分析装置制造方法及图纸

技术编号:21057542 阅读:49 留言:0更新日期:2019-05-08 05:31
本发明专利技术涉及一种分析装置,包括:设置部,分析工具被设置于设置部,分析工具包括具备试样在其中泳动的毛细管的基片以及具备液体槽且与基片重叠的盒,并且能够在基片与盒的嵌合状态下测定试样的成分;推压部件,推压部件将设置于设置部的分析工具朝向基片与盒的重叠方向推压,并夹在推压部件与设置部之间,使基片与盒嵌合;以及测定部件,测定部件测定基片与盒嵌合的分析工具的试样的成分。

Analytical device

The present invention relates to an analysis device, which includes a setting part, an analysis tool is set in the setting part, an analysis tool includes a substrate with a capillary in which the sample swims and a box with a liquid groove and overlapping with the substrate, and the component of the sample can be measured in the state of chimerism between the substrate and the box; a push-press component, an analysis tool set in the setting part, is oriented towards the base. The overlapping direction of the sheet and the box is pushed and clamped between the pushing part and the setting part to make the sheet and the box inlay; and the measuring part is used to determine the composition of the sample of the analytical tool for the substrate and the box inlay.

【技术实现步骤摘要】
分析装置
本专利技术涉及分析装置。
技术介绍
作为分析试样中的成分的分析装置,存在例如如专利文献1所示在基片内的毛细管中使试样电泳,测定照射到该试样的光的透射光、反射光,并进行成分分析的装置。在先技术文献专利文献专利文献1:日本特开2012-093350号公报。
技术实现思路
作为用于这样的分析装置的分析工具,在使用具备上述的基片以及预先容纳了向该基片供应的液体的盒的分析工具的情况下,希望使基片与盒可靠地嵌合,从而不发生相对位置的偏离。本专利技术的目的在于,能够使具备基片和盒的分析工具中的基片与盒可靠地嵌合。在第一方式中,包括:设置部,分析工具被设置于所述设置部,所述分析工具包括具备试样在其中泳动的毛细管的基片以及具备液体槽且与所述基片重叠的盒,并且能够在所述基片与所述盒的嵌合状态下测定所述试样的成分;推压部件,所述推压部件将设置于所述设置部的所述分析工具朝向所述基片与所述盒的重叠方向推压,并夹在所述推压部件与所述设置部之间,使所述基片与所述盒嵌合;以及测定部件,所述测定部件测定所述基片与所述盒嵌合的所述分析工具的所述试样的成分。推压部件推压设置于设置部的分析工具,并将其夹在与设置部之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析装置,包括:设置部,分析工具被设置于所述设置部,所述分析工具包括具备试样在其中泳动的毛细管的基片以及具备液体槽且与所述基片重叠的盒,并且能够在所述基片与所述盒的嵌合状态下测定所述试样的成分;推压部件,所述推压部件将设置于所述设置部的所述分析工具朝向所述基片与所述盒的重叠方向推压,并夹在所述推压部件与所述设置部之间,使所述基片与所述盒嵌合;以及测定部件,所述测定部件测定所述基片与所述盒嵌合的所述分析工具的所述试样的成分。

【技术特征摘要】
2017.10.30 JP 2017-2097091.一种分析装置,包括:设置部,分析工具被设置于所述设置部,所述分析工具包括具备试样在其中泳动的毛细管的基片以及具备液体槽且与所述基片重叠的盒,并且能够在所述基片与所述盒的嵌合状态下测定所述试样的成分;推压部件,所述推压部件将设置于所述设置部的所述分析工具朝向所述基片与所述盒的重叠方向推压,并夹在所述推压部件与所述设置部之间,使所述基片与所述盒嵌合;以及测定部件,所述测定部件测定所述基片与所述盒嵌合的所述分析工具的所述试样的成分。2.根据权利要求1所述的分析装置,其中,对于所述基片具备穿孔突起的所述分析工具,所述推压部件通过推压来使所述基片与所述盒接近,并通过所述穿孔突起来穿孔底面膜,所述穿孔突起穿孔...

【专利技术属性】
技术研发人员:山本明广大沼直嗣
申请(专利权)人:爱科来株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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