The invention discloses a semiconductor multi-layer grain stacking module and its welding method. The module comprises multi-layer grain stacking in turn and grain on the base plate. The surface of the grain is provided with a welding position, and the welding position of the grain at the top is welded with a metal ball pad. The top of the metal ball pad is upward beyond the upper surface of the corresponding grain. This application ensures that the welding tool does not directly contact the surface of the grains located at the top during the process of breaking the welding wire, while improving the welding speed and reducing the wear of the welding tool, at the same time ensuring the semi-conductivity of the welding tool while simultaneously increasing the welding speed and reducing the wear and tear of the welding tool. Welding quality of package.
【技术实现步骤摘要】
半导体多层晶粒堆叠模块及其焊接方法
本专利技术涉及到半导体封装领域,特别是涉及到一种半导体多层晶粒堆叠模块及其焊接方法。
技术介绍
当前半导体封装多层晶粒堆叠产品反向线焊接有以下2种工艺:第一种,晶粒焊位先球垫焊接再进行反向球脚焊接工艺(BSOB),为多层晶粒堆叠产品,此种焊接工艺晶粒1(die1)到晶粒3(die3)每次晶粒的焊位要进行3次焊接,做完此焊线连接需要做12次焊接,造成焊线速度慢,而且焊接工具(焊嘴)损耗量大,焊线接成本高。第二种,反向链条焊接工艺。此种焊接工艺晶粒1(die1)到晶粒4(die4)每次晶粒的焊位只需要进行1次焊接,做完此焊线连接需要做5次焊接,焊线速度快,而且焊接工具(焊嘴)损耗量小,但是焊嘴易在晶粒焊位上做楔形焊接时会碰到晶粒面容易造成其电路受损,产品品质无法得到保证。因为现在越来越多种类产品的晶粒(像3Dflash等)焊位比晶粒面低4um左右,对于20um及以下的焊线在做楔形焊接和焊脚焊接过程中线的厚度需要压薄到3~6um,这样焊嘴碰晶粒面的风险就很大。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的缺陷,本专利技术的目的是提供一种半导体多层晶粒堆叠模块及其焊接方法。为达到上述目的,本专利技术的技术方案是:一种半导体多层晶粒堆叠模块,包括多层依次堆叠于基板上的晶粒,所述晶粒表面设置有焊位,位于顶部的所述晶粒的焊位上均焊设有金属球垫,所述金属球垫的顶部向上超出对应所述晶粒的上表面。进一步地,所述晶粒上排列设置有多个焊位。进一步地,所述焊位为开设于晶粒表面的下凹槽状,所述金属球垫的顶部向上超出焊位的侧壁。本专利技术还提出了一种半导体多层晶 ...
【技术保护点】
1.一种半导体多层晶粒堆叠模块,包括多层依次堆叠于基板上的晶粒,其特征在于,所述晶粒表面设置有焊位,位于顶部的所述晶粒的焊位上均焊设有金属球垫,所述金属球垫的顶部向上超出对应所述晶粒的上表面。
【技术特征摘要】
1.一种半导体多层晶粒堆叠模块,包括多层依次堆叠于基板上的晶粒,其特征在于,所述晶粒表面设置有焊位,位于顶部的所述晶粒的焊位上均焊设有金属球垫,所述金属球垫的顶部向上超出对应所述晶粒的上表面。2.如权利要求1所述的半导体多层晶粒堆叠模块,其特征在于,所述晶粒上排列设置有多个焊位。3.如权利要求2所述的半导体多层晶粒堆叠模块,其特征在于,所述焊位为开设于晶粒表面的下凹槽状,所述金属球垫的顶部向上超出焊位的侧壁。4.一种半导体多层晶粒堆叠模块的焊接方法,其特征在于,包括以下步骤:在位于顶部的晶粒上焊接金属球垫;焊嘴从基板的焊位开始,依次焊接两个相邻的晶粒做反向链条焊接,在位于顶部晶粒的金属球垫表面拉断焊线完成焊接。5.如权利要求4所述的半导体多层晶粒堆叠模块的焊接方法,其特征在于,所述在位于顶部的晶粒上焊接金属球垫步骤之前,包括,在晶粒表面排列开设多个下凹槽状的焊位。6.如权利要求5...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘浩,段贤生,林建涛,
申请(专利权)人:东莞记忆存储科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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