集成电路制造技术

本公开提供了一种集成电路。本公开涉及用于生产测试和调试的集成电路的电压水平监测。扫描链从功能电路的测试中收集扫描链数据，并且输出包含扫描链数据的扫描链信号。电压监测器电路进行操作以将电源电压与阈值进行比较，并且在电源电压越过阈值时断言复位信号。复位信号复位触发器电路，触发器电路的输出信号控制逻辑电路的操作，逻辑电路阻止扫描链信号传递到集成电路探针焊盘，并且替代地向探针焊盘施加恒定的逻辑信号，表示电压监测错误。

Integrated circuit

【技术实现步骤摘要】
集成电路
本公开一般涉及集成电路的测试和故障状况的确定。
技术介绍
尽管半导体处理技术继续向前发展，但集成电路经常包括制造误差。当集成电路仍然是生产晶圆的一部分时，通常在晶圆上执行测试以识别不能正确地执行的单独的集成电路。当随后切割晶圆以产生单独的集成电路裸片时，具有未通过测试的集成电路的每个分离的裸片可以从生产中隔离。具有通过测试的集成电路的分离的裸片被转发用于进一步处理(诸如，例如封装)。具有未通过测试的集成电路的隔离的裸片可以被丢弃，并且还可以接受进一步测试以试图识别精确的引起测试失败的电路。为了辅助晶圆上的测试过程，每个集成电路通常包括特别设计的测试电路。使用自动测试设备(ATE)访问该测试电路，自动测试设备(ATE)通过电连接到测试电路的探针焊盘探测集成电路。可以将电压施加到某些探针焊盘，可以将控制信号施加到其它探针焊盘，并且可以从另外的探针焊盘获得测试输出信号。特别重要的测试的一个方面评估集成电路在极端操作状况下的操作。例如，在与温度相关联的极端条件(高温和低温)以及电源电压的极端条件(高压和低压)下。集成电路必须在这些极端条件下通过测试以便继续进行进一步处理。图1示出了集成电路的功率管理电路10的简化框图。功率管理电路10包括多个功能电压监测器(FVM)16。这些功能电压监测器16每个都与某个电源节点18相关联。例如，电源节点可以是相对较高的电源电压(HV)节点、相对较低的电源电压(LV)节点或处于它们之间的电压的(中间)电源电压(MV)节点。电源节点可以连接到集成电路的焊盘，或者可以连接到包含在集成电路内的电源电路(诸如电压调节器)的输出。每个功能电压监测器16进行操作以将相关联的电源节点18处的电压与电压阈值进行比较。在被监测的电源电压越过(例如，下降到低于)电压阈值的情况下，功能电压监测器16断言(asserts)复位信号20。在欠压监测的情况下的复位信号20通常是上电复位(POR)类型，其使得集成电路的功能电路24复位它们的操作。尽管图1示出了单个HV功能电压监测器16，但是应当理解，功率管理电路10可以包括与在一定电压范围内的高电压监测相关的多个功能电压监测器(诸如，例如在2.7V至6V的范围内，多个所包括的HV电压监测器中的特定的一些与不同的阈值相关联，诸如2.7V、3.0V、......、6V)。同样地，MV功能电压监测器代表与在一定电压范围内的中电压监测相关的多个功能电压监测器(诸如，例如在1.5V至2.16V的范围内，多个MV电压监测器中的特定的一些与不同的阈值相关联，诸如1.5V、......、2.16V)。更进一步，LV功能电压监测器代表与在一定范围的电压内的低电压监测相关的多个功能电压监测器(诸如，例如在0.65V至1.15V的范围内，多个LV电压监测器中的特定的一些与不同的阈值相关联，诸如0.65V、......、1.15V)。在集成电路测试期间，并且特别是与集成电路在电源电压和温度的极端条件下的测试相关联，自动测试设备可以将某些电压施加到电源节点18。作为施加的极端操作状况测试的结果，通过功能电压监测器16监测的在电源节点18中给定的一个电源节点处的电压可能下降到测试阈值以下并且引起功能电路24的复位(通过POR)。在某些情况下，这是不合需要的，因为然后测试必须在继续下一个测试之前等待功能电路复位，因此延迟了测试处理的完成。为了解决前述问题，在本领域中已知的是在测试期间屏蔽复位信号20。在功能电压监测器16的输出和功能电路24之间相应地提供响应于测试模式信号32的屏蔽电路30(诸如逻辑门电路)。当测试模式信号32被断言时，屏蔽电路30阻止复位信号20以免传输到功能电路24并引起它们的复位。
技术实现思路
在实施例中，一种电路包括：功能电路；扫描链，被耦合到功能电路，并且被配置为从功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含扫描链数据的扫描链信号；电压监测器电路，被配置为将电源电压与阈值进行比较，并且在电源电压越过阈值时断言复位信号；触发器电路，被配置为接收复位信号并且响应于复位信号的断言而改变触发器输出信号的逻辑状态；以及逻辑电路，被配置为响应于触发器输出信号的被改变的逻辑状态而阻止扫描链信号传递到集成电路探针焊盘，其中所述集成电路探针焊盘用于通过自动测试设备进行探测。在实施例中，一种电路包括：功能电路；扫描链，被耦合到功能电路，并且被配置为从功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含扫描链数据的扫描链信号；第一电压监测器电路，被配置为将第一电源电压与第一阈值进行比较，并且当第一电源电压越过第一阈值时断言第一复位信号；第一触发器电路，被配置为接收第一复位信号并且响应于第一复位信号的断言而改变第一触发器输出信号的逻辑状态；第二电压监测器电路，被配置为将第二电源电压与第二阈值进行比较，并且在第二电源电压越过第二阈值时断言第二复位信号；第二触发器电路，被配置为接收第二复位信号并且响应于第二复位信号的断言而改变第二触发器输出信号的逻辑状态；第一逻辑门，被配置为逻辑地组合第一触发器输出信号和第二触发器输出信号以生成控制信号；第二逻辑门，具有被配置为接收扫描链信号的第一输入和被配置为接收控制信号的第二输入；多路复用器电路，具有被配置为接收扫描链信号的第一输入和被配置为接收从第二逻辑门输出的信号的第二输入；以及集成电路探针焊盘，被连接到多路复用器电路的输出，其中所述集成电路探针焊盘用于通过自动测试设备进行探测。在实施例中，一种电路包括：功能电路；扫描链，被耦合到功能电路，并且被配置为从功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含扫描链数据的扫描链信号；第一电压监测器电路，被配置为将第一电源电压与第一阈值进行比较，并且当第一电源电压越过第一阈值时断言第一复位信号；第一触发器电路，被配置为接收第一复位信号并且响应于第一复位信号的断言而改变第一触发器输出信号的逻辑状态；第二电压监测器电路，被配置为将第二电源电压与第二阈值进行比较，并且在第二电源电压越过第二阈值时断言第二复位信号；第二触发器电路，被配置为接收第二复位信号并且响应于第二复位信号的断言而改变第二触发器输出信号的逻辑状态；以及多路复用器，具有被耦合以接收扫描链信号的第一输入、被耦合以接收第一编码信号的第二输入和被耦合以接收第二编码信号的第三输入，所述多路复用器通过多位选择信号控制，所述多位选择信号被解码以使得在第一输入、第二输入和第三输入之间进行选择，以用于连接到输出，该输出被耦合到探针焊盘。通过以下结合附图对实施例的详细描述，本公开的前述和其它特征以及优点将变得更加明显。详细描述和附图仅是对本公开的说明，而不是限制通过所附权利要求及其等同限定的本技术的范围。附图说明在附图中通过示例的方式示出了实施例，附图不一定按比例绘制，其中相同的数字表示相似的部分，并且其中：图1示出了用于集成电路的现有技术功率管理电路的框图；图2示出了用于集成电路的测试电路的电路图；图3A-图3C示出了用于测试电路的各种操作状况的波形；以及图4示出了用于集成电路的测试电路的电路图。具体实施方式现在参考图2，其示出了用于集成电路52内的测试电路50的电路图。集成电路52包括功能电路24(为清楚起见，这里仅示出一个)。测试电路50包括扫描链56本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路，其特征在于，包括：功能电路；扫描链，被耦合到所述功能电路，并且被配置为从所述功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含所述扫描链数据的扫描链信号；电压监测器电路，被配置为将电源电压与阈值进行比较，并且在所述电源电压越过所述阈值时断言复位信号；触发器电路，被配置为接收所述复位信号，并且响应于所述复位信号的断言而改变触发器输出信号的逻辑状态；以及逻辑电路，被配置为响应于所述触发器输出信号的被改变的逻辑状态而阻止所述扫描链信号传递至集成电路探针焊盘，其中所述集成电路探针焊盘用于通过自动测试设备进行探测。

【技术特征摘要】
2017.09.22 US 15/712,7781.一种集成电路，其特征在于，包括：功能电路；扫描链，被耦合到所述功能电路，并且被配置为从所述功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含所述扫描链数据的扫描链信号；电压监测器电路，被配置为将电源电压与阈值进行比较，并且在所述电源电压越过所述阈值时断言复位信号；触发器电路，被配置为接收所述复位信号，并且响应于所述复位信号的断言而改变触发器输出信号的逻辑状态；以及逻辑电路，被配置为响应于所述触发器输出信号的被改变的逻辑状态而阻止所述扫描链信号传递至集成电路探针焊盘，其中所述集成电路探针焊盘用于通过自动测试设备进行探测。2.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述触发器电路包括接收所述复位信号的时钟输入以及接收设置信号的设置输入。3.根据权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述设置信号被断言以在测试操作开始之前将所述触发器电路设置在第一逻辑状态，并且被断言的复位信号使得所述触发器电路复位到第二逻辑状态。4.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述逻辑电路包括：多路复用器电路，具有接收所述扫描链信号的第一输入、第二输入和耦合到所述探针焊盘的输出；以及逻辑传递门，具有接收所述扫描链信号的第一输入、接收所述触发器输出信号的第二输入和耦合到所述多路复用器的所述第二输入的输出。5.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于，所述多路复用器包括控制输入，所述控制输入被配置为接收选择信号，其中所述选择信号的逻辑状态选择所述多路复用器的所述第一输入和所述第二输入中的哪个连接到所述多路复用器的所述输出。6.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于，如果所述触发器输出信号的所述逻辑状态未改变，则所述逻辑传递门操作以将所述扫描链信号传递到所述第二输入，并且如果所述触发器输出信号的所述逻辑状态已改变，则所述逻辑传递门进一步操作以将固定逻辑电平信号施加到所述第二输入。7.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于，所述逻辑传递门是逻辑与门。8.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述逻辑电路包括：多路复用器电路，具有接收所述扫描链信号的第一输入、接收第一代码信号的第二输入和耦合到所述探针焊盘的输出，所述多路复用器进一步接收包括与所述触发器输出信号相对应的位的选择信号，所述选择信号被解码以使得在所述第一输入和所述第二输入之间进行选择，以用于连接到所述输出，所述输出耦合到所述探针焊盘。9.根据权利要求8所述的集成电路，其特征在于，所述多路复用器包括接收附加代码信号的第三输入，所述电路进一步包括：附加电压监测器电路，被配置为将附加电源电压与附加阈值进行比较，并且当所述附加电源电压越过所述附加阈值时，断言附加复位信号；附加触发器电路，被配置为接收所述附加复位信号并且响应于所述附加复位信号的断言而改变附加触发器输出信号的逻辑状态；其中所述选择信号进一步包括与所述附加触发器输出信号相对应的附加位，所述选择信号被解码以使得在所述第一输入、所述第二输入和所述第三输入之间进行选择，以用于连接到所述输出，所述输出耦合到所述探针焊盘。10.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，进一步包括连接到所述触发器电路的所述输出的调试焊盘，其中所述调试焊盘不用于在电子晶圆分类(EWS)期间通过自动测试设备进行探测，而是可用于在封装测试期间连接到测试设备。11.一种集成电路，其特征在于，包括：功能电路；扫描链，被耦合到所述功能电路，并且被配置为从所述功能电路的测试中收集扫描链数据并输出包含所述扫描链数据的扫描链信号；第一电压监测器电路，被配置为将第一电源电压与第一阈值进行比较，并且当所述第一电源电压越过所述第一阈值时断言第一复位信号；第一触发器电路，被配置为接...

【专利技术属性】
技术研发人员：V·斯里尼瓦桑，S·S·马尔希，
申请(专利权)人：意法半导体国际有限公司，
类型：新型
国别省市：荷兰,NL