数据通道老化电路及存储器制造技术

本公开提供一种数据通道老化电路及存储器。本公开实施例中的数据通道老化电路包括存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。本公开实施例提供的数据通道老化电路可以提高老化测试结果的可靠性，改善经过老化测试后的集成电路产品的工作稳定性。

Data Channel Aging Circuit and Memory

【技术实现步骤摘要】
数据通道老化电路及存储器
本公开涉及电学
，具体涉及一种数据通道老化电路及存储器。
技术介绍
作为集成电路生产过程中的一个重要环节，老化测试是通过一段时间连续性或者周期性的超负荷工作使得集成电路的缺陷能够在测试阶段便尽早地暴露出来，从而降低集成电路产品在使用初期发生故障的几率，提高集成电路产品的稳定性和可靠性。对集成电路进行老化测试通常会用到集成电路老化机台，集成电路老化机台可以在一定的外部测试条件下(例如高温、偏压等等)通过测试通道向待测试的集成电路传输数据以加快集成电路在工作状态下的老化速度。由于测试通道有限，能够同时进行老化测试的集成电路的数量也将受到限制。因此，为了增加集成电路的同测数量，可以仅选用集成电路中的一部分数据通道在数据压缩模式下进行数据传输，从而可以提高集成电路的老化测试效率。但是，在数据压缩模式下进行的老化测试仅能对集成电路的部分数据通道达到测试目的，而对于未经老化测试的数据通道是否存在缺陷则无法被检测到，即便是通过老化测试的集成电路也仍然存在一定的隐患。因此，如何能够在不影响测试效率的前提下提高老化测试的可靠性是目前亟待解决的问题。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种数据通道老化电路及存储器，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制而导致的老化测试结果可靠性差的技术问题。根据本公开的一个方面，提供一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特殊之处在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。在本公开的一种示例性实施方式中，所述控制单元包括：信号输入端，用于接收一老化控制信号；电压变换器，对所述老化控制信号进行电压变换后产生所述电压控制信号；信号输出端，用于向所述各个数据通道发送所述电压控制信号。在本公开的一种示例性实施方式中，所述电压变换器包括：第一电容，所述第一电容的一端与所述信号输入端相连，另一端与一中间节点相连；第一半导体开关，所述第一半导体开关的第一极与所述中间节点相连，第二极和栅极与第一电压端相连；第二半导体开关，所述第二半导体开关的第一极与所述信号输出端相连，第二极和栅极与所述中间节点相连；第二电容，所述第二电容的一端与第二电压端相连，另一端与所述信号输出端相连。在本公开的一种示例性实施方式中，所述电压变换器还包括：反相器，位于所述信号输入端与所述第一电容之间。在本公开的一种示例性实施方式中，所述第一电压端的电压位准为所述集成电路的工作电压，所述第二电压端的电压位准为接地电压。在本公开的一种示例性实施方式中，所述选通单元包括：解码器，用于解码所述存储单元中存储的电压切换信号，并基于所述电压切换信号将所述各个数据通道中的部分数据通道置于导通状态。在本公开的一种示例性实施方式中，所述选通单元与所述集成电路的全部或者部分数据通道相连。根据本公开的一个方面，提供一种存储器，其特殊之处在于，包括如以上任一示例性实施方式所述的数据通道老化电路，所述数据通道老化电路用于对所述存储器的集成电路进行老化测试。根据本公开的一个方面，提供一种数据通道老化方法，用于对集成电路进行老化测试，其特殊之处在于，所述方法包括：根据电压切换信号确定所述集成电路中各个数据通道的目标电压状态；基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态；利用电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。根据本公开的一个方面，提供一种存储器老化方法，所述存储器包括具有多个数据通道的集成电路，其特殊之处在于，一部分所述数据通道为机台老化数据通道，另一部分所述数据通道为电压老化数据通道；所述方法包括：将所述机台老化数据通道连接至集成电路老化机台，并利用所述集成电路老化机台向所述机台老化数据通道传输数据；根据电压切换信号确定所述电压老化数据通道的目标电压状态；基于所述电压切换信号切换所述电压老化数据通道的导通状态；利用电压控制信号调整所述电压老化数据通道的电压位准以产生电压应力老化。在本公开实施例所提供的数据通道老化电路中，通过向集成电路中的各个数据通道发送电压控制信号，并搭配相应的电压切换信号，可以对各个数据通道的电压状态进行切换以产生电压应力老化。因此可以实现对集成电路的全部或者大多数数据通道均进行老化测试的效果，从而提高了老化测试结果的可靠性，改善了经过老化测试后的集成电路产品的工作稳定性。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本公开示例性实施方式中数据通道老化电路的结构示意图。图2为本公开示例性实施方式中数据通道老化电路的控制单元部分结构示意图。图3为本公开示例性实施方式中数据通道老化方法的步骤流程图。图4为本公开示例性实施方式中存储器老化方法的步骤流程图。其中，附图标记说明如下：11-存储单元；12-控制单元；13-选通单元；201-信号输入端；202-第一电容；203-反相器；204-中间节点；205-第一半导体开关；206-第一电压端；207-第二半导体开关；208-第二电容；209-第二电压端；210-信号输出端。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本专利技术将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。用语“一个”、“一”、“该”、“所述”和“至少一个”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等；用语“第一”、“第二”和“第三”等仅作为标记使用，不是对其对象的数量限制。在本公开的示例性实施方式中，首先提供一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，尤其可以达到对集成电路的全部或者大多数数据通道进行老化测试的效果，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特征在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。

【技术特征摘要】
1.一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特征在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。2.根据权利要求1所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述控制单元包括：信号输入端，用于接收一老化控制信号；电压变换器，对所述老化控制信号进行电压变换后产生所述电压控制信号；信号输出端，用于向所述各个数据通道发送所述电压控制信号。3.根据权利要求2所述的数据通道老化电路，其特征在于，所述电压变换器包括：第一电容，所述第一电容的一端与所述信号输入端相连，另一端与一中间节点相连；第一半导体开关，所述第一半导体开关的第一极与所述中间节点相连，第二极和栅极与第一电压端相连；第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34