一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，包括自动测控系统、左导电头、直径测量组合、探针组合、长度测量探头、右导电头组合、支撑架、称重组合，所述自动测控系统用于控制整个装置以及数据处理；所述支撑架用于放置待测样品，所述左导电头和右导电头组合作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。本实用新型专利技术解决了行业内传统的碳材料物理性能测定方法的不足，解决了“数据孤岛”问题，建设大数据平台支撑，实现数据的实时汇总和统计。

A device for measuring bulk density and room temperature resistivity of carbon materials

【技术实现步骤摘要】
一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置
本技术涉及检测领域，特别是涉及一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置及方法。
技术介绍
在碳材料的生产制造领域，衡量碳材料质量指标有很多项，体积密度、室温电阻率是碳电极的常规检测指标，属于日常性检测项目。随着各行业碳材料的产能及使用持续上升，对碳材料质量也有了更加严格的要求，进而检测频率大幅增加。目前碳材料行业内无同时测量以上指标的装置，数据汇总困难，测量精度、稳定性及效率较低。因此碳材料行业迫切需要一种一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置。同时2015年中国政府提出《中国制造2025》，将信息技术与生产制造技术深度融合，随着工业互联网的建设热潮的到来，测定设备不仅是完成数据测量的功能，更需要信息化，智能化。目前碳材料上述两种指标的测定方式依旧是单独测定，操作繁杂，另外，数据汇总、录入困难，没有大数据平台支撑，效率低，历史数据查阅不便，数据价值有限。碳材料体积密度及室温电阻率测定装置在国内外亦无工程案例或成熟的经验或技术可以直接应用，尚属空白，是当前精密设备和智能制造亟需解决的问题。
技术实现思路
针对上述已有技术存在的不足，本技术提供一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置及方法，可用于铝用碳电极的体积密度、室温电阻率的测定。本技术是通过以下技术方案实现的。一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，包括自动测控系统（1）、左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），所述自动测控系统（1）用于控制左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），以及数据处理；所述支撑架（7）用于放置待测样品，所述左导电头（2）和右导电头组合（6）作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合（4）用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。进一步的，所述的左导电头（2），安装于样品左侧，用于作为样品长度测量基准并作为导电电极。进一步的，所述的直径测量组合（3），垂直安装于样品上方或下方，或水平位置，或与样品成一定角度位置。进一步的，所述的直径测量组合（3）包含：直径测量探头，用于测量样品直径；动力装置，用于带动直径测量探头移动；进一步的，所述探针组合（4）包含探针、动力装置，所述探针，用于测量电压降，所述动力装置，用于带动探针移动。进一步的，所述探针组合（4）为单组或多组，设置于样品周围。进一步的，所述的长度测量探头（5），用于测量样品长度，设置在右导电头组合（6）上。进一步的，所述的右导电头组合（6），安装于样品的右侧，用于作为导电电极；所述右导电头组合（6）包括：右导电头，用于作为导电电极，动力装置，用于带动右导电头组合（6）左右移动。进一步的，所述的称重组合（8）安装于试样下方，包括：称重单元，用于称量样品质量；称量架，用于称重时支撑样品，并将重量传递至称重单元，动力装置，用于带动称重组合（8）上下移动。进一步的，所述的称重组合（8）安装于试样上方，测量拉力或通过挂钩测量压力。本技术的有益技术效果：本技术的碳材料体积密度及室温电阻率测定装置及方法，解决了行业内传统的碳材料物理性能测定方法的不足，最终实现样品的两项指标数据一台设备测定，存储、分析和统计，降低设备成本投入及人员劳动强度，解决“数据孤岛”，建设大数据平台支撑，创造数据价值，实现数据的实时汇总和统计，输出报表和提示，通过对指标数据的判断处理，对实际生产产生指导意义。附图说明图1—碳材料体积密度及室温电阻率测定装置示意图。附图标识：1、自动测控系统；2、左导电头；3、直径测量组合；4、探针组合；5、长度测量探头；6、右导电头组合；7、支撑架；8、称重组合。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本技术进行详细说明。实施例1：本装置通电后，各部分机构开始协调工作。自动测控系统检测工位状态，确认各系统处于正常待机工位；作业人员手动将待检样品放入支撑架7上；自动控制系统输出命令；称重组合8上升，测量样品质量，测量完成后复位；直径测量组合3下降，测量样品直径，测量完成后复位；右导电头组合6向左移动，夹紧试样，此时长度测量探头5检测试样长度，试样通入电流；探针组合4伸出，测量出样品电压降后复位；自动控制系统根据采集的数据进行计算、统计、分析并输出结果，电阻率及体积密度检测完成。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均包含在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，其特征在于，能同时进行体积密度及室温电阻率测定，包括自动测控系统（1）、左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），所述自动测控系统（1）用于控制左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），以及数据处理；所述支撑架（7）用于放置待测样品，所述左导电头（2）和右导电头组合（6）作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合（4）用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。

【技术特征摘要】
1.一种碳材料体积密度及室温电阻率测定装置，其特征在于，能同时进行体积密度及室温电阻率测定，包括自动测控系统（1）、左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），所述自动测控系统（1）用于控制左导电头（2）、直径测量组合（3）、探针组合（4）、长度测量探头（5）、右导电头组合（6）、支撑架（7）、称重组合（8），以及数据处理；所述支撑架（7）用于放置待测样品，所述左导电头（2）和右导电头组合（6）作为导电电极位于待测样品两侧，所述探针组合（4）用于测量样品的电压降；所述称重组合，用于测量样品质量。2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的左导电头（2），安装于样品左侧，用于作为样品长度测量基准并作为导电电极。3.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述的直径测量组合（3），垂直安装于样品上方或下方，或水平位置，或与样品成一定角度位置。4.根据权利要求3所述的测定装置，其特征在于，所述的直径测量组合（3）包含：直径测量探头，用于测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈洪，于明超，王振朝，李智辰，曹功武，李龙，方炯，
申请(专利权)人：北京英斯派克科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11