分析装置以及定位方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种分析装置以及定位方法，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的分析工具被导入到导入部，基片具备试样在其中泳动的毛细管，盒具备液体槽且在铅垂方向与基片重叠；设置部，在导入部中在铅垂方向上支承分析工具并设置在设置部；推入部件，通过推入部件推入设置于设置部的分析工具的相对于铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件(定位销)，与设置于设置部的分析工具的水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过推入部件推入的分析工具的另一侧面接触，并且进行水平方向的定位；以及测定部件，测定被导入到导入部的分析工具的试样的成分。

Analytical device and positioning method

The invention relates to an analysis device and a positioning method, including: an analysis tool including a substrate and a box is used in the introduction part, and the analysis tool containing a sample is directed to the introduction part. The substrate has a capillary in which the sample swims, the box has a liquid groove and overlaps the substrate in the vertical direction; and the setting part supports and sets the analysis tool in the vertical direction in the introduction part. A push component pushes one side of the analytical tool set in the setting part in the horizontal direction relative to the vertical direction by pushing the component; a contact component (positioning pin) opposes the other side of the opposite side of the horizontal direction of the analytical tool set in the setting part, and contacts the other side of the analytical tool pushed in by pushing the component, and carries on water. Square orientation; and measuring components to determine the composition of the sample that is directed to the analysis tool imported into the import department.

【技术实现步骤摘要】
分析装置以及定位方法
本专利技术涉及分析装置以及定位方法。
技术介绍
作为分析试样中的成分的分析装置，例如存在如专利文献1所示通过基片内的毛细管来电泳试样，测定照射到该试样的光的透射光、发射光而进行成分分析的装置。在先技术文献专利文献专利文献1：日本特开2012-093350号公报。
技术实现思路
在这样的分析装置中，如果基片未被准确地定位在分析装置的内部，则分析成分的测定精度有时会降低，要求准确地定位基片。本专利技术的目的在于，能够在分析装置中准确地定位分析工具。在第一方式中，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的所述分析工具被导入到所述导入部，所述基片具备所述试样在其中泳动的毛细管，所述盒具备液体槽且在铅垂方向与所述基片重叠；设置部，在所述导入部中在所述铅垂方向上支承所述分析工具而设置于所述设置部；推入部件，通过所述推入部件推入设置于所述设置部的所述分析工具的相对于所述铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件，与设置于所述设置部的所述分析工具的所述水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过所述推入部件推入的所述分析工具的所述另一侧面接触，并且进行所述水平方向的定位；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析装置，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的所述分析工具被导入到所述导入部，所述基片具备所述试样在其中泳动的毛细管，所述盒具备液体槽且在铅垂方向与所述基片重叠；设置部，在所述导入部中在所述铅垂方向上支承所述分析工具而设置于所述设置部；推入部件，通过所述推入部件推入设置于所述设置部的所述分析工具的相对于所述铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件，与设置于所述设置部的所述分析工具的所述水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过所述推入部件推入的所述分析工具的所述另一侧面接触，并且进行所述水平方向的定位；以及测定部件，测定被导入到所述导入部的所述分析工具的所述试样的成...

【技术特征摘要】
2017.10.30 JP 2017-2097061.一种分析装置，包括：导入部，使用包含基片和盒的分析工具，包含试样的所述分析工具被导入到所述导入部，所述基片具备所述试样在其中泳动的毛细管，所述盒具备液体槽且在铅垂方向与所述基片重叠；设置部，在所述导入部中在所述铅垂方向上支承所述分析工具而设置于所述设置部；推入部件，通过所述推入部件推入设置于所述设置部的所述分析工具的相对于所述铅垂方向的水平方向的一侧面；接触部件，与设置于所述设置部的所述分析工具的所述水平方向上的一侧面的相反侧的另一侧面对置，并与通过所述推入部件推入的所述分析工具的所述另一侧面接触，并且进行所述水平方向的定位；以及测定部件，测定被导入到所述导入部的所述分析工具的所述试样的成分，所述接触部件与所述基片接触。2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述接触部件包括凸部，所述凸部嵌合到形成于所述分析工具的所述另一侧面的凹部。3.根据权利要求2所述的分析装置，其中，所述凸部是从所述导入部的设置所述分析工具的设置部突出的销...

【专利技术属性】
技术研发人员：山本明广，北村茂，志智直人，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP