【技术实现步骤摘要】
一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置及其测量方法
本专利技术涉及测量
，具体地，涉及一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置及其测量方法。
技术介绍
随着光通信和光信息处理等领域技术的飞速发展，非线性光学材料的研究日益重要。介质的非线性特性在通信和精密测量等领域有重要的应用，其中精确测量介质非线性系数具有重要的意义。具有便捷可靠的测量方法是寻找理想非线性材料的必要工具。目前，测量非线性系数测量的方法都是采用间接的方法测量，如公开号为CN105092477A的专利“非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法”，测量的灵敏度和精确度受测量仪器的影响。弱测量技术是在有后选择的情况下测量结果可以被明显地放大，弱测量中所考虑的测量系统和测量仪器之间的耦合强度比较弱，利用后选择进行测量结果的筛选，从而在耦合强度很弱的情况下使测量结果得到显著的放大效果。弱测量技术在精密测量是目前研究的热门方向，并且具有重要的研究意义。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置及其测量方法。根据本专利技术提供的一种基于弱测量技术的非...
【技术保护点】
1.一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，包括探测部分和非线性产生部分；所述非线性产生部分：将泵浦光照射在待测非线性材料(7)上，产生非线性现象；所述探测部分：将探测光通过所述泵浦光在待测非线性材料(7)上的光斑中心，产生中心频谱偏移，进行非线性系数测量。
【技术特征摘要】
1.一种基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，包括探测部分和非线性产生部分；所述非线性产生部分：将泵浦光照射在待测非线性材料(7)上，产生非线性现象；所述探测部分：将探测光通过所述泵浦光在待测非线性材料(7)上的光斑中心，产生中心频谱偏移，进行非线性系数测量。2.根据权利要求1所述的基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，所述探测部分包括：探测光源(1)、第一格兰泰勒棱镜(4)、第二格兰泰勒棱镜(12)、偏振分束器(5)、反射镜(6)、波片(11)和光谱仪(13)；所述探测光源(1)发出的探测光经过所述第一格兰棱镜(4)产生线性偏振光，线性偏振光进入所述偏振分束器(5)后分成两束光，所述待测非线性材料(7)位于其中一束光的光路上，两束光分别通过反射镜(6)再次经过所述偏振分束器(5)输出到所述波片(11)并进入所述第二格兰棱镜(12)，由所述光谱仪(13)进行测量。3.根据权利要求2所述的基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，所述第一格兰棱镜(4)与所述第二格兰棱镜(12)之间呈ε角的非正交状态。4.根据权利要求3所述的基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，所述ε的取值范围为0<ε＜＜1。5.根据权利要求3所述的基于弱测量技术的非线性系数测量装置，其特征在于，所述非线性系数测量包括：探测光在待测非线性材料(7)中产生的相位变化为：n＝n0+n2|E|2，Δn＝n2Ip，其中，n为总折射率，n0为线性折射率，n2为待测非线性材料(7)的非线性系数，E为光电场，Δn为待测非线性材料(...
【专利技术属性】
技术研发人员：李洪婧，李彦甲，黄靖正，刘苗苗，曾贵华，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：上海,31
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