一种集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试仪，包括工作台，所述工作台的底部设有支撑腿，所述支撑腿的底部设有移动机构，所述工作台上表面的一端设有PLC控制器，所述工作台上表面的另一端设有集成电路测试仪主体，所述集成电路测试仪主体内腔的上表面设有继电器矩阵板，该集成电路测试仪通过设置移动机构便于带动该仪器进行移动和制动，灵活性较高，通过设置观测机构便于观察集成电路的测试过程，通过设置散热板便于提高集成电路测试仪主体的散热性能，通过设置防尘机构便于防止灰尘进入集成电路测试仪主体，通过设置密封盖板和绝缘板便于提高集成电路测试时的密封，提高测试效果，通过设置PLC控制器便于观察测试结果，使用较为便捷。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试仪
本技术涉及集成电路测试仪
，具体为一种集成电路测试仪。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit)是一种微型电子器件，其采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。集成电路具有体积小、重量轻、引出线和焊接点少、寿命长、可靠性高、性能好等优点，同时成本低，便于大规模生产。集成电路不仅在工、民用电子设备如电视机计算机等方面得到广泛的应用，同时在军事通信等方面也得到了广泛的应用。集成电路的可靠性一般是由测试仪来测定的，测试仪性能的好坏会直接影响到电路的评估结果。现有的集成电路测试仪不便移动和制动，灵活性较低，不便散热，不便观察测试过程，提高测试的精确较低，不便防止外界干扰，不便观察测试结果，使用较为不便。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种集成电路测试仪，便于移动和制动，灵活性较高，便于散热，便于观察测试过程，便于提高测试的精确度，防止外界干扰，便于观察测试结果，使用较为便捷，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试仪，包括工作台，所述工作台的底部设有支撑腿，所述支撑腿的底部设有移动机构，所述工作台上表面的一端设有PLC控制器，所述工作台上表面的另一端设有集成电路测试仪主体，所述集成电路测试仪主体内腔的上表面设有继电器矩阵板，所述继电器矩阵板的上表面设有测试放置槽，所述集成电路测试仪主体的左右侧面均设有散热板，所述散热板的侧面设有防尘机构，所述集成电路测试仪主体的前侧面设有观测机构，所述集成电路测试仪主体的上表面铰接有密封盖板，所述PLC控制器的输入端电连接外部电源的输出端，PLC控制器和集成电路测试仪主体为双向电连接。作为本技术的一种优选技术方案，所述移动机构包括设在支撑腿底部的滚轮，所述支撑腿侧面靠近滚轮的位置处设有刹车片。作为本技术的一种优选技术方案，所述防尘机构包括设在散热板侧面的挡尘板，所述挡尘板的侧面设有固定螺钉。作为本技术的一种优选技术方案，所述观测机构包括设在集成电路测试仪主体侧面的安装框架，所述安装框架的侧面设有透明玻璃板。作为本技术的一种优选技术方案，所述密封盖板的上表面设有绝缘板，所述密封盖板的下表面设有把手和安全锁。与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过设置移动机构便于带动该仪器进行移动和制动，灵活性较高，通过设置观测机构便于观察集成电路的测试过程，通过设置散热板便于提高集成电路测试仪主体的散热性能，通过设置防尘机构便于防止灰尘进入集成电路测试仪主体，通过设置密封盖板和绝缘板便于提高集成电路测试时的密封，提高测试效果，通过设置PLC控制器便于观察测试结果，使用较为便捷。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术剖面结构示意图。图中：1工作台、2防尘机构、21固定螺钉、22挡尘板、3观测机构、31安装框架、32透明玻璃板、4移动机构、41刹车片、42滚轮、5测试放置槽、6继电器矩阵板、7集成电路测试仪主体、8支撑腿、9密封盖板、10绝缘板、11散热板、12PLC控制器、13把手。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-2，本技术提供一种技术方案：一种集成电路测试仪，包括工作台1，工作台1的底部设有支撑腿8，支撑腿8的底部设有移动机构4，工作台1上表面的一端设有PLC控制器12，工作台1上表面的另一端设有集成电路测试仪主体7，集成电路测试仪主体7将测试的数据传递给PLC控制器12，通过PLC控制器12可以观察测试结果，集成电路测试仪主体7内腔的上表面设有继电器矩阵板6，继电器矩阵板6的上表面设有测试放置槽5，集成电路测试仪主体7的左右侧面均设有散热板11，通过散热板11有利于集成电路测试仪主体7的散热，散热板11的侧面设有防尘机构2，通过防尘机构2可以防止灰尘进入集成电路测试仪主体7，集成电路测试仪主体7的前侧面设有观测机构3，集成电路测试仪主体7的上表面铰接有密封盖板9，PLC控制器12的输入端电连接外部电源的输出端，PLC控制器12和集成电路测试仪主体7为双向电连接，移动机构4包括设在支撑腿8底部的滚轮42，支撑腿8侧面靠近滚轮42的位置处设有刹车片41，通过刹车片41和滚轮42将该仪器推到适宜的位置处进行固定，防尘机构2包括设在散热板11侧面的挡尘板22，挡尘板22的侧面设有固定螺钉21，观测机构3包括设在集成电路测试仪主体7侧面的安装框架31，安装框架31的侧面设有透明玻璃板32，通过透明玻璃板32可以观察集成电路的测试过程，密封盖板9的上表面设有绝缘板10，密封盖板9的下表面设有把手13和安全锁，将检测的集成电路放在测试放置槽5里，关闭密封盖板9，利用绝缘板10防止外界的干扰，PLC控制器12控制集成电路测试仪主体7的方法为现有技术中的常用方法，PLC控制器12的型号为三菱FR-FX1S。在使用时：通过刹车片41和滚轮42将该仪器推到适宜的位置处进行固定，将检测的集成电路放在测试放置槽5里，关闭密封盖板9，利用绝缘板10防止外界的干扰，通过散热板11有利于集成电路测试仪主体7的散热，通过透明玻璃板32可以观察集成电路的测试过程，集成电路测试仪主体7将测试的数据传递给PLC控制器12，通过PLC控制器12可以观察测试结果。本技术通过设置移动机构4便于带动该仪器进行移动和制动，灵活性较高，通过设置观测机构3便于观察集成电路的测试过程，通过设置散热板11便于提高集成电路测试仪主体7的散热性能，通过设置防尘机构2便于防止灰尘进入集成电路测试仪主体7，通过设置密封盖板9和绝缘板10便于提高集成电路测试时的密封，提高测试效果，通过设置PLC控制器12便于观察测试结果，使用较为便捷。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试仪，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的底部设有支撑腿（8），所述支撑腿（8）的底部设有移动机构（4），所述工作台（1）上表面的一端设有PLC控制器（12），所述工作台（1）上表面的另一端设有集成电路测试仪主体（7），所述集成电路测试仪主体（7）内腔的上表面设有继电器矩阵板（6），所述继电器矩阵板（6）的上表面设有测试放置槽（5），所述集成电路测试仪主体（7）的左右侧面均设有散热板（11），所述散热板（11）的侧面设有防尘机构（2），所述集成电路测试仪主体（7）的前侧面设有观测机构（3），所述集成电路测试仪主体（7）的上表面铰接有密封盖板（9），所述PLC控制器（12）的输入端电连接外部电源的输出端，PLC控制器（12）和集成电路测试仪主体（7）为双向电连接。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试仪，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的底部设有支撑腿（8），所述支撑腿（8）的底部设有移动机构（4），所述工作台（1）上表面的一端设有PLC控制器（12），所述工作台（1）上表面的另一端设有集成电路测试仪主体（7），所述集成电路测试仪主体（7）内腔的上表面设有继电器矩阵板（6），所述继电器矩阵板（6）的上表面设有测试放置槽（5），所述集成电路测试仪主体（7）的左右侧面均设有散热板（11），所述散热板（11）的侧面设有防尘机构（2），所述集成电路测试仪主体（7）的前侧面设有观测机构（3），所述集成电路测试仪主体（7）的上表面铰接有密封盖板（9），所述PLC控制器（12）的输入端电连接外部电源的输出端，PLC控制器（12）和集成电路测试仪主体（7）为...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕国伟，
申请(专利权)人：郑州融安科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：河南,41