一种AOI检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种AOI检测方法及系统，本发明专利技术中的AOI检测系统，通过依次设置的第一定位装置、第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二定位装置、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构，依次对电路板的两面进行AOI检测，实现流水线型的AOI检测方式，由于分工作业，简化了作业难度，使作业熟练度容易提高，并将部分内部时间转化成外部时间，有效提高AOI检测效率，从而提高最大产能；克服现有技术中存在AOI检测效率低下的技术问题。而AOI检测方法，通过流水线型的AOI检测流程，有效提高了AOI检测的效率。

An AOI Detection Method and System

【技术实现步骤摘要】
一种AOI检测方法及系统
本专利技术涉及电路板领域，尤其是一种AOI检测方法及系统。
技术介绍
早期的PCB生产中，检测主要由人工目检配合电检测来完成的，随着电子技术的发展，PCB布线密度不断提高，人工目检难度增大，误判率升高，且对检测者的健康损害更大，电检测程序编制更加烦琐，成本更高，并且无法检测某些类型的缺陷，因此，AOI自动光学检测技术越来越多地应用于PCB制造中。AOI(AutomatedOpticalInspection)检测又称自动光学检测技术，也称为机器视觉检测技术或自动视觉检测，是基于光学原理来对生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI系统组成是由相机、镜头、光源、计算机等通用器件集成的简单光学成像与处理系统。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB采集图像，经过图像处理后，将测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，以检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。虽然使用了AOI系统可以实现自动视觉检测，但是现有工艺中，仍然需要人工参与到PCB的AOI检测工序中，需要工作人员完成PCB上料和下料等操作，导致现有的AOI检测效率仍然低下，因此，亟需对此技术进行改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的是提供一种AOI检测方法及系统，用于减少换料时间以提高AOI检测的效率。本专利技术所采用的技术方案是：第一方面，本专利技术提供一种AOI检测系统，包括依次设置的第一定位装置、第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二定位装置、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构；其中，所述第一定位装置用于将电路板固定至第一预设位置上；所述第一上料机构用于从所述第一预设位置将所述电路板运输至所述第一AOI检测机构的检测位置；所述第一AOI检测机构用于对所述电路板的一面进行第一次AOI检测；所述第一下料机构用于将第一次AOI检测后的电路板运输至所述翻转机构；所述翻转机构用于将第一次AOI检测后的电路板翻转至另一面；所述第二定位装置用于将翻转后的所述电路板固定至第二预设位置上；所述第二上料机构用于从所述第二预设位置上将翻转后的所述电路板运输至所述第二AOI检测机构的检测位置；所述第二AOI检测机构用于对所述电路板的另一面进行第二次AOI检测；所述第二下料机构用于对第二次AOI检测后的电路板进行下料。进一步地，所述AOI检测系统还包括第三上料机构，所述第三上料机构用于将所述电路板运输至所述第一定位装置。进一步地，所述第三上料机构为电路板放板机，用于依次将所述电路板运输至所述第一定位装置。进一步地，所述AOI检测系统还包括第一清洁装置，用于清洁所述电路板的板面，所述第一清洁装置设置在所述第一AOI检测机构的前端。进一步地，所述翻转机构和所述第二AOI检测机构之间还包括第二清洁装置，所述第二清洁装置用于清洁翻转后的所述电路板的另一板面。进一步地，所述翻转机构和所述第二定位装置之间还包括第二输送装置，所述第二输送装置用于将翻转后的所述电路板运输至所述第二定位装置。进一步地，所述第一上料机构包括第一夹持装置，所述第一夹持装置用于从所述第一预设位置夹持所述电路板至所述第一AOI检测机构的检测位置上。进一步地，所述第一下料机构包括第二夹持装置，所述第二夹持装置用于从所述第一AOI检测机构的检测位置上夹持所述电路板至所述翻转机构。进一步地，所述第一下料机构还包括第一输送装置，所述第二夹持装置用于从所述第一AOI检测机构的检测位置上夹持所述电路板至所述第一输送装置，所述第一输送装置用于将所述电路板运输至所述翻转机构。进一步地，所述第二上料机构包括第三夹持装置，所述第三夹持装置用于从所述第二预设位置夹持所述电路板至所述第二AOI检测机构的检测位置上。进一步地，所述第二下料机构包括电路板收板机和第四夹持装置，所述第四夹持装置用于根据所述第一AOI检测机构和所述第二AOI检测机构的检测结果对未通过AOI检测的电路板进行下料，所述电路板收板机用于根据所述第一AOI检测机构和所述第二AOI检测机构的检测结果对通过AOI检测的电路板进行下料。进一步地，所述第一AOI检测机构和/或所述第二AOI检测机构包括两个AOI检测平台。第二方面，本专利技术提供一种AOI检测方法，包括：第一定位步骤：将电路板固定至第一预设位置上以实现电路板的定位；第一AOI检测步骤：对定位后的所述电路板的一面进行第一次AOI检测；翻转步骤：将第一次AOI检测后的所述电路板翻转至所述电路板的另一面；第二定位步骤：将翻转后的所述电路板固定至第二预设位置上以再次对电路板进行定位；第二AOI检测步骤：对定位后的所述电路板的另一面进行第二次AOI检测。本专利技术的有益效果是：本专利技术中的AOI检测系统，通过依次设置的第一定位装置、第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二定位装置、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构，依次对电路板的两面进行AOI检测，实现流水线型的AOI检测方式，由于分工作业，简化了作业难度，使作业熟练度容易提高，并将部分内部时间转化成外部时间，减少了换料时间，有效提高AOI检测效率，从而提高最大产能；克服现有技术中存在AOI检测效率低下的技术问题。而AOI检测方法，通过流水线型的AOI检测流程，有效提高了AOI检测的效率。附图说明图1是AOI检测系统的一种实施例的结构示意图；图2是AOI检测方法的一种实施例的流程示意图。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。实施例1本实施例中，参考图1，图1是AOI检测系统的一种实施例的结构示意图；AOI检测系统包括依次设置的第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构；第一定位装置用于将电路板(如PCB印刷电路板等)固定至第一预设位置上；第一上料机构用于从第一预设位置将电路板运输至第一AOI检测机构的检测位置；由于AOI检测机构一般采用摄像头来获取电路板的图像，并根据获取的图像进行后续的检测工作，因此，AOI检测机构中能使摄像头拍摄到电路板的位置都可以作为检测位置；第一AOI检测机构用于对电路板的一面进行第一次AOI检测，检测这一面的电路板存在的缺陷；第一下料机构用于将第一次AOI检测后的电路板运输至翻转机构；翻转机构用于将第一次AOI检测后的电路板翻转至电路板的另一面；第二定位装置用于将翻转后的电路板固定至第二预设位置上；第二上料机构用于从第二预设位置上将翻转后的电路板运输至第二AOI检测机构的检测位置；第二AOI检测机构用于对电路板的另一面进行第二次AOI检测，检测电路板的另一面所存在的缺陷；第二下料机构用于对第二次AOI检测后的电路板进行下料，以便下料后继续进行后工序生产。本实施例的AOI检测系统依次对电路板的两面进行AOI检测，实现流水线型的AOI检测方式，由于分工作业，简化了作业难度，使作业熟练度容易提高，并通过在AOI检测前设置定位操作，将内部定位时间转化成外部时间，减少了换料时间，有效提高AOI检测效率，从而提高最大产能；克服现有技术中存在AOI检测效率低下的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种AOI检测系统，其特征在于，包括依次设置的第一定位装置、第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二定位装置、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构；其中，所述第一定位装置用于将电路板固定至第一预设位置上；所述第一上料机构用于从所述第一预设位置将所述电路板运输至所述第一AOI检测机构的检测位置；所述第一AOI检测机构用于对所述电路板的一面进行第一次AOI检测；所述第一下料机构用于将第一次AOI检测后的电路板运输至所述翻转机构；所述翻转机构用于将第一次AOI检测后的电路板翻转至另一面；所述第二定位装置用于将翻转后的所述电路板固定至第二预设位置上；所述第二上料机构用于从所述第二预设位置上将翻转后的所述电路板运输至所述第二AOI检测机构的检测位置；所述第二AOI检测机构用于对所述电路板的另一面进行第二次AOI检测；所述第二下料机构用于对第二次AOI检测后的电路板进行下料。

【技术特征摘要】
1.一种AOI检测系统，其特征在于，包括依次设置的第一定位装置、第一上料机构、第一AOI检测机构、第一下料机构、翻转机构、第二定位装置、第二上料机构、第二AOI检测机构和第二下料机构；其中，所述第一定位装置用于将电路板固定至第一预设位置上；所述第一上料机构用于从所述第一预设位置将所述电路板运输至所述第一AOI检测机构的检测位置；所述第一AOI检测机构用于对所述电路板的一面进行第一次AOI检测；所述第一下料机构用于将第一次AOI检测后的电路板运输至所述翻转机构；所述翻转机构用于将第一次AOI检测后的电路板翻转至另一面；所述第二定位装置用于将翻转后的所述电路板固定至第二预设位置上；所述第二上料机构用于从所述第二预设位置上将翻转后的所述电路板运输至所述第二AOI检测机构的检测位置；所述第二AOI检测机构用于对所述电路板的另一面进行第二次AOI检测；所述第二下料机构用于对第二次AOI检测后的电路板进行下料。2.根据权利要求1所述的AOI检测系统，其特征在于，所述AOI检测系统还包括第三上料机构，所述第三上料机构用于将所述电路板运输至所述第一定位装置。3.根据权利要求2所述的AOI检测系统，其特征在于，所述第三上料机构为电路板放板机，用于依次将所述电路板运输至所述第一定位装置。4.根据权利要求1至3任一项所述的AOI检测系统，其特征在于，所述AOI检测系统还包括第一清洁装置，用于清洁所述电路板的板面，所述第一清洁装置设置在所述第一AOI检测机构的前端。5.根据权利要求1至3任一项所述的AOI检测系统，其特征在于，所述翻转机构和所述第二AOI检测机构之间还包括第二清洁装置，所述第二清洁装置用于清洁翻转后的所述电路板的另一板面。6.根据权利要求1至3任一项所述的AOI检测系统，其特征在于，所述翻转机构和所述第二定位装置之间还包括第二输送装置，所述第二输送装置用于将翻转后的所述电路板运输至所述第二定位装置。7.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：许宗琛，孙文兵，
申请(专利权)人：深圳明阳电路科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44