The invention discloses a manual test base with an upper slider structure, including a test base and an upper cover, the upper cover is hinged on one side of the test base and can be turned and pressed with the test base, the test base is provided with a floating plate structure, the floating plate structure is provided with a chip slot, the upper cover is provided with a slide block in the middle through the slide slot at the side, the middle of the slide block is rotated through the press plate slot, and the press plate is provided When the upper cover is pressed, the plate is directly opposite to the chip slot, the pressing plate slot is provided with a retaining tongue to make the pressing plate tilt, and the upper and lower sides of the slide block are symmetrically provided with a return spring and an adjustment screw. The structure of the invention is simple, and the sliding structure is adopted on the upper cover, so that the pressing plate does not slide relative to the chip in the process of rotating and pressing the chip, and the inclined setting of the pressing plate ensures that the contact plane between the pressing plate and the chip is nearly parallel, avoids local pressing the chip, and ensures the test reliability.
【技术实现步骤摘要】
一种设有上滑块结构的手动测试基座
本专利技术涉及测试基座领域,特别涉及一种设有上滑块结构的手动测试基座。
技术介绍
光学摄像芯片(CIS)及其摄像模组(CMOS),广泛应用于工业,医疗和消费等领域。伴随着终端用户对图像处理的要求,以及高像素图像采集和分析技术的发展,该产品在很多领域逐步替代了原始的玻璃光学镜头。光学芯片模组的千万级化是CIS和CMOS行业的一大发展趋势,目前这种芯片主要应用在卫星,高空侦察机和高像素智能照相机方面。伴随该产品的封装,测试工艺的日趋成熟,应用于高清照相机、监控摄像头、手机摄像头以及电脑摄像头的趋势将不可阻挡。在中国,虽然早在2004年就出现了1200万像素的光学芯片模组,但由于配套的封装、测试、组装的不配套,到目前为止千万级像素模组仍然不能很好的推向市场。其中主要原因是没有这种高精度光学芯片模组测试技术及其测试检具。光学芯片模组的测试涉及到的内容较多,如芯片高精密定位接触基座、探针、镜头、灯箱等。目前光学芯片模组的测试主要有手动测试和自动机台测试两种形式。目前市场上采用的基座原理是:首先要求接触基座的产品必须做到将光学摄像芯片(CIS)及其摄像模组(CMOS)的信号进行传输,这就需要采用微型探针(POGOPIN)进行导出产品的信号。基于这种结构的测试插座,都对上盖与底座之间的配合位置度提出了较高要求。目前,一种手动的光学芯片模组进行测试时使用的插座,包括底座、铰接在底座上的上盖,在上盖上固定压板,在底座上固定探针,被测试芯片直接放在在探针上,通过上盖的翻转,带动压板下压芯片。但是,由于翻板是翻转的,压板与芯片刚开始接触时,只能 ...
【技术保护点】
1.一种设有上滑块结构的手动测试基座,其特征在于:包括测试底座(1)和上盖(2),所述上盖(2)铰接在所述测试底座(1)一侧端且能与所述测试底座(1)翻转压合,所述测试底座(1)上设有浮板结构(11),所述浮板结构(11)内设有芯片槽(12),所述上盖(2)上通过其侧端的滑槽(21)在中部设有滑块(22),所述滑块(22)中部通过压板槽(23)转动设有压板(24),所述压板(24)在所述上盖(2)压合时与所述芯片槽(12)正对,所述压板槽(23)内设有挡舌(25)使所述压板(24)倾斜设置,所述滑块(22)上下侧对称的设有复位弹簧(26)和调整螺钉(27)。
【技术特征摘要】
1.一种设有上滑块结构的手动测试基座,其特征在于:包括测试底座(1)和上盖(2),所述上盖(2)铰接在所述测试底座(1)一侧端且能与所述测试底座(1)翻转压合,所述测试底座(1)上设有浮板结构(11),所述浮板结构(11)内设有芯片槽(12),所述上盖(2)上通过其侧端的滑槽(21)在中部设有滑块(22),所述滑块(22)中部通过压板槽(23)转动设有压板(24),所述压板(24)在所述上盖(2)压合时与所述芯片槽(12)正对,所述压板槽(23)内设有挡舌(25)使所述压板(24)倾斜设置,所述滑块(22)上下侧对称的设有复位弹簧(26)和调整螺钉(27)。2.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘鑫培,朱小刚,柳慧敏,
申请(专利权)人:苏州创瑞机电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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