光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置制造技术

公开了一种光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置。该光学测量设备包括测量头、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳，内壳被至少部分地布置在外壳中，测量头被布置在外壳中并且被从其第一端附接到测量孔口且被从其第二端附接到内壳的一端，垫圈被布置在测量头和测量孔口之间，并且在外壳内部布置有从垫圈朝向紧固凸缘部分延伸的流体流动路径，其中朝外壳形成有渗漏检测端口，该渗漏检测端口具有进入流体流动路径开口的一个端部和进入紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部，其中紧固凸缘在进入侧表面的开口和测量孔口之间突出。

Optical measuring equipment, refractometer and arrangement for optical measurement

An optical measuring device, a refractometer and an arrangement for optical measurement are disclosed. The optical measuring device comprises a measuring head, an inner shell comprising a light transmitter and an optical receiver, a measuring orifice at one end and a fastening flange part at the other end. The inner shell is at least partially arranged in the outer shell, and the measuring head is arranged in the outer shell and attached from the first end to the measuring orifice and from the second end to the end of the inner shell, and the gasket is distributed. Between the measuring head and the measuring orifice, a fluid flow path extending from the gasket toward the fastening flange part is arranged inside the housing, in which a leakage detection port is formed toward the housing. The leakage detection port has one end into the opening of the fluid flow path and another end of the lateral surface opening into the outer wall of the fastening flange part, in which the fastening flange enters. The entrance surface is protruded between the opening and the measuring hole.

【技术实现步骤摘要】
光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置
本专利技术涉及光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置。
技术介绍
光学测量设备被用于监视、控制和管理工艺。光学测量设备的示例是折射计，其借助于在光学窗口和工艺介质之间的界面处所产生的全反射来测量该工艺介质的折射率。由光学测量设备测量的工艺介质可能是热的、加压的、侵蚀性的或在其他方面危险的。操作故障(例如从工艺到光学测量设备中的渗漏)通常由湿度传感器和/或光学测量设备内部的电子器件来检测。这防止了由装配或连接故障而造成的伤害，并且保护测量设备和用户。如果工艺介质是食物产品(例如，乳制品、液体食品、液态糖或饮料)，则到光学测量设备中的渗漏造成了污染风险。腐败和致病细菌的生长在光学测量设备内部的渗漏的工艺介质中开始。于是，如果工艺侧上的压力下降，则受污染的渗漏的工艺介质被输送到工艺介质。以上所描述的布置的问题在于，在工艺介质和光学测量设备之间的配件或连接中的故障之际，用户不会注意到故障，而工艺介质和光学测量设备内部之间的压力差推动渗漏的工艺介质回到工艺侧。如果湿度传感器和/或光学测量设备内部的电子器件出于某种原因而没有被打开，则故障也可能保持未被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测量设备，所述光学测量设备包括测量头、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳，所述内壳被至少部分地布置在所述外壳中，所述测量头被布置在所述外壳中并且被从其第一端附接到所述测量孔口且被从其第二端附接到所述内壳的一端，垫圈被布置在所述测量头和所述测量孔口之间，并且在所述外壳内部布置有从所述垫圈朝向所述紧固凸缘部分延伸的流体流动路径，其中朝所述外壳形成有渗漏检测端口，所述渗漏检测端口具有进入所述流体流动路径开口的一个端部和进入所述紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部，其中紧固凸缘在进入所述侧表面的开口和所述测量孔口之间突出。

【技术特征摘要】
2017.12.07 US 15/834,8931.一种光学测量设备，所述光学测量设备包括测量头、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳，所述内壳被至少部分地布置在所述外壳中，所述测量头被布置在所述外壳中并且被从其第一端附接到所述测量孔口且被从其第二端附接到所述内壳的一端，垫圈被布置在所述测量头和所述测量孔口之间，并且在所述外壳内部布置有从所述垫圈朝向所述紧固凸缘部分延伸的流体流动路径，其中朝所述外壳形成有渗漏检测端口，所述渗漏检测端口具有进入所述流体流动路径开口的一个端部和进入所述紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部，其中紧固凸缘在进入所述侧表面的开口和所述测量孔口之间突出。2.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，所述外壳和所述测量头之间的第一间隙以及所述外壳和所述内壳之间的第二间隙形成所述流体流动路径。3.根据权利要求2所述的光学测量设备，其特征在于，所述第二间隙是环形间隙。4.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，所述外壳包括在圆周方向上被彼此分开地定位的两个渗漏检测端口。5.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，所述内壳包括密封的模块。6.一种折射计，所述折射计包括光学窗口、包括光发射器和光接收器的内壳、在一端中包括测量孔口且在另一端中包括紧固凸缘部分的外壳，所述内壳被至少部分地布置在所述外壳中，所述光学窗口被布置在所述外壳中并且被从其第一端附接到所述测量孔口且被从其第二端附接到所述内壳的一端，垫圈被布置在所述光学窗口和所述测量孔口之间，并且在所述外壳内部布置有从所述垫圈朝向所述紧固凸缘部分延伸的流体流动路径，其中朝所述外壳形成有渗漏检测端口，所述渗漏检测端口具有进入所述流体流动路径开口的一个端部和进入所述紧固凸缘部分中的外壁的侧表面开口的另一端部，其中紧固凸缘在进入所述侧表面的开口和所述测量孔口之间突出。7.根据权利要求6所述的折射计，其特征在于，所述外壳和所述光学窗口之间的第一间隙以及所述外壳和...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·耶斯凯莱伊宁，H·萨罗，V·吕拉，T·劳塔迈基，
申请(专利权)人：詹尼斯柯有限公司，
类型：发明
国别省市：芬兰,FI