【技术实现步骤摘要】
多层单元NAND闪存的一种操作方法
本专利技术涉及集成电路设计领域,尤其涉及NAND闪存设计领域。
技术介绍
NAND闪存是一种广泛使用的非易失性半导体存储器。关于NAND闪存的基本原理和感测电路,在书籍RinoMicheloni,LucaCrippa,AlessiaMarelli(2010)“InsideNANDFlashMemories”NewYork:SpringerScience+BusinessMedia,的第2章、第8章、第10章和第16章中有详细的论述。该书籍的这些章节通过引入的方式并入本文本中。SLCNAND闪存中每个单元可存储1个比特。而多层单元NAND闪存的一个单元可以存储多个比特,其中MLCNAND闪存中每个单元可存储2个比特,TLCNAND闪存中每个单元可存储3个比特,QLCNAND闪存中每个单元可存储4个比特。页(page)是NAND闪存读写操作的基本单位。在目前主流的NAND闪存中,每个存储单元的多个比特一般是映射到不同的页中,方便起见,我们称这种模式为“分页读取模式”。每个存储单元的所有数据比特也可以全部映射到同一个页中,我们称这种模 ...
【技术保护点】
1.多层单元NAND闪存的一种读取数据的方法,包括:向待测块中的待测字线加较低的栅极电压,向待测块中的其它字线加较高的栅极电压,使其它字线的存储单元导通;以及不断改变待测块中的各个NAND串的源极电压,并观察NAND串是否导通,直至确定待测单元中的待读数据;其特征在于,通过调整NAND串的源极电压来改变待测单元栅极与源极间的电压差,而不是固定NAND串的源极电压、调整字线的栅极电压来改变待测单元栅极与源极的电压差。
【技术特征摘要】
1.多层单元NAND闪存的一种读取数据的方法,包括:向待测块中的待测字线加较低的栅极电压,向待测块中的其它字线加较高的栅极电压,使其它字线的存储单元导通;以及不断改变待测块中的各个NAND串的源极电压,并观察NAND串是否导通,直至确定待测单元中的待读数据;其特征在于,通过调整NAND串的源极电压来改变待测单元栅极与源极间的电压差,而不是固定NAND串的源极电压、调整字线的栅极电压来改变待测单元栅极与源极的电压差。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,与不同位线相连的NAND串的源极连接至独立的源极信号,其电压可以独立调整,而不是所有NAND串连接至同一个共享的源极信号。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在感测过程中,保持待测单元的栅极电压不变。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在多次感测操作中,每个NAND串的源极电压的调整由该NAND串之前的感测结果决定;在一给定的源极电压下,若一NAND串导通,则在后续感测操作中该NAND串只选择比之更高的源极电压;若一NAND串不导通,则在后续感测操作中该NAND串只选择比之更低的源极电压。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,源极电压的调整方案是基于二分连续逼近法。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,多层单元NAND闪存支持分页读取模式,即所述待测单元中的待读数据指...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈惕生,耿志远,
申请(专利权)人:本征信息技术上海有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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