用于环境光感测和接近感测的光电二极管制造技术

技术编号:22011962 阅读:38 留言:0更新日期:2019-09-03 22:50
本发明专利技术涉及用于环境光感测和接近感测的光电二极管。使用堆叠的光电二极管的对来实现环境光感测和接近感测。每个对包括对具有较短波长的光更敏感的具有浅结深度的浅二极管和对具有较长波长的光更敏感的具有较深结深度的较深二极管。接收通过蓝绿色、黄色,和品红色滤光器的光的光电二极管和在没有滤色器的情况下通过的光用于通过相减方式生成红色光、绿色光,和蓝色光的信息。浅二极管用于生成环境光的勒克斯值,而较深二极管用于接近感测。可以在对环境光的勒克斯确定的校正中使用一个或多个深二极管。

Photodiodes for environmental light sensing and proximity sensing

【技术实现步骤摘要】
用于环境光感测和接近感测的光电二极管
本专利技术涉及光感测,且更具体地涉及环境光感测和接近感测。
技术介绍
可以在设备中使用环境光感测,以用于例如控制液晶显示器(LCD)屏幕的亮度或用于照相。光传感器也被用于检测反射光以便确定物体的存在并且检测姿态。鉴于光传感器应用的普遍使用,能够提供更有效的和/或高效的光传感器将是理想的。
技术实现思路
因此,在一个实施例中,提供了一种方法,包括在多个滤光器处接收光。在第一多个光电二极管感测所接收的光以执行环境光感测。也在第二多个光电二极管感测所接收的光以执行接近检测。与第二多个光电二极管的较深的结深度相比,第一多个二极管包括相对于最靠近滤光器的半导体的表面具有较浅的结深度的光电二极管。在另一个实施例中,提供了一种装置,包括多个光电二极管对,其供应用于感测环境光和用于接近感测的相应信号。每个对包括浅光电二极管和深光电二极管。与浅光电二极管相比,深光电二极管相对于所感测的光入射于其上的表面较深,并且深二极管对具有较长的波长的光更敏感。接近检测器电路被配置为从一个或多个深光电二极管接收一个或多个第一信号以用于确定目标的接近。环境光传感器电路被耦合以接收对从本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于环境光感测和接近感测的方法,包括:在多个滤光器处接收光;在第一多个光电二极管感测所接收的光以执行环境光感测;以及在第二多个光电二极管感测所接收的光以执行接近检测;其中,与较深的结深度相比,第一多个光电二极管相对于最靠近滤光器的半导体的表面的结深度比第二多个光电二极管的结深度浅;在阻挡绿光的品红色滤光器中对光进行过滤并且从品红色滤光器向第一多个光电二极管中的第一个供应第一过滤光;在阻挡红光的蓝绿色滤光器中对光进行过滤并且向第一多个光电二极管中的至少第二个供应第二过滤光;在阻挡蓝光的黄色滤光器中对光进行过滤并且向至少第一多个光电二极管中的至少第三个供应第三过滤光;以及允许宽谱光通过并且...

【技术特征摘要】
2014.11.19 US 14/547,7611.一种用于环境光感测和接近感测的方法,包括:在多个滤光器处接收光;在第一多个光电二极管感测所接收的光以执行环境光感测;以及在第二多个光电二极管感测所接收的光以执行接近检测;其中,与较深的结深度相比,第一多个光电二极管相对于最靠近滤光器的半导体的表面的结深度比第二多个光电二极管的结深度浅;在阻挡绿光的品红色滤光器中对光进行过滤并且从品红色滤光器向第一多个光电二极管中的第一个供应第一过滤光;在阻挡红光的蓝绿色滤光器中对光进行过滤并且向第一多个光电二极管中的至少第二个供应第二过滤光;在阻挡蓝光的黄色滤光器中对光进行过滤并且向至少第一多个光电二极管中的至少第三个供应第三过滤光;以及允许宽谱光通过并且至少向第一多个光电二极管中的第四个供应宽谱光;确定绿光的估计,其包括从第一多个光电二极管中的第四个所感测的光中减去由第一多个光电二极管中的第一个所感测的光;确定红光的估计,其包括从由第一多个光电二极管中的第四个所感测的光中减去由第一多个光电二极管中的第二个所感测的光;以及确定蓝光的估计,其包括从由第一多个光电二极管中的第四个所感测的光中减去由第一多个光电二极管中的第三个所感测的光。2.根据权利要求1所述的方法,其中,执行接近检测进一步包括:在至少一个第二多个光电二极管接收第一过滤光的至少一部分。3.根据权利要求1所述的方法,其中,执行接近检测进一步包括:在第二多个光电二极管之一接收第二过滤光的至少一部分。4.根据权利要求1所述的方法,其中,执行接近检测进一步包括:在第二多个光电二极管之一接收第三过滤光的至少一部分。5.根据权利要求1所述的方法,其中,执行接近检测进一步包括:在第二多个光电二极管之一接收宽谱光的至少一部分。6.根据权利要求1所述的方法,其中,环境光感测包括使用绿光估计作为初始勒克斯近似值,以及基于由第二多个光电二极管中的一个或多个所提供的蓝光的估计、红光的估计和红外线的估计来向初始勒克斯近似值应用校正因数。7.根据权利要求6所述的方法,进一步包括,在确定校正因数时,使用来自第二多个光电二极管中的一个或多个的所感测的光。8.根据权利要求1所述的方法,进一步包括使用金属层以在第一多个光电二极管中的第四个供应宽谱光之前阻挡某百分比的宽谱光。9.一种用于环境光感测和接近检测的装置,包括:多对光电二极管,其被配置为供应用于确定感测的环...

【专利技术属性】
技术研发人员:杰弗逊·L·格金克摩西·M·阿尔特米德
申请(专利权)人:硅谷实验室公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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