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本发明公开一种离型膜保护膜的硅转移测试方法，包括如下步骤：步骤S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两端分别记为a1、a2端，胶带B的两端记为b1、b2；步骤S2：将...
该专利属于深圳市普利司德高分子材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市普利司德高分子材料有限公司授权不得商用。

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