一种小型晶体摆放治具平整度检测装置制造方法及图纸

技术编号:21862379 阅读:22 留言:0更新日期:2019-08-14 05:48
本实用新型专利技术公开了一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,包括检测底板,安装在检测底板两侧用于限制治具的侧挡板,所述检测底板的一端设置有上挡板,所述检测底板上还设置有与上挡板平行设置的检测板,所述检测板的底面为平面结构,且检测板与检测底板间留有供治具通过的检测间隙。本实用新型专利技术结构简单,操作方便,检测效率高,可广泛应用于小型晶体摆放治具的检测领域。

A Smoothness Testing Device for Small Crystal Placement Fixtures

【技术实现步骤摘要】
一种小型晶体摆放治具平整度检测装置
本技术涉及小型晶体制造工装夹具
,尤其是涉及一种小型晶体摆放治具平整度检测装置。
技术介绍
现有小型晶体加工过程中,需要将小型晶体放置在治具内进行加工,随着小型晶体加工的精密度要求越来越高,其对治具的平整度要求也越来越高。在实际生产加工中,治具用久了由于各种原因会导致治具的变形。治具变形会造成加工设置的损坏,甚至会造成设备的停机检修,不利于自动化的加工。同时,治具变形会造成治具内的小型晶体位置不对应,造成加工产品的报废。而治具的微小变形人肉眼很难判断出来,因此,需要设计一种快速检测治具平整度的装置,以便提高生产的可靠性。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,解决现有治具平整度检测不方便的问题。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,包括检测底板,安装在检测底板两侧用于限制治具的侧挡板,所述检测底板的一端设置有上挡板,所述检测底板上还设置有与上挡板平行设置的检测板,所述检测板的底面为平面结构,且检测板与检测底板间留有供治具通过的检测间隙。为方便调整检测间隙,所述检测板的两端固定设置有高度调节杆,高度调节杆的下段为螺纹杆,所述检测底板上设置有螺纹安装孔,高度调节杆与检测底板螺纹连接。为精确控制检测间隙,所述侧挡板的侧面设置有与检测间隙对应的刻度表。为便于保护通过检测间隙的治具,所述检测底板相对于上挡板的另一端还设置有下挡板,所述下挡板内设置有一层海绵垫,所述检测板到上挡板和下挡板的距离大于治具的长度。为方便治具通过检测间隙,所述检测底板上还连接设置有支撑座,支撑座与检测底板间通过销轴连接使得检测底板可绕支撑座转动,所述支撑座位于检测底板的中间位置,所述检测底板位于上挡板的一端还设置有支撑轴。为方便人工操作,所述上挡板上设置有手提把手。本技术的有益效果:通过该检测装置能够快速的检测出治具是否有变形,操作简单,方便,检测效率高。所述检测间隙通过高度调节杆进行调节,方便对不同尺寸的治具进行检测。所述下挡板及海绵垫,能够很好的保护治具不会在检测时受到二次损坏。所述支撑座的结构,使得检测底板可以进行转动,方便治具在检测底板上滑动,提高操作的便利性。以下将结合附图和实施例,对本技术进行较为详细的说明。附图说明图1为本技术的侧视图。图2为本技术的俯视图。具体实施方式实施例,如图1、图2所示,一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,包括检测底板1,安装在检测底板1两侧用于限制治具的侧挡板2,所述检测底板1的一端设置有上挡板3,所述检测底板1上还设置有与上挡板3平行设置的检测板4,所述检测板4的底面为平面结构,且检测板4与检测底板1间留有供治具通过的检测间隙5。所述检测底板1相对于上挡板3的另一端还设置有下挡板8,所述下挡板8内设置有一层海绵垫9,所述检测板4到上挡板3和下挡板8的距离大于治具的长度。所述检测板4的两端固定设置有高度调节杆6,高度调节杆6的下段为螺纹杆,所述检测底板1上设置有螺纹安装孔,高度调节杆6与检测底板1螺纹连接。通过转动高度调节杆6带动检测板4上下移动,从而调节检测间隙5的大小。所述侧挡板2的侧面设置有与检测间隙5对应的刻度表7,方便准确确认检测间隙的尺寸,以满足不同尺寸治具的检测要求,提高设备的通用性。为方便操作,所述检测底板1上还连接设置有支撑座10,支撑座10与检测底板1间通过销轴连接使得检测底板1可绕支撑座10转动,所述支撑座10位于检测底板1的中间位置,所述检测底板1位于上挡板3的一端还设置有支撑轴11。所述上挡板3上设置有手提把手12。检测时,先将检测底板1放平,通过支撑座10和支撑轴11支撑,调整好检测间隙5后放上待检测治具,手拉手提把手12上提,使检测底板1绕支撑座10转动一定角度,当检测底板1倾斜后,治具就会滑下检测板4,若治具平整无损坏,即可顺利通过检测间隙5,若有损坏,就是停在检测间隙5处,即为不合格治具。以上结合附图对本技术进行了示例性描述。显然,本技术具体实现并不受上述方式的限制。只要是采用了本技术的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进;或未经改进,将本技术的上述构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,其特征在于:包括检测底板(1),安装在检测底板(1)两侧用于限制治具的侧挡板(2),所述检测底板(1)的一端设置有上挡板(3),所述检测底板(1)上还设置有与上挡板(3)平行设置的检测板(4),所述检测板(4)的底面为平面结构,且检测板(4)与检测底板(1)间留有供治具通过的检测间隙(5)。

【技术特征摘要】
1.一种小型晶体摆放治具平整度检测装置,其特征在于:包括检测底板(1),安装在检测底板(1)两侧用于限制治具的侧挡板(2),所述检测底板(1)的一端设置有上挡板(3),所述检测底板(1)上还设置有与上挡板(3)平行设置的检测板(4),所述检测板(4)的底面为平面结构,且检测板(4)与检测底板(1)间留有供治具通过的检测间隙(5)。2.如权利要求1所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置,其特征在于:所述检测板(4)的两端固定设置有高度调节杆(6),高度调节杆(6)的下段为螺纹杆,所述检测底板(1)上设置有螺纹安装孔,高度调节杆(6)与检测底板(1)螺纹连接。3.如权利要求2所述的小型晶体摆放治具平整度检测装置,其特征在于:所述侧挡板(2)的侧面设置有与检测间隙(5)对应...

【专利技术属性】
技术研发人员:王文博林土全詹啸程浩金春建
申请(专利权)人:黄山东晶电子有限公司
类型:新型
国别省市:安徽,34

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