The invention provides a cleaning solution for highly effective decontamination of polycrystalline silicon wafers and a preparation method thereof, which relates to the technical field of polycrystalline silicon production. The cleaning solution is made of 4 6 parts of sodium dioctyl succinate sulfonate, 2 4 parts of sodium Diisooctyl succinate sulfonate, 6 8 parts of sodium fatty alcohol polyoxyethylene ether sulfate, 8 10 parts of glyceryl stearate, 1 3 parts of polyoxyethylene alkyl alcohol amide, 1 2 parts of sodium hydroxide, 0.6 0.8 parts of chelating agent, 0.3 0.5 parts of crosslinking agent, 1 2 parts of thickener and 0.8 parts of solvent. 1.0, 1.2, 1.4 and 200, 240 parts of deionized water. The invention overcomes the shortcomings of the existing technology, can effectively decompose oil stain on silicon wafer and remove adhering impurities and cutting residual debris, thereby effectively improving the decontamination ability of cleaning liquid, effective combination of various components, more refined cleaning, good cleaning effect, strong decontamination ability of cleaning liquid, and is suitable for popularization.
【技术实现步骤摘要】
一种强效去污多晶硅片用清洗液及其制备方法
本专利技术涉及多晶硅生产
,具体涉及一种强效去污多晶硅片用清洗液及其制备方法。
技术介绍
随着人们环保意识的加强,太阳能作为绿色资源已被广泛应用。其中多晶硅材料为太阳能光伏的主要材料,约占世界光伏电池的85%以上。多晶硅作为光伏产业的前端产品,在整个产业链中占据重要地位。目前多晶硅片在其加工过程中,需要使用金钢线和切割液相互配合对制得的多晶硅锭进行切片。切片完成后还需通过清洗液对制得的多晶硅片进行清洗,除去多晶硅片上的杂质。但是目前的切割液其油脂含量较高,由于其本身具有一定的粘附性,会粘上较多其他的杂物共同附着在多晶硅片上,加上切片时残留的碎屑,清洗较为麻烦。目前的清洗液清洗效果较差,去污能力差,难以除去多晶硅片上的污物,给工作人员带来了较大的麻烦。
技术实现思路
针对现有技术不足,本专利技术提供一种强效去污多晶硅片用清洗液及其制备方法,本专利技术克服了现有技术的不足,能够有效分解硅片上的油污并且去除粘附的杂物和切割残留的碎屑,从而有效提高清洗液的去污能力,各组分有效结合,清洗更加精细化,清洗效果好,清洗液去污能力强,适宜推广。为实现以上目的,本专利技术的技术方案通过以下技术方案予以实现:一种强效去污多晶硅片用清洗液,所述清洗液由以下重量份的原料制成:二辛基琥珀酸磺酸钠4-6份、二异辛基丁二酸酯磺酸钠2-4份、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠6-8份、硬脂酸甘油酯8-10份、聚氧乙烯烷基醇酰胺1-3份、氢氧化钠1-2份、螯合剂0.6-0.8份、交联剂0.3-0.5份、增稠剂1-2份、增溶剂0.8-1.0份、消泡剂1.2-1 ...
【技术保护点】
1.一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述清洗液由以下重量份的原料制成:二辛基琥珀酸磺酸钠4‑6份、二异辛基丁二酸酯磺酸钠2‑4份、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠6‑8份、硬脂酸甘油酯8‑10份、聚氧乙烯烷基醇酰胺1‑3份、氢氧化钠1‑2份、螯合剂0.6‑0.8份、交联剂0.3‑0.5份、增稠剂1‑2份、增溶剂0.8‑1.0份、消泡剂1.2‑1.4份、去离子水200‑240份。
【技术特征摘要】
1.一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述清洗液由以下重量份的原料制成:二辛基琥珀酸磺酸钠4-6份、二异辛基丁二酸酯磺酸钠2-4份、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠6-8份、硬脂酸甘油酯8-10份、聚氧乙烯烷基醇酰胺1-3份、氢氧化钠1-2份、螯合剂0.6-0.8份、交联剂0.3-0.5份、增稠剂1-2份、增溶剂0.8-1.0份、消泡剂1.2-1.4份、去离子水200-240份。2.根据权利要求1所述的一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述清洗液由以下重量份的原料制成:二辛基琥珀酸磺酸钠5份、二异辛基丁二酸酯磺酸钠3份、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠7份、硬脂酸甘油酯9份、聚氧乙烯烷基醇酰胺2份、氢氧化钠1.5份、螯合剂0.7份、交联剂0.4份、增稠剂1.5份、增溶剂0.9份、消泡剂1.3份、去离子水220份。3.根据权利要求1所述的一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述螯合剂为乙二胺四乙酸二钠。4.根据权利要求1所述的一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述交联剂为N-羟甲基丙烯酰胺、甲叉双丙烯酰胺和1,4-丁二醇二缩水甘油醚中的一种或多种。5.根据权利要求1所述的一种强效去污多晶硅片用清洗液,其特征在于,所述增稠剂为氯化钠、聚丙烯酸钠和羧甲基纤维素中的一种或多...
【专利技术属性】
技术研发人员:李广森,
申请(专利权)人:安徽华顺半导体发展有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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