评估图像采集精度的方法及装置、电子设备、可读介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。本发明专利技术还提供一种用于评估Demura设备的图像采集精度的装置、电子设备和计算机可读介质。本发明专利技术能够客观准确地评估出Demura设备的图像采集精度，从而有利于提高Demura补偿效果。

Methods and devices for evaluating image acquisition accuracy, electronic equipment and readable media

【技术实现步骤摘要】
评估图像采集精度的方法及装置、电子设备、可读介质
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法及装置、电子设备和计算机可读介质。
技术介绍
在有机电致发光(OLED，OrganicLight-EmittingDiode)显示装置中，由于晶化工艺的局限性，不同位置的薄膜晶体管常常在阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，从而导致显示面板容易产生局部斑痕(Mura)现象。为了改善效果，需要对显示面板进行去斑痕(Demura)补偿。其中，在进行Demura补偿时，利用Demura设备对显示面板的显示画面进行图像采集，根据采集的图像计算Demura补偿数据，之后将Demura补偿数据对显示面板进行Demura补偿。因此，Demura设备的图像采集精度直接影响了Demura补偿的效果。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法及装置、电子设备和计算机可读介质。为了实现上述目的，本专利技术提供一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：对所述预处理图像进行低通滤波；对经过低通滤波后的图像进行二值化处理，得到二值化图像，所述二值化图像中包括与所述测试点图案一一对应的测试斑；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：获取每个测试点图案的中心在预设坐标系中的坐标、以及每个测试点图案所对应的测试斑的中心在所述预设坐标系中的坐标；其中，所述检测画面与所述二值化图像在所述预设坐标系中的覆盖范围相同；根据每个测试点图案的坐标与相应的测试斑的坐标，计算每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离；根据每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离，计算距离的平均值和标准差；根据所述距离的平均值和标准差确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，每个测试点图案与对应的测试斑之间的距离D根据以下公式计算：其中，x为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的横坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的横坐标之间的差值；y为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的纵坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的纵坐标之间的差值。可选地，所述测试点的灰阶在95～255之间；所述检测画面中其他位置的灰阶在0～50之间。相应地，本专利技术还提供一种用于评估Demura设备的图像采集精度的装置，包括：控制模块，用于控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；获取模块，用于获取与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像由Demura设备对检测画面进行图像采集得到，所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；确定模块，用于根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，所述确定模块包括：滤波单元，用于对所述预处理图像进行低通滤波；二值化单元，用于对经过低通滤波后的图像进行二值化处理，得到二值化图像，所述二值化图像中包括与所述测试点图案一一对应的测试斑；确定单元，用于根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，所述确定单元包括：坐标获取子单元，用于获取每个测试点图案的中心在预设坐标系中的坐标、以及每个测试点图案所对应的测试斑的中心在所述预设坐标系中的坐标；其中，所述检测画面与所述二值化图像在所述预设坐标系中的覆盖范围相同；第一计算子单元，用于根据每个测试点图案的坐标与相应的测试斑的坐标，计算每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离；第二计算子单元，用于根据每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离，计算距离的平均值和标准差；确定子单元，用于根据所述距离的平均值和标准差确定所述Demura设备的图像采集精度。可选地，所述第一计算子单元具体用于根据以下公式计算每个测试点图案与对应的测试斑之间的距离D：其中，x为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的横坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的横坐标之间的差值；y为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的纵坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的纵坐标之间的差值。可选地，所述测试点的灰阶在95～255之间；所述检测画面中其他位置的灰阶在0～50之间。相应地，本专利技术还提供一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，其上存储有一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现上述的用于评估Demura设备的图像采集精度的方法。相应地，本专利技术还提供一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现上述的用于评估Demura设备的图像采集精度的方法。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法；图2为本专利技术实施例提供的步骤S3的一种可选实现方式流程图；图3为本专利技术实施例中步骤S33的一种可选实现方式的流程图；图4为两个Demura设备所对应的距离直方图；图5为本专利技术实施例提供的一种用于评估Demura设备的图像采集精度的装置的结构示意图；图6为本专利技术实施例中确定模块的一种可选结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。目前，Demura补偿过程包括前处理和补偿处理，其中，在前处理过程中，Demura设备对显示面板的显示画面进行图像采集；补偿处理过程中，根据采集的图像计算Demura补偿数据，并根据Demura补偿数据对显示面板进行Demura补偿。对于前处理过程，不同厂商的图像采集精度不同，目前通常是靠人眼观测的方式来对图像采集精度(即，前处理的效果)进行评价；但是，这种方式并不能准确地判断出前处理效果的优劣，从而无法准确地确定出补偿效果较好的Demura设备，进而影响Demura补偿效果。图1为本专利技术实施例提供的一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，如图1所示，该方法包括：S1、控制显示面板显示检测画面，检测画面中包括间隔的多个测试点图案。其中，检测画面包括多个像素点，测试点图案的大小可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，其特征在于，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。

【技术特征摘要】
1.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的方法，其特征在于，包括：控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试点图案；利用所述Demura设备对检测画面进行图像采集，得到与检测画面对应的预处理图像；所述预处理图像与相应检测画面的大小、形状均相同；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与在所述预处理图像中所对应的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：对所述预处理图像进行低通滤波；对经过低通滤波后的图像进行二值化处理，得到二值化图像，所述二值化图像中包括与所述测试点图案一一对应的测试斑；根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试点图案在所述检测画面中的位置与相应的测试斑在所述二值化图像中的位置之间的差异，确定所述Demura设备的图像采集精度，包括：获取每个测试点图案的中心在预设坐标系中的坐标、以及每个测试点图案所对应的测试斑的中心在所述预设坐标系中的坐标；其中，所述检测画面与所述二值化图像在所述预设坐标系中的覆盖范围相同；根据每个测试点图案的坐标与相应的测试斑的坐标，计算每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离；根据每个测试点图案与各自对应的测试斑之间的距离，计算距离的平均值和标准差；根据所述距离的平均值和标准差确定所述Demura设备的图像采集精度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，每个测试点图案与对应的测试斑之间的距离D根据以下公式计算：其中，x为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的横坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的横坐标之间的差值；y为测试点图案的中心在所述预设坐标系中的纵坐标与测试斑的中心在所述预设坐标系中的纵坐标之间的差值。5.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述测试点的灰阶在95～255之间；所述检测画面中其他位置的灰阶在0～50之间。6.一种用于评估Demura设备的图像采集精度的装置，其特征在于，包括：控制模块，用于控制显示面板显示检测画面，所述检测画面中包括间隔的多个测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：王斌，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11