把每路量子芯片测试线路均集成在一对应的PCB板上，减少了量子芯片控制系统中测试线路的体积，降低了量子芯片控制系统中测试线路的空间占用率。另外，每路量子芯片测试线路均集成在一对应的PCB板上，通过PCB板上的布线实现每路量子芯片测试线路相关的器件之间的连接，减少了每路量子芯片测试线路相关的器件之间的接口连接的存在，提高了测线线路的可靠性和稳定性；再者，集成有一路量子芯片测试线路的各PCB板被封装在封装体内预设的平行排列且相互独立的封装槽内，各量子芯片测试线路之间通过相邻封装槽之间的槽壁隔离开来，降低了相邻量子芯片测试线路之间的信号串扰影响。附图说明图1是本实施例提供的量子芯片测试线路集成装置不带盖板的结构示意图；图2是本实施例提供的量子芯片测试线路集成装置带盖板的结构示意图；图3是一路量子芯片测试线路结构示意图；图4是本实施例提供的量子芯片测试线路集成装置设置散热装置安装孔的一侧结构示意图；附图标记说明：1-量子芯片测试线路，2-封装体，3-封装槽，4-连接器，5-盖板，6-散热器安装孔，11-PCB板，12-功能电路，121-耦合传输线，122-微带线，13-微带连接线，14-焊盘。具体实施方式下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本新型，而不能解释为对本新型的限制。图1是本实施例提供的量子芯片测试线路集成装置不带盖板的结构示意图；图2是本实施例提供的量子芯片测试线路集成装置带盖板的结构示意图；请参阅图1和图2所示，本新型的实施例提供了一种量子芯片测试线路集成装置，包括多路量子芯片测试线路1和封装体2。每一路量子芯片测试线路1用于实现一路量子信号的测试，每一路所述量子芯片测试线路1被集成设置在一对应PCB板11上。封装体2被设置用于封装量子芯片测试线路1，在具体实施时，在封装体2内部开设有平行排列且相互独立的封装槽3，各所述封装槽3分别用于封装一路所述量子芯片测试线路1，因此封装槽3的数量大于等于量子芯片测试线路1的数量，以保证每路量子芯片测试线路1是单独封装在一个封装槽3内，各所述量子芯片测试线路1沿对应的所述封装槽3的长度方向布置，且各所述封装槽3的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽3的盖板5。需要说明的是，为实现所述封装槽3的槽口处嵌装有用于密封该所述封装槽3的盖板5，设置封装槽3为台阶型槽，所述台阶型槽即槽的侧壁上设置有台阶，在盖板5安装时，盖板5可以借助台阶型槽嵌装在封装槽3内，该设置避免了相邻封装槽3在槽口处存在连通间隙的情况，进而降低了相邻封装槽3内的量子芯片测试线路1存在信号串扰情况的风险。在实施的时候，可以结合盖板5的厚度合理设置台阶型槽内的台阶高度，以使得盖板5嵌装在封装槽3内之后，其表面正好与封装体2整体齐平，保证了整体结构的整齐、美观。本实施例中，采用把每路量子芯片测试线路1均集成在一对应的PCB板11上，减少了量子芯片控制系统中测试线路的体积，降低了量子芯片控制系统中测试线路的空间占用率。另外，每路量子芯片测试线路1均集成在一对应的PCB板11上，通过PCB板11上的布线实现每路量子芯片测试线路1相关的器件之间的连接，减少了每路量子芯片测试线路1相关的器件之间的接口连接的存在，提高了测线线路的可靠性和稳定性；再者，集成有一路量子芯片测试线路的各PCB板11被封装在封装体2内预设的平本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种量子芯片测试线路集成装置，其特征在于，所述量子芯片测试线路集成装置包括：/n多路量子芯片测试线路(1)，各路所述量子芯片测试线路(1)均集成设置在一对应PCB板(11)上；/n封装体(2)，内部开设有平行排列且相互独立的封装槽(3)，各所述封装槽(3)分别用于封装一路所述量子芯片测试线路(1)，各所述量子芯片测试线路(1)沿对应的所述封装槽(3)的长度方向布置，且各所述封装槽(3)的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽(3)的盖板(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种量子芯片测试线路集成装置，其特征在于，所述量子芯片测试线路集成装置包括：
多路量子芯片测试线路(1)，各路所述量子芯片测试线路(1)均集成设置在一对应PCB板(11)上；
封装体(2)，内部开设有平行排列且相互独立的封装槽(3)，各所述封装槽(3)分别用于封装一路所述量子芯片测试线路(1)，各所述量子芯片测试线路(1)沿对应的所述封装槽(3)的长度方向布置，且各所述封装槽(3)的槽口处均嵌装有用于密封该所述封装槽(3)的盖板(5)。


2.根据权利要求1所述的量子芯片测试线路集成装置，其特征在于，所述量子芯片测试线路包括：
功能电路(12)，集成设置在所述PCB板(11)上；
元器件，通过设置在所述PCB板(11)上的焊盘(14)集成设置在所述PCB板(11)上；
所述功能电路(12)和所述元器件通过设置在所述PCB板(11)上的微带连接线(13)电连接。


3.根据权利要求2所述的量子芯片测试线路集成装置，其特征在于，所述功能电路(12)为带通滤波器时，所述功能电路(12)包括：
沿所述PCB板(11)的长度方向依次倾斜设置的耦合传输线(121)，其中，第2N条耦合传输线(121)和第2N-1条耦合传输线(121)平行耦合，第2N条耦合传输线(121)和第2N+1条耦合传输线(121)首尾连接；N为≥1的正整数。


4.根据权利要求3所述的量子芯片测试线路集成装置，其特征在于，各所述耦合传输线(121)整体呈...

【专利技术属性】
技术研发人员：李松，孔伟成，程帅，赵泽方，陈华鹏，丁文举，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34