一种离型膜保护膜的硅转移测试方法技术

本发明专利技术公开一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。本发明专利技术通过设置测试组以及对照组，并且将两组的测试数据进行计算，从而快速计算硅转移率，方便快捷，且测试结果准确率高。

A Silicon Transfer Testing Method for Separated Membrane Protective Film

【技术实现步骤摘要】
一种离型膜保护膜的硅转移测试方法
本专利技术涉及离型膜生产
，具体为一种离型膜保护膜的硅转移测试方法。
技术介绍
离型膜又称剥离膜、隔离膜、分离膜、硅油膜、防粘膜，是指表面具有分离性的薄膜，是将塑料薄膜做等离子处理，或涂氟处理，或涂硅离型剂于薄膜材质的表层上，如PET、PE、OPP等等，让它对于各种不同的有机压感胶可以表现出极轻且稳定的离型力，主要有基材，底胶和离型剂组成，在离型纸与离型膜的结构中，硅酮是重要的功能组分，起着与压敏胶分离的作用。然而在生产过程中，离型膜容易出现硅转移，影响产品的质量，进而需要离型膜的硅转移进行测试。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。

【技术特征摘要】
1.一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的表面，并使用手指抚平，然后将胶带A与离型膜分离；步骤S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的表面，同时使胶带B的b1端贴附于b2端的表面；步骤S4：分别施加作用力使胶带A、胶带B分离，并将施加的作用力分别记为F1、F2；步骤S5：设置范围并计算转移率P，其中转移率为P＝F1/F2。2.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S1中截取胶带时，其中胶带A、胶带B等长、等宽，且两者型号形同。3.根据权利要求1所述的一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，其特征在于：步骤S3中，胶带A的两端贴附的面积与胶带B...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘勇雄，
申请(专利权)人：深圳市普利司德高分子材料有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44