【技术实现步骤摘要】
评估图像采集精度的方法及装置、电子设备、可读介质
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法及装置、电子设备和计算机可读介质。
技术介绍
在有机电致发光(OLED，OrganicLight-EmittingDiode)显示装置中，由于晶化工艺的局限性，不同位置的薄膜晶体管常常在阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，从而导致显示面板容易产生局部斑痕(Mura)现象。为了改善效果，需要对显示面板进行去斑痕(Demura)补偿。其中，在进行Demura补偿时，利用Demura设备对显示面板的显示画面进行图像采集，根据采集的图像计算Demura补偿数据，之后将Demura补偿数据对显示面板进行Demura补偿。因此，Demura设备的图像采集精度直接影响了Demura补偿的效果。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法及装置、电子设备和计算机可读介质。为了实现上述目的，本专利技术提供一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，包括：控制显示面板...
【技术保护点】
1.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，其特征在于，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。
【技术特征摘要】
1.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，其特征在于，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：对所述预处理图像进行低通滤波；对经过低通滤波后的图像进行二值化处理，得到二值化图像，所述二值化图像中包括与所述测试点图案一一对应的测试斑；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：获取每个测试点图案的中心在预设坐标系中的坐标、以及每个测试点图案所对应的测试斑的中心在所述预设坐标系中的坐标；其中，所述检测画面与所述二值化图像在所述预设坐标系中的覆盖范围相同；根据每个测试点图案的坐标与相应的测试斑的坐标，计算每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离；根据每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离，计算距离的平均值和标准差；根据所述距离的平均值和标准差确定所述Demura设备的图像采集精度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，每个测试点图案与对应的测试斑之间的距离D根据以下公式计算：其中，x为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的横坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的横坐标之间的差值；y为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的纵坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的纵坐标之间的差值。5.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述测试点的灰阶在95～255之间；所述检测画面中其他位置的灰阶在0～50之间。6.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的装置，其特征在于，包括：控制模块，用于控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：王斌，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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