基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，涉及输变电设备运行状态检修技术领域。该方法包括：获取积污绝缘子的第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；提取第一高光谱图像集的高光谱数据，将其中一部分数据作为训练集，另一部分数据作为测试集，建立污秽度多参量检测模型，并用测试集对该模型进行优化；提取第二高光谱图像集中若干个局部区域的高光谱数据，并通过优化后的污秽度多参量检测模型进行识别，从而得到盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，计算出绝缘子的污秽等值盐密Ⅱ和污秽灰密Ⅱ。该方法识别准确率高，适用于现场带电检测，可实现绝缘子各局部区域污秽度的检测，为制定具有针对性的绝缘子清扫方案提供了技术参考。

Non contact detection method of insulator contamination based on hyperspectral technology

【技术实现步骤摘要】
基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法
本专利技术涉及输变电设备运行状态检修领域，具体而言，涉及一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法。
技术介绍
绝缘子污闪事故易引发系统失去稳定而导致长时间、大面积的停电事故。随着雾霾、盐雾等恶劣天气情况增多，输电线路电压等级的提高，暴露在大气环境中的绝缘子面临着更加严峻的积污问题，污闪事故的防治也将面临更大的挑战。目前GB/T16434、GB/T5582等标准推荐及各电网公司污区分级及外绝缘配置的依据主要是基于等值附盐密度(ESDD)，IEC60815及国家电网公司企业标准Q/GDW152-2006已经在污区分级中建议考虑附灰密度的影响，且大量研究表明盐、灰密对不同绝缘子污闪电压有显著影响。因此，有效测量绝缘子污秽盐、灰密对制定绝缘子清扫周期、防治污闪事故具有重要意义。传统盐、灰密检测流程繁琐，无法进行现场带电检测，需登杆拆卸绝缘子并擦洗、溶解绝缘子表面全部污秽，测量电导率后还需过滤、烘干、称重测量灰密，检测过程依赖测量人员技术与经验，在测量过程中易造成误差。若需测量绝缘子各局部污秽度，则需重复上述操作，耗费人力物力且人工干扰较多致使本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取积污绝缘子的高光谱图像集，并对高光谱图像集进行校正、变换处理，将处理后的高光谱图像集分为两部分，分别为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；S2、获取第一高光谱图像集所对应的积污绝缘子区域的盐灰比例Ⅰ和污秽总量Ⅰ；S3、提取第一高光谱图像集的纹理特征和高光谱谱线，其中第一高光谱图像集的纹理特征对应标签为盐灰比例Ⅰ，第一高光谱图像集的高光谱谱线对应标签为污秽总量Ⅰ，将第一高光谱图像集的一部分纹理特征和高光谱谱线作为训练集，另一部分纹理特征和高光谱谱线作为测试集，根据分类算法和训练集建立污秽度多参量检测模型，并用...

【技术特征摘要】
1.一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取积污绝缘子的高光谱图像集，并对高光谱图像集进行校正、变换处理，将处理后的高光谱图像集分为两部分，分别为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；S2、获取第一高光谱图像集所对应的积污绝缘子区域的盐灰比例Ⅰ和污秽总量Ⅰ；S3、提取第一高光谱图像集的纹理特征和高光谱谱线，其中第一高光谱图像集的纹理特征对应标签为盐灰比例Ⅰ，第一高光谱图像集的高光谱谱线对应标签为污秽总量Ⅰ，将第一高光谱图像集的一部分纹理特征和高光谱谱线作为训练集，另一部分纹理特征和高光谱谱线作为测试集，根据分类算法和训练集建立污秽度多参量检测模型，并用测试集对污秽度多参量检测模型进行优化；S4、提取第二高光谱图像集中若干个局部区域的纹理特征和高光谱谱线，并通过优化后的污秽度多参量检测模型对它们进行识别，得到盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，根据盐灰比例Ⅱ和污秽总量Ⅱ，计算积污绝缘子的污秽等值盐密Ⅱ和污秽灰密Ⅱ，完成绝缘子污秽度的非接触检测。2.根据权利要求1所述基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，是选择在积污绝缘子的污秽类型相同区域获取高光谱图像集。3.根据权利要求1所述基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，获取积污绝缘子的高光谱图像集的方法是：无人机搭载高光谱仪飞行至...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴广宁，邱彦，郭裕钧，张血琴，刘凯，高国强，杨泽锋，魏文赋，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：发明
国别省市：四川,51