一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置，显示面板测试方法包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过待测点的数据线切断，以获得数据线中与覆晶薄膜连接的一段作为待测数据线段；将待测扫描线与待测数据线段电连接；将覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；通过覆晶薄膜对待测点处的输出信号进行检测。待测数据线段相当于一导线，将待测扫描线的输出信号引出至覆晶薄膜，使得通过覆晶薄膜，可直接对待测点的输出信号进行检测，无需单独拉线至印刷电路板；并且，通过切断覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接，可消除印刷电路板对检测结果的干扰，有助于提高检测结果的准确性。

A display panel test method, display panel and display device

The invention discloses a display panel test method, a display panel and a display device. The display panel test method comprises the following steps: selecting a point to be tested in a preset section of the scanning line to be tested; cutting off the data line passing through the point to obtain a section of the data line connected with the clad crystal film as the data section to be tested; electrically connecting the scanning line to be tested with the data section to be tested; Cut off the electrical connection between the coating film and the printed circuit board, and detect the output signal at the measuring point through the coating film. The line segment of the data to be tested is equivalent to a wire. The output signal of the scan line to be tested is led to the clad crystal film, so that the output signal of the point to be tested can be detected directly through the clad crystal film without pulling wires to the printed circuit board alone. In addition, by cutting off the electrical connection between the clad crystal film and the printed circuit board, the interference of the printed circuit board to the detection result can be eliminated, which is helpful to improve High accuracy of test results.

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置
本专利技术涉及显示产品的
，特别涉及显示产品的测试
，具体涉及一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置。
技术介绍
显示面板行业的快速发展，使得对面板行业的技术要求越来越严格，继而需要制造者时刻关注产品性能是否符合设计要求。以对面板上阵列基板栅极驱动(GatedrivenonArray，GOA)产品扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形进行测试为例进行说明，一般的设计，不会单独拉引线到印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)板上来对输出波形进行检测，因此，通过现有技术，很难得到准确的扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置，旨在解决传统的GOA产品无法测得准确的扫描线输出波形的问题。为实现上述目的，本专利技术提出的一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的近端输出波形。可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段远离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。可选地，所述待测扫描线的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路；所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测点位于所述两个阵列基板栅极驱动电路的中端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。可选地，所述将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段的步骤中，所述数据线切断处位于所述待测点所在位置背离所述覆晶薄膜的一侧，所述数据线切断处靠近所述待测点所在位置设置。可选地，所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：通过镭射机将所述待测数据线段与所述待测点的重叠位置熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。可选地，所述显示装置还包括薄膜晶体管开关，所述薄膜晶体管开关的栅极电连接所述待测扫描线；所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：通过镭射机将所述待测数据线段与所述薄膜晶体管开关的栅极熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。可选地，所述通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测的步骤之后，还包括：将所述待测扫描线和所述待测数据线段之间的电连接切断；将所述覆晶薄膜和所述印刷电路板电导通；以及，将经过所述待测点所在位置的所述数据线电导通。此外，本专利技术还提出一种显示面板，所述显示面板包括：呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；以及，第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线。此外，本专利技术还提出一种显示装置，所述显示装置包括：印刷电路板；呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；阵列基板栅极驱动电路，电连接所述多行扫描线；覆晶薄膜，两端分别电连接至所述印刷电路板和所述多列数据线；第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线；以及，第二补接结构，设于所述印刷电路板和所述覆晶薄膜之间的导线上，用于电导通所述印刷电路板和所述覆晶薄膜。本专利技术的技术方案中，所述待测数据线段和所述待测扫描线电连接后，所述待测数据线段相当于一导线，将所述待测扫描线的输出信号引出至所述覆晶薄膜，使得通过所述覆晶薄膜，可直接对所述待测扫描线的输出信号进行检测，无需单独拉线至所述印刷电路板；并且，通过切断所述覆晶薄膜和所述印刷电路板之间的电连接，可消除所述印刷电路板对检测结果的影响，有助于提高检测结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术提供的显示面板测试方法的一实施例的流程示意图；图2为图1中的显示面板测试方法应用在显示装置时的结构示意图；图3为图1中待测扫描线和待测数据线段电连接处的部分结构的放大示意图；图4为图1中的显示装置测试后的结构示意图。附图标号说明：标号名称标号名称1印刷电路板5覆晶薄膜2扫描线6第一补接结构21待测扫描线7第二补接结构22待测点8薄膜晶体管开关3数据线81栅极31待测数据线段82漏极32测试数据线83源极4阵列基板栅极驱动电路本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。显示面板行业的快速发展，使得对面板行业的技术要求越来越严格，继而需要制造者时刻关注产品性能是否符合设计要求。以对面板上阵列基板栅极驱动(GatedrivenonArray，GOA)产品扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形进行测试为例进行说明，一般的设计，不会单独拉引线到印刷电路板(PrintedCircuitBoard，PCB)板上来对输出波形进行检测，因此，通过现有技术，很难得到准确的扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形。鉴于此，本专利技术提供一种显示面板测试方法，图1至图3为本专利技术提供的显示面板测试方法的实施例。所述显示面板测试方法应用在显示装置中，请参阅图2，所述显示装置至少包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，其特征在于，包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，其特征在于，包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。2.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的近端输出波形。3.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段背离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。4.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述待测扫描线的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路；所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测点位于所述两个阵列基板栅极驱动电路的中端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。5.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段的步骤中，所述数据线切断处位于所述待测点所在位置远离所述覆晶薄膜的一侧，所述数据线切断处靠近所述待测点所在位置设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙晓午，
申请(专利权)人：重庆惠科金渝光电科技有限公司，惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50