【技术实现步骤摘要】
酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法和系统
本专利技术涉及废液处理
,特别涉及一种酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法和系统。
技术介绍
目前,单晶硅或多晶硅是制造集成电路、光伏太阳能电池的理想材料。在现有的制备单晶硅或多晶硅工艺过程中,除了利用化学腐蚀方法去除硅表面的杂质外,还需要高浓度的硝酸和氢氟酸对其进行化学清洗,清洗后的酸刻蚀硅晶片废酸液中含有硝酸,氢氟酸,氟硅酸等酸液。可想而知,这种酸刻蚀硅晶片废酸液具有较强的酸性、腐蚀性,不经处理排放将带来不可估量的环境危害。目前,单晶硅或多晶硅生产企业对酸刻蚀硅晶片废酸液的处理方法,一般按照浓酸废酸液的处理方法进行处理,即加入适量的氢氧化钙中和,再在溶液中添加聚合氯化铝(PAC)、聚丙烯酰胺(PAM)等絮凝剂,除去溶液中的氟离子、氟硅酸根离子,调节溶液pH值,最终使溶液达标排放。而通过絮凝剂沉积氟离子和氟硅酸根离子,会产生大量的废渣,这些废渣必须按照高危固废处理。其可能引起其他的环境污染问题,对氟离子和氟硅酸根离子资源也是一种浪费。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法和系统,实现了对酸刻蚀硅晶片废酸液资源化利用。一种酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,包括:制备氟硅酸钠固体的步骤:搅拌酸刻蚀硅晶片废酸液,并按照一定速率,将钠盐溶液添加到所述酸刻蚀硅晶片废酸液中,并持续搅拌30~180min,形成第一固液混合物,对所述第一固液混合物进行离心操作,得到氟硅酸钠固体和第一滤液;制备氟化氢钠固体的步骤:搅拌所述第一滤液,向所述第一滤液中添加氢氧化钠溶液,控制所述第一滤液pH至2-4,并持续搅拌20~60min, ...
【技术保护点】
1.一种酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,包括:制备氟硅酸钠固体的步骤:搅拌酸刻蚀硅晶片废酸液,并按照一定速率,将钠盐溶液添加到所述酸刻蚀硅晶片废酸液中,并持续搅拌30~180min,形成第一固液混合物,对所述第一固液混合物进行离心操作,得到氟硅酸钠固体和第一滤液;制备氟化氢钠固体的步骤:搅拌所述第一滤液,向所述第一滤液中添加氢氧化钠溶液,控制所述第一滤液pH至2‑4,并持续搅拌20~60min,形成第二固液混合物,对所述第二固液混合物进行离心操作,得到氟化氢钠固体和第二滤液;制备氟化钙固体的步骤:搅拌所述第二滤液,向所述第二滤液中添加氯化钙溶液,并采用氢氧化钠溶液调节所述第二滤液pH至2‑4,持续搅拌20~60min,形成第三固液混合物,对所述第三固液混合物进行离心操作,得到氟化钙固体和第三滤液;中和处理步骤:搅拌所述第三滤液,向所述第三滤液添加石灰乳,调节所述第三滤液pH至8‑9,形成沉淀物和第四滤液,分离所述沉淀物和所述第四滤液,回收所述第四滤液,并将所述沉淀物作为固废处理。
【技术特征摘要】
1.一种酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,包括:制备氟硅酸钠固体的步骤:搅拌酸刻蚀硅晶片废酸液,并按照一定速率,将钠盐溶液添加到所述酸刻蚀硅晶片废酸液中,并持续搅拌30~180min,形成第一固液混合物,对所述第一固液混合物进行离心操作,得到氟硅酸钠固体和第一滤液;制备氟化氢钠固体的步骤:搅拌所述第一滤液,向所述第一滤液中添加氢氧化钠溶液,控制所述第一滤液pH至2-4,并持续搅拌20~60min,形成第二固液混合物,对所述第二固液混合物进行离心操作,得到氟化氢钠固体和第二滤液;制备氟化钙固体的步骤:搅拌所述第二滤液,向所述第二滤液中添加氯化钙溶液,并采用氢氧化钠溶液调节所述第二滤液pH至2-4,持续搅拌20~60min,形成第三固液混合物,对所述第三固液混合物进行离心操作,得到氟化钙固体和第三滤液;中和处理步骤:搅拌所述第三滤液,向所述第三滤液添加石灰乳,调节所述第三滤液pH至8-9,形成沉淀物和第四滤液,分离所述沉淀物和所述第四滤液,回收所述第四滤液,并将所述沉淀物作为固废处理。2.根据权利要求1所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,所述回收所述第四滤液,包括:对所述第四滤液进行蒸发浓缩,得到浓缩后的含钠盐废液;对所述浓缩后的含钠盐废液进一步浓缩,按照不同钠盐溶解度随温度变化的差异,分别结晶出不同的钠盐。3.根据权利要求1所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,搅拌的速率为120转/min~220转/min。4.根据权利要求1所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,所述按照一定速率,将钠盐溶液添加到所述酸刻蚀硅晶片废酸液中,包括:按照每立方米的所述酸刻蚀硅晶片废酸液添加不低于50kg的饱和钠盐溶液的标准,将饱和钠盐溶液添加到所述酸刻蚀硅晶片废酸液中,并控制所有饱和钠盐溶液匀速在60~90min内添加完毕。5.根据权利要求1所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,所述制备氟化钙固体的步骤中,进一步包括:按照所述第二滤液中氟离子的量以及氟离子与钙离子的摩尔比1.6~1.9,确定所述氯化钙溶液的用量。6.根据权利要求4所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,所述饱和钠盐溶液的添加量,利用下述计算公式计算得到;其中,m表征每立方米酸刻蚀硅晶片废酸液对应的饱和钠盐溶液的添加量,单位为kg/m3;K表征修正系数,K取值范围为4.2~4.7;ω2表征所述酸刻蚀硅晶片废酸液中氟硅酸的百分含量;M2表征氟硅酸的摩尔质量;M1表征所述饱和钠盐溶液中钠盐的摩尔质量;ω1表征所述饱和钠盐溶液中钠盐的百分含量。7.根据权利要求1至6任一所述的酸刻蚀硅晶片废酸液处理方法,其特征在于,所述钠盐包括:氯化钠和/或硝酸钠;和/或,该方法进一步包括:分别控制制备氟硅酸钠固体的温...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨招艺,虞红波,徐俊,王坤琴,
申请(专利权)人:北京环球中科水务科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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