【技术实现步骤摘要】
一种多层单元NAND闪存
本技术涉及集成电路领域,尤其涉及一种多层单元NAND闪存。
技术介绍
NAND闪存是一种广泛使用的非易失性半导体存储器。关于NAND闪存的基本结构、基本原理和感测电路,在书籍RinoMicheloni,LucaCrippa,AlessiaMarelli(2010)“InsideNANDFlashMemories”NewYork:SpringerScience+BusinessMedia,的第2章、第8章、第10章和第16章中有详细的论述。该书籍的这些章节通过引入的方式并入本文本中。通常,NAND闪存包括闪存单元阵列102、读/写电路103、输入输出缓冲区104、控制电路101、列译码器105和行译码器106,如图1所示。闪存单元阵列102包括多个NAND串201(NANDstring),NAND串201由两选择栅及串联在两选择栅之间的闪存单元310(cell)组成。在现有技术方案中,读/写电路103中的位线202(bitline)和源极线203(sourceline)与NAND串201的连接 ...
【技术保护点】
1.一种多层单元NAND闪存,包括闪存单元阵列、读/写电路、输入输出缓冲区、控制电路、行译码器和列译码器,其特征在于,所述的读/写电路中,与不同位线连接的NAND串的源极连接至独立的源极线,源极线与位线一一对应。/n
【技术特征摘要】
1.一种多层单元NAND闪存,包括闪存单元阵列、读/写电路、输入输出缓冲区、控制电路、行译码器和列译码器,其特征在于,所述的读/写电路中,与不同位线连接的NAND串的源极连接至独立的源极线,源极线与位线一一对应。
2.根据权利要求1所述的多层单元NAND闪存,其特征在于,所述的每个源极线均连接至一个对应的电压选择器的输出端。
3.根据权利要求2所述的多层单元NAND闪存,其特征在于,包括一个或多个电压生成器,所述的电压生成器提供多个输出电压,所述多个...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈惕生,耿志远,
申请(专利权)人:本征信息技术上海有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。