一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法技术

本发明专利技术涉及一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法。选择一种几何测量条件为45/0，环形光源照明的颜色测量仪器；选取待测试素面镭射母版上的任一位置，将其作为测量区域；保持颜色测量仪器测量孔径与测量点的相对位置不变，测量素面镭射母版的光谱能量信息；将采集到的光谱能量信息在可见光范围内绘制光谱能量分布曲线图，分析绘制的光谱能量分布曲线的形状和峰值波长出现的位置；结合光栅方程，计算得到待测试素面镭射母版的光栅常数。该方法能在没有高倍放大镜和多角度分光光度计的情况下能通过测量的任意一个位置一个角度的光谱能量信息，快速、准确计算出素面镭射母版的光栅常数，在实际生产中具有重要意义。

A Method for Measuring Grating Constants of Laser Master Plate with Spectrophotometer

The invention relates to a method for measuring grating constant of laser master plate with a spectrophotometer. Choose a color measuring instrument with 45/0 geometric measurement condition and illuminated by annular light source; select any position on the master plate of laser as the measuring area; keep the relative position of the measuring aperture and the measuring point unchanged, measure the spectral energy information of laser master plate; draw the spectrum energy information collected in the visible range. The shape of the energy distribution curve and the position of the peak wavelength are analyzed, and the grating constant of the laser master plate to be tested is calculated based on the grating equation. This method can quickly and accurately calculate the grating constants of the master plate of laser by measuring the spectral energy information at any position and angle without a high magnifying mirror and a multi-angle spectrophotometer. It is of great significance in practical production.

【技术实现步骤摘要】
一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法
本专利技术涉及一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法。使用45/0照明条件(环形光)的分光光度计测量素面镭射母版固定位置处的光谱能量信息，通过光谱数据绘制光谱能量分布曲线。结合光栅方程，比较光谱能量曲线的形状和峰值波长位置，从而计算素面镭射母版的光栅常数。
技术介绍
镭射母版经过转印、加工后可形成镭射纸，在光照下呈现亮彩虹效果，在包装印刷领域得到了广泛应用。不同类型的镭射纸会产生不同的颜色效果，主要是由其微观结构的不同引起的，但是人眼并不能区分镭射纸的微观结构。在进行镭射母版微观结构(光栅常数)测量时，可选用激光共聚焦形貌测量显微镜和超景深三维视频显微镜直接观测，但是设备成本较高，并不能在包装印刷企业中被广泛应用。专利CN104330240B提出了一种使用多角度分光光度计测量光柱镭射纸光栅常数的方法。但由于光柱镭射母版的微观结构是一维的，素面镭射母版的光栅结构是x，y方向二维的，所以用来测量两种镭射母版光栅常数的方法并不能通用。专利CN106950182A提出了一种判别不同素面镭射母版微观结构的方法，但是在测量时需要先采集母版的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法，包括如下步骤：(1)选择一种几何测量条件为45/0，环形光源照明的颜色测量仪器；(2)选取待测试素面镭射母版上的任一位置，将其作为测量区域；(3)保持颜色测量仪器测量孔径与测量点的相对位置不变，测量素面镭射母版的光谱能量信息；(4)将步骤(3)中采集到的光谱能量信息在可见光范围内绘制光谱能量分布曲线图，分析绘制的光谱能量分布曲线的形状和峰值波长出现的位置；(5)结合光栅方程，计算得到待测试素面镭射母版的光栅常数。

【技术特征摘要】
1.一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法，包括如下步骤：(1)选择一种几何测量条件为45/0，环形光源照明的颜色测量仪器；(2)选取待测试素面镭射母版上的任一位置，将其作为测量区域；(3)保持颜色测量仪器测量孔径与测量点的相对位置不变，测量素面镭射母版的光谱能量信息；(4)将步骤(3)中采集到的光谱能量信息在可见光范围内绘制光谱能量分布曲线图，分析绘制的光谱能量分布曲线的形状和峰值波长出现的位置；(5)结合光栅方程，计算得到待测试素面镭射母版的光栅常数。2.根据权利要求1所述的用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法，其特征在于：所述的颜色测量仪器为分光光度计，光源入射角为45°，光电探测器件接收角度为0°。3.根据权利要求2所述的用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法，其特征在于：所述的颜色测量仪器的测量光谱范围不小于400nm-700nm，测量带宽不小于10nm。4.根据权利要求1所述的用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄敏，习永惠，李修，刘瑜，
申请(专利权)人：北京印刷学院，
类型：发明
国别省市：北京,11