【技术实现步骤摘要】
一种CSP光源的切割方法
本专利技术属于半导体封装
,特别涉及一种CSP光源的切割方法。
技术介绍
随着光电技术的不断突破,高性能的半导体LED器件在商业、军工及民用等各领域被广泛应用。与此同时,LED器件在材料、芯片工艺、封装技术等方面也在不断提高,尤其是倒装芯片的成熟化与封装技术的多样化,芯片级封装CSP技术应运而生。所谓CSP光源通常采用封装层包裹住倒装芯片结构,免除了传统LED光源的大部分封装步骤和结构,可使得封装体尺寸大大减小。而目前CSP光源封装技术通常采用晶圆裂片后,对发光芯片分选重排后进行封装形成具有若干CSP光源阵列的基片,再对其基片进行进一步切割与扩膜分离,最终形成完全分离的单颗CSP光源。当前CSP光源封装体的切割主要采用的是飞轮切割的方法。而飞轮切割使用的刀具及设备成本高,切割时由于需要一行一行的走道切割,产能效率低,并且需要高压的超纯去离子水进行清洗,进一步增加了加工成本。而在飞轮切割后,还要对CSP封装体进行水清洗,之后再进行烘干处理。接触水以后的CSP封装体,如果烘干不彻底的话,容易造成CSP粘吸嘴现象。而粘吸嘴现象会导致后续C ...
【技术保护点】
1.一种CSP光源的切割方法,用于制作具有透明或半透明层的CSP光源,其特征在于:所述方法依次包括扩膜工序、切割工序和扩晶工序,扩膜工序,首先对未切割的CSP光源半成品基片进行加热并保温,所述未切割的CSP光源半成品基片包括若干呈阵列分布的芯片,以及以阵列分布的芯片为整体进行封装的封装层;然后对保温状态下的CSP光源半成品基片进行扩膜,使得CSP光源半成品基片整体处于拉伸状态;切割工序,再采用冲切的方式对处于拉伸状态的CSP光源半成品基片进行冲切分离;扩晶工序,最后对冲切后的CSP光源半成品基片进行扩晶,得到完全分离开的CSP光源;所述扩膜工序中的加热与保温温度范围满足以下 ...
【技术特征摘要】
1.一种CSP光源的切割方法,用于制作具有透明或半透明层的CSP光源,其特征在于:所述方法依次包括扩膜工序、切割工序和扩晶工序,扩膜工序,首先对未切割的CSP光源半成品基片进行加热并保温,所述未切割的CSP光源半成品基片包括若干呈阵列分布的芯片,以及以阵列分布的芯片为整体进行封装的封装层;然后对保温状态下的CSP光源半成品基片进行扩膜,使得CSP光源半成品基片整体处于拉伸状态;切割工序,再采用冲切的方式对处于拉伸状态的CSP光源半成品基片进行冲切分离;扩晶工序,最后对冲切后的CSP光源半成品基片进行扩晶,得到完全分离开的CSP光源;所述扩膜工序中的加热与保温温度范围满足以下条件:(1)将封装层的模量随其自身温度变化设为函数表达式:M=f(T),其函数表达式M=f(T)的二阶导数表达式为:d2M/dT2=df2(T)/dT2,其中,M为封装层模量,T为封装层温度;限定上述函数表达式M=f(T)形成的关系曲线中,温度T在高于封装层自身对应的玻璃转化温度Tg时,且封装层材料处于弹性橡胶体平坦区域,该弹性橡胶体平坦区域的起始点对应温度T=TL(min),且TL(min)为上述二阶导数表达式形成的关系曲线中的最高点,且三次导数等于零时所对应的温度值;(2)TL=TL(min)~TL(max),且Tg<TL(min)<TL(max)<Tf,其中,Tg为封装层的玻璃化温度,Tf为封装层的粘流温度。2.根据权利要求1所述的CSP...
【专利技术属性】
技术研发人员:王书昶,孙智江,宋健,
申请(专利权)人:海迪科南通光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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