显示面板、显示装置及检测方法制造方法及图纸

一种显示面板、显示装置及检测方法。该显示面板包括显示区域和围绕显示区域的周边区域，显示区域中设置有呈阵列排布的像素单元，像素单元包括像素驱动电路，周边区域中设置有裂纹检测线，且裂纹检测线和至少一个像素单元的像素驱动电路的复位信号端连接。该显示面板在电学检测阶段可以降低裂纹检测线上的压降对亮度的影响，同时还可以提高周边区域裂纹的检出率。

【技术实现步骤摘要】
显示面板、显示装置及检测方法
本公开的实施例涉及一种显示面板、显示装置及检测方法。
技术介绍
在有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，OLED)显示产品中，广泛采用的是薄膜封装工艺(TFE)，该工艺典型的封装不良是封装漏气，导致有机发光材料接触外界水汽，从而导致有机发光材料失效。封装漏气的根本原因是膜层出现裂纹，从而导致封装薄膜发生破裂。在电学检测阶段，如果只是出现轻微膜层裂纹而未导致封装薄膜出现明显裂缝，在显示面板点亮时不会出现显示不良。但在经过长期使用或高温信赖性试验后，轻微的膜层裂纹可能会生长、发生恶化，从而可能出现有机发光材料失效甚至显示面板报废的风险，所以在电学检测阶段就需要将存在膜层裂纹的产品及时地甄选出来，以避免后续更大的材料浪费。
技术实现思路
本公开至少一实施例提供一种显示面板，包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述显示区域中设置有呈阵列排布的像素单元，所述像素单元包括像素驱动电路，所述周边区域中设置有裂纹检测线，且所述裂纹检测线和至少一个像素单元的像素驱动电路的复位信号端连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述像素驱动电路包括具有所述复位信号端的复位电路以及与所述复位电路连接的发光电路，所述复位电路被配置为可从所述裂纹检测线接收裂纹检测信号以使得所述发光电路发光。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述像素驱动电路还包括驱动电路，所述驱动电路被配置为控制用于驱动所述发光电路发光的驱动电流。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述裂纹检测线围绕所述显示区域设置。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述裂纹检测线包括蛇形走线部分。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，在所述周边区域中的不同区域中设置有多条所述裂纹检测线，且多条所述裂纹检测线分别连接至不同的像素单元的像素驱动电路的复位信号端。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，至少一行中的像素单元的像素驱动电路的复位信号端都与第一复位信号线连接，所述第一复位信号线与所述裂纹检测线连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述第一复位信号线和所述裂纹检测线中最接近所述显示区域的部分连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，除与所述裂纹检测线电连接的所述至少一行像素单元外，每一行像素单元对应设置有第二复位信号线，且所述第二复位信号线和本行像素单元的像素驱动电路的复位信号端连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述裂纹检测线包括设置在所述周边区域中的邦定区域一侧的裂纹检测端，所述裂纹检测端被配置为接收裂纹检测信号，所述第一复位信号线相对于所述第二复位信号线更接近于所述裂纹检测端。例如，本公开一实施例提供的显示面板还包括复位公共线，所述复位公共线和所述第二复位信号线连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述复位公共线和所述裂纹检测端连接。例如，在本公开一实施例提供的显示面板中，所述裂纹检测线设置在栅极金属层。本公开至少一实施例还提供一种显示装置，包括如本公开的实施例提供的显示面板。本公开至少一实施例还提供一种用于本公开的实施例提供的显示面板的检测方法，包括：向所述像素单元中的像素驱动电路的复位信号端提供裂纹检测信号；以及观察所述显示面板是否存在暗线。例如，本公开一实施例提供的检测方法还包括：在所述显示面板包括第一复位信号线的情形下，向非连接到所述第一复位信号线的像素单元的复位信号端提供所述裂纹检测信号。例如，本公开一实施例提供的检测方法还包括：在所述像素驱动电路包括具有所述复位信号端的复位电路以及与所述复位电路连接的发光电路的情形下，提供复位控制信号使所述复位电路导通，通过所述复位电路向所述发光电路提供所述裂纹检测信号。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。图1为一种裂纹检测线和部分数据线连接的显示面板的示意图；图2为一种像素驱动电路在数据写入阶段时的示意图；图3为在电学检测阶段出现裂纹检测暗线的示意图；图4为本公开的实施例提供的一种显示面板的示意图1；图5为本公开的实施例提供的一种显示面板的示意图2；图6为本公开的实施例提供的另一种显示面板的示意图；图7为本公开的实施例提供的再一种显示面板的示意图；图8为本公开的实施例提供的再一种显示面板的示意图；图9为本公开的实施例提供的再一种显示面板的示意图；图10为本公开的实施例提供的又一种显示面板的示意图；图11为一种像素驱动电路在裂纹检测时的示意图；图12为另一种像素驱动电路的示意图；图13为又一种像素驱动电路的示意图；图14为本公开的实施例提供的显示面板进行裂纹检测的仿真结果图1；图15为本公开的实施例提供的显示面板进行裂纹检测的仿真结果图2；以及图16为本公开的实施例提供的一种显示装置的示意图。具体实施方式为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。如图1所示，在一种显示面板10中，包括显示区域100和围绕显示区域100的周边区域200，在显示区域100中设置有呈阵列排布的像素单元110，周边区域则用于布设各种引线、邦定驱动芯片以及实现显示面板的密封等。像素单元110包括像素驱动电路，例如可以采用各种适当类型，例如图2中所示的7T1C(7个晶体管和1个存储电容)的像素驱动电路。在图1所示的显示面板10中，在周边区域200中设置有裂纹检测线300，该裂纹检测线300与显示面板10中的部分数据线DL连接(图1中仅示例性地示意出了两条数据线DL和裂纹检测线300连接)。以图2所示的像素驱动电路为例，在进行显示驱动时，例如在数据写入阶段中，数据信号Vdata从数据信号端DATA输入，经过驱动晶体管T1和开关晶体管T3后写入第一节点N1；在发光阶段中，第一电压端VDD提供第一电压Vdd，并根据数据信号Vdata驱动发光元件D1进行相应灰度的显示，具体地，流经发光元件D1的驱动电流为I＝K*(Vdata-Vdd)2，K为一常数值，在第一电压Vdd不变的情况下，驱动电流I的大小(即发光元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述显示区域中设置有呈阵列排布的像素单元，所述像素单元包括像素驱动电路，所述周边区域中设置有裂纹检测线，且所述裂纹检测线和至少一个像素单元的像素驱动电路的复位信号端连接。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括显示区域和围绕所述显示区域的周边区域，所述显示区域中设置有呈阵列排布的像素单元，所述像素单元包括像素驱动电路，所述周边区域中设置有裂纹检测线，且所述裂纹检测线和至少一个像素单元的像素驱动电路的复位信号端连接。2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述像素驱动电路包括具有所述复位信号端的复位电路以及与所述复位电路连接的发光电路，所述复位电路被配置为可从所述裂纹检测线接收裂纹检测信号以使得所述发光电路发光。3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述像素驱动电路还包括驱动电路，所述驱动电路被配置为控制用于驱动所述发光电路发光的驱动电流。4.根据权利要求1-3任一所述的显示面板，其中，所述裂纹检测线围绕所述显示区域设置。5.根据权利要求4所述的显示面板，其中，所述裂纹检测线包括蛇形走线部分。6.根据权利要求4所述的显示面板，其中，在所述周边区域中的不同区域中设置有多条所述裂纹检测线，且多条所述裂纹检测线分别连接至不同的像素单元的像素驱动电路的复位信号端。7.根据权利要求1-6任一所述的显示面板，其中，至少一行中的像素单元的像素驱动电路的复位信号端都与第一复位信号线连接，所述第一复位信号线与所述裂纹检测线连接。8.根据权利要求7所述的显示面板，其中，所述第一复位信号线和所述裂纹检测线中最接近所述显示区域的部分连接。9.根据权利要求7所述的显示面板，其中，除与所述裂纹检测线电连接的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周炟，张陶然，莫再隆，廖文骏，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11