测量设备和测量方法技术

本发明专利技术提供测量设备和测量方法。本发明专利技术涉及通过包括射频透镜的测量设备进行射频信号的测量，其中的射频透镜用于将反射器的顶点映射到虚拟顶点。因此，可以在反射器的顶点或者在借助射频透镜生成的虚拟顶点执行射频信号的测量。

Measuring equipment and methods

The invention provides a measuring device and a measuring method. The invention relates to the measurement of radio frequency signal by a measuring device including a radio frequency lens, wherein the radio frequency lens is used for mapping the vertex of a reflector to a virtual vertex. Therefore, the measurement of the RF signal can be performed at the vertex of the reflector or at the virtual vertex generated by the RF lens.

【技术实现步骤摘要】
测量设备和测量方法
本专利技术涉及测量设备。本专利技术还涉及测量方法。
技术介绍
虽然理论上适用于任何无线测量设备，但是此后将结合无线通信设备的测试来描述本专利技术及其潜在的问题。随着高速无线数据通信的进步，用于电子设备之间的通信的无线通信系统的使用持续增多。用于这样的通信系统的设备的开发或生产中，有必要针对符合通信标准和法规对这些设备进行全面地测试。为此，测试无线通信设备可以包括分析无线通信设备的射频发射。在一些情况下，通信设备可以不只发射一个或多个期望频率或频率范围相关的无线信号。而且，还可能由于谐波或任何其他原因，还发射不需要的射频发射。这样不需要的射频发射可以表示为杂散发射(spuriousemission)。例如，针对ITU-RSM.329-7的提议中讨论的杂散发射。为了在测试无线设备时测量杂散发射，可能期望执行无线设备的带中(in-band)信号的窄带测量和杂散发射的宽带测量。在该背景下，本专利技术解决的问题是提供无线设备的多用途且简单的测量。
技术实现思路
本专利技术利用具有独立权利要求的特征的测量设备和测量方法来解决该问题。另外的实施例是从属权利要求的主题。根据第一方面，提供了一种用于测量射频信号的测量设备。测量设备包括反射器、射频透镜和第一天线。反射器适于将射频信号聚焦到反射器的预定顶点。第一天线适于接收射频信号和/或发射射频信号。特别地，第一天线布置在反射器的顶点以外。射频透镜布置在反射器的顶点与第一天线之间，特别是第一天线的相位中心。根据第二方面，提供了一种用于测量射频信号的测量方法。测量方法包括通过第一天线接收射频信号和/或通过第一天线发射射频信号的步骤。第一天线布置在反射器的顶点以外，其中反射器将射频信号聚焦到该顶点。另外，射频透镜布置在反射器的顶点与第一天线之间，特别是第一天线的相位中心。本专利技术基于以下事实：测量射频信号，尤其是为了测试无线设备而测量射频信号可能需要测量与窄频带相关的带中信号，并且还测量其他的信号，例如与宽频带范围相关的杂散发射等。因此，不同类型的天线可以用于测量窄频带相关的信号，以及宽频率范围相关的信号。然而，当通过多于一个的数量的天线来测量射频信号时，单个天线必须位于不同的空间位置。可替换地，不同的天线可以依次位于测量射频信号的相同空间位置。测量设备中的这样的变型需要用于绕所有天线移动的复杂系统。因此，本专利技术的思想是提供一种能够测量射频信号的测量设备，特别是在反射器的预定顶点处的射频信号，其中单个天线可以位于不同的空间位置。特别地，本专利技术的思想是在测量设备中使用附加的射频透镜。这样的射频透镜可以将反射器的顶点映射到不同空间位置处的虚拟顶点。因此，附加的天线可以位于由射频透镜提供的相应虚拟顶点处。反射器可以是适合反射射频信号的任何种类的反射器。例如，反射器可以是抛物线或圆柱形。然而，还可以是用于将射频波聚焦到预定顶点的任何其他形状的反射器。顶点可以位于例如反射器的中心，或者位于反射器中心以外的位置。射频透镜可以是适合反射射频信号的电磁波的设备。特别地，射频透镜可以具有预定焦点。因此，反射器的顶点与射频透镜之间的距离，以及射频透镜与天线之间的距离，特别是天线的相位中心，可以根据射频透镜的焦点来设置。射频透镜可以包括用于反射射频波的任何适当的材料。此外，射频透镜的尺寸和形状可以适用于测量设备的期望性质。第一天线可以是足以执行所需测量的任何类型的天线。特别地，天线的带宽根据期望的测量要求来调整。例如，可以选择只有几千赫兹(kHz)或兆赫兹(MHz)的窄带宽的天线用于测量带中信号。可替换地，可以选择数千赫兹、兆赫兹或甚至千兆赫兹带宽的天线用于测量宽带信号，如杂散发射。因此，可以根据期望的测量要求来选择天线的类型。天线还可以包括用于连接测量线缆或直接连接至测量设备的连接器。利用上述测量设备、天线，特别是天线的相位中心可以位于反射器的顶点以外的空间位置。借助射频透镜，反射器的顶点可以映射到虚拟顶点，尤其是天线的相位中心处的虚拟顶点。因此，即使天线位于反射器的顶点以外的空间位置，天线也可以测量由反射器聚焦的射频信号。本专利技术的其它实施例是参考附图的其它从属权利要求和以下描述的主题。在可能的实施例中，射频透镜适于将第一天线的波束过焦(over-focus)。特别地，第一天线的相位中心可以过焦至反射器的顶点。通过这种方式，创建反射器的虚拟顶点。反射器的顶点与借助射频透镜创建的虚拟顶点之间的距离可以取决于射频透镜的焦点。通过这种方式，反射器的顶点可以移位到另一空间位置，因此天线可以位于反射器的顶点以外的空间位置。因此，反射器的顶点仍能够使用，例如用于通过附加的射频传感器进行的另外测量。在可能的实施例中，第一天线安装在相对于反射器的固定位置。此外，射频透镜也可以安装在固定位置。特别地，第一天线可以位于由射频透镜创建的虚拟顶点处。因此，可以借助简单的安装结构将射频透镜和第一天线安装在固定的位置。这样的固定安装结构能够易于以低加工成本来实现。然而，反射器的顶点仍能够用于另外的测量目的。在替换的实施例中，测量设备还包括机械定位结构。机械定位结构可以适用于搭载第一天线。另外，机械定位结构可以将第一天线四处移动。通过这种方式，可以将第一天线远离虚拟顶点移动。因此，甚至可以为了另外的测试目的，将第一天线替换为另一天线。在可能的实施例中，机械定位结构可以适于将第一天线移动到反射器的顶点。通过将天线移动到反射器顶点的空间位置，可以在对射频透镜没有任何影响的情况下执行替换的测量。因此，可以提高测量的灵活性。在可能的实施例中，反射器可以是紧凑天线测试范围(CATR)的反射器。CATR是包括反射器的公知天线结构。因此，通过将CATR结构与用于生成反射器的虚拟顶点的射频透镜进行组合，能够实现非常灵活的测量设备。在可能的实施例中，测量设备还包括第二天线和可移动天线载体。可移动天线载体可以适于搭载第二天线并且绕第二天线移动。特别地，第二天线可以移动到第一位置，使得第二天线位于反射器的顶点。可替换地，第二天线可以移动到第二位置，使得第二天线位于反射器的顶点以外。因此，当将第二天线移动到反射器的顶点时，可以通过第二天线来执行射频信号的测量。即使不必绕第一天线和射频透镜移动，也能够借助第二天线执行这样的测量。此外，通过简单地将第二天线从反射器的顶点移开时，可以通过第一天线来执行射频测量。通过这种方式，能够实现用于通过第一天线或通过第二天线替换地测量射频信号的非常简单的配置。可移动天线载体和/或机械定位结构例如可以包括导轨或轨道，以及搭载相应天线的滑块。可移动测试天线载体和/或机械定位结构还可以包括带有轮子的滑块或者仅仅是机械保持设备，该机械保持设备未固定到地面因此可以被携带到所需位置。在可能的实施例中，第一天线和/或第二天线可以包括喇叭天线。喇叭天线是非常适合在预定的相位中心处测量射频信号的天线。然而，应当理解的是，任何其他种类的天线，例如本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量射频信号的测量设备(100)，包括：/n反射器(10)，其适于将射频信号聚焦到所述反射器(10)的预定顶点(V)；/n第一天线(30)，其适于接收射频信号和/或发射射频信号，所述第一天线(30)布置在所述反射器(10)的顶点(V)以外；以及/n射频透镜(20)，其布置在所述反射器(10)的顶点(V)与所述第一天线(30)之间。/n

【技术特征摘要】
20180525 EP 18174219.81.一种用于测量射频信号的测量设备(100)，包括：
反射器(10)，其适于将射频信号聚焦到所述反射器(10)的预定顶点(V)；
第一天线(30)，其适于接收射频信号和/或发射射频信号，所述第一天线(30)布置在所述反射器(10)的顶点(V)以外；以及
射频透镜(20)，其布置在所述反射器(10)的顶点(V)与所述第一天线(30)之间。


2.根据权利要求1所述的测量设备(100)，其中所述射频透镜(20)适于将所述第一天线(30)的波束过焦到所述反射器(10)的顶点(V)。


3.根据权利要求1或2所述的测量设备(100)，其中所述第一天线(30)安装在相对于所述反射器(10)的固定位置。


4.根据权利要求1或2所述的测量设备(100)，包括机械定位结构(35)，其适于搭载所述第一天线(30)并且绕所述第一天线(30)移动。


5.根据权利要求4所述的测量设备(100)，其中所述机械定位结构(35)适于将第一天线(30)移动到所述反射器(10)的顶点(V)。


6.根据权利要求1至5中的任一项所述的测量设备(100)，其中所述反射器(10)是紧凑型天线测试范围的反射器。


7.根据权利要求1到6中的任一项所述的测量设备(100)，包括：
第二天线(40)；以及
可移动天线载体(45)，其适于搭载所述第二天线(40)并且将所述第二天线(40)移动到第一位置，使得所述第二天线(40)位于所述反射器(10)的顶点(V)，或者将所述第二天线(40)移动到第二位置，使得所述第二天线(40)位于反射器(10)的顶点(V)以外。

【专利技术属性】
技术研发人员：科比特·罗威尔，樊尚·阿巴迪，亚当·坦基伦，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE