一种集成电路测试载板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试载板，包括测试仪本体，所述测试仪本体的表面设有凹槽，所述凹槽的内部两侧均设有滑槽，所述滑槽的内部滑动安装有滑杆，所述滑杆的另一端固定连接有活动板，所述活动板的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的表面通过螺纹连接有测试载板，所述测试载板的两侧均设有螺纹槽，所述紧固螺栓的一端通过螺纹连接螺纹槽内。该集成电路测试载板通过将测试载板拉出凹槽的内部，能够将集成电路放置在测试载板的表面进行测试，能够避免出现集成电路沾染污垢导致无法使用的情况，并且通过清洁辊能够对测试载板的表面进行清理，使得测试载板的表面保持洁净。

An Integrated Circuit Test Board

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试载板
本技术涉及集成电路
，具体为一种集成电路测试载板。
技术介绍
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一，因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。目前，现有的测试仪在使用时，大都是将集成电路直接放置在桌面上进行测试，容易出现集成电路沾染污垢导致无法使用的情况。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试载板，以解决集成电路直接放置在桌面上进行测试，容易沾染污垢的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试载板，包括测试仪本体，所述测试仪本体的表面设有凹槽，所述凹槽的内部两侧均设有滑槽，所述滑槽的内部滑动安装有滑杆，所述滑杆的另一端固定连接有活动板，所述活动板的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的表面通过螺纹连接有测试载板，所述测试载板的两侧均设有螺纹槽，所述紧固螺栓的一端通过螺纹连接螺纹槽内。优选的，所述滑杆的一端侧面设有珠槽，所述珠槽的内部转动卡接有滚珠。优选的，所述凹槽的内壁固定嵌入有第一磁铁，所述活动板的表面固定嵌入有第二磁铁，所述第一磁铁和第二磁铁的对立面磁极相反。优选的，所述凹槽的内侧上端固定连接有固定杆，所述固定杆的表面套设有活动杆，所述活动杆的侧面下端通过轴承连接有清洁辊。优选的，所述活动杆的内部设有弹簧槽，所述固定杆下端穿插于弹簧槽内固定连接有防脱板，所述防脱板的下表面固定连接有弹簧，所述弹簧的下端固定连接于弹簧槽内。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该集成电路测试载板通过将测试载板拉出凹槽的内部，能够将集成电路放置在测试载板的表面进行测试，能够避免出现集成电路沾染污垢导致无法使用的情况，并且测试完成后将测试载板推入凹槽内部时，通过清洁辊能够对测试载板的表面进行清理，使得测试载板的表面保持洁净。附图说明图1为本技术的整体结构主视图；图2为本技术的整体结构俯视截面图；图3为本技术的整体结构正面局部截面图；图4为本技术图3中A处的放大图；图5为本技术活动杆的截面图。图中：1测试仪本体、2凹槽、3滑槽、4滑杆、5活动板、6紧固螺栓、7测试载板、8螺纹槽、9珠槽、10滚珠、11第一磁铁、12第二磁铁、13固定杆、14活动杆、15清洁辊、16弹簧槽、17防脱板、18弹簧。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。请参阅图1，一种集成电路测试载板，包括测试仪本体1，测试仪本体1的表面设有凹槽2，请参阅图2，凹槽2的内部两侧均设有滑槽3，滑槽3的内部滑动安装有滑杆4，滑槽3为长方形滑槽，滑杆4为长方形杆，通过滑槽3和滑杆4相配合，能够避免出现滑杆4在滑槽3内部转动的情况，滑杆4的一端侧面设有珠槽9，珠槽9的内部转动卡接有滚珠10，在滑杆4移动时能够带动滚珠10转动，从而减小滑杆4受到的摩擦阻力，滑杆4的另一端固定连接有活动板5，凹槽2的内壁固定嵌入有第一磁铁11，活动板5的表面固定嵌入有第二磁铁12，第一磁铁11和第二磁铁12的对立面磁极相反，通过第一磁铁11和第二磁铁12相互吸引，能够将活动板5和测试载板7固定在凹槽2的内部，避免出现测试载板7自动滑出的情况，活动板5的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓6，紧固螺栓6的表面通过螺纹连接有测试载板7，测试载板7的两侧均设有螺纹槽8，紧固螺栓6的一端通过螺纹连接螺纹槽8内，拧松紧固螺栓6，能够对测试载板7进行转动，调节测试载板7的倾斜角度，然后拧紧紧固螺栓6，能够对测试载板7的倾斜角度进行固定，然后将集成电路放置在测试载板7的表面，方便测试。请参阅图3，凹槽2的内侧上端固定连接有固定杆13，固定杆13的表面套设有活动杆14，活动杆14的侧面下端通过轴承连接有清洁辊15，请参阅图5，活动杆14的内部设有弹簧槽16，固定杆13下端穿插于弹簧槽16内固定连接有防脱板17，防脱板17的下表面固定连接有弹簧18，弹簧18的下端固定连接于弹簧槽16内，清洁辊15的下端紧贴在测试载板7的上表面，使得弹簧18处于压缩状态，在测试载板7使用完成后推入凹槽2内部时，清洁辊15能够对测试载板2的上表面进行清理，使得测试载板7保持洁净。本技术在具体实施时：在使用时，拉动测试载板7，测试载板7带动活动板5移动，使得第一磁铁11和第二磁铁12分离，从而能够将测试载板7拉出凹槽2的内部，然后将集成电路放置在测试载板7的表面进行测试，能够避免出现集成电路沾染污垢导致无法使用的情况，并且测试完成后将测试载板7推入凹槽2内部时，通过清洁辊15能够对测试载板7的表面进行清理，使得测试载板7的表面保持洁净。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试载板，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的表面设有凹槽(2)，所述凹槽(2)的内部两侧均设有滑槽(3)，所述滑槽(3)的内部滑动安装有滑杆(4)，所述滑杆(4)的另一端固定连接有活动板(5)，所述活动板(5)的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓(6)，所述紧固螺栓(6)的表面通过螺纹连接有测试载板(7)，所述测试载板(7)的两侧均设有螺纹槽(8)，所述紧固螺栓(6)的一端通过螺纹连接螺纹槽(8)内。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试载板，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的表面设有凹槽(2)，所述凹槽(2)的内部两侧均设有滑槽(3)，所述滑槽(3)的内部滑动安装有滑杆(4)，所述滑杆(4)的另一端固定连接有活动板(5)，所述活动板(5)的两侧均通过螺纹连接有紧固螺栓(6)，所述紧固螺栓(6)的表面通过螺纹连接有测试载板(7)，所述测试载板(7)的两侧均设有螺纹槽(8)，所述紧固螺栓(6)的一端通过螺纹连接螺纹槽(8)内。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：所述滑杆(4)的一端侧面设有珠槽(9)，所述珠槽(9)的内部转动卡接有滚珠(10)。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱志辉，
申请(专利权)人：深圳市金道微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44