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本发明公开了一种基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法，涉及输变电设备运行状态检修技术领域。该方法包括：获取积污绝缘子的第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；提取第一高光谱图像集的高光谱数据，将其中一部分数据作为训练集，另一部分数据作为测...
该专利属于西南交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西南交通大学授权不得商用。

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