一种充电计时芯片寿命测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种充电计时芯片寿命测试装置，包括底座，所述底座的顶部外壁开有检测台安装槽，且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧，所述振动弹簧的顶部外壁通过螺钉固定有检测台，且检测台的顶部外壁一侧通过铰链连接有转动杆，所述检测台的顶部外壁一侧焊接有固定台，且固定台的顶部外壁通过螺钉固定有驱动电机，所述驱动电机输出轴通过键连接有驱动杆，且驱动杆的一侧外壁开有固定轴安装孔。本实用新型专利技术可以带动计时芯片移动和晃动，有助于提高模拟计时芯片在运动员鞋子上运动情况的真实度，可以提高测试数据的准确度，有助于减小缓冲板和滚轮之间的刚性冲击，有利于延长滚轮和缓冲板的使用寿命。

A Life Testing Device for Charging Timing Chip

The utility model discloses a life testing device for charging timing chips, which comprises a base. The top outer wall of the base is provided with a detection platform installation groove, and the bottom inner wall of the detection platform installation groove is fixed with a vibration spring through a screw. The top outer wall of the vibration spring is fixed with a detection platform through a screw, and one side of the top outer wall of the detection platform is connected with a rotating rod through a hinge. A fixed platform is welded on one side of the top outer wall of the testing platform, and the top outer wall of the fixed platform is fixed with a driving motor through a screw. The output shaft of the driving motor is connected with a driving rod through a key, and one side of the outer wall of the driving rod is provided with a fixed shaft mounting hole. The utility model can drive the movement and shaking of the timing chip, help to improve the authenticity of the motion of the analog timing chip on the athlete's shoes, improve the accuracy of the test data, help to reduce the rigid impact between the buffer plate and the roller, and help to prolong the service life of the roller and the buffer plate.

【技术实现步骤摘要】
一种充电计时芯片寿命测试装置
本技术涉及充电计时芯片性能测试
，尤其涉及一种充电计时芯片寿命测试装置。
技术介绍
计时芯片多用于体育比赛中，尤其在马拉松赛事中，每一位参赛者的鞋子上都会安装有一个计时芯片，以便精确计时，当运动员携带的计时芯片通过计时地毯时，安装在地毯内的信号接收器将接收到的芯片的响应信号发送到与其相连的主机，主机记录下当前的时间和芯片的相关信息，即完成计时功能。芯片一般固定在参赛者鞋子上，参赛者在运动过程中会带动芯片不断晃动，容易导致芯片损坏影响参赛者成绩记录，因此必须对计时芯片进行寿命测试，以保证计时芯片可以进行有效计时，但是现有的计时芯片生产过程中并未对计时芯片的使用寿命进行检测，导致计时芯片性能没有保障，在使用过程中出现诸多故障。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种充电计时芯片寿命测试装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种充电计时芯片寿命测试装置，包括底座，所述底座的顶部外壁开有检测台安装槽，且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧，所述振动弹簧的顶部外壁通过螺钉固定有检测台，且检测台的顶部外壁一侧通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种充电计时芯片寿命测试装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部外壁开有检测台安装槽，且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧（2），所述振动弹簧（2）的顶部外壁通过螺钉固定有检测台（4），且检测台（4）的顶部外壁一侧通过铰链连接有转动杆（12），所述检测台（4）的顶部外壁一侧焊接有固定台（5），且固定台（5）的顶部外壁通过螺钉固定有驱动电机（19），所述驱动电机（19）输出轴通过键连接有驱动杆（7），且驱动杆（7）的一侧外壁开有固定轴安装孔，所述固定轴安装孔的内壁通过轴承连接有固定轴（18），且固定轴（18）的一侧外壁套接有滚轮（6）和连接杆（8），所述连接杆（8）的...

【技术特征摘要】
1.一种充电计时芯片寿命测试装置，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部外壁开有检测台安装槽，且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧（2），所述振动弹簧（2）的顶部外壁通过螺钉固定有检测台（4），且检测台（4）的顶部外壁一侧通过铰链连接有转动杆（12），所述检测台（4）的顶部外壁一侧焊接有固定台（5），且固定台（5）的顶部外壁通过螺钉固定有驱动电机（19），所述驱动电机（19）输出轴通过键连接有驱动杆（7），且驱动杆（7）的一侧外壁开有固定轴安装孔，所述固定轴安装孔的内壁通过轴承连接有固定轴（18），且固定轴（18）的一侧外壁套接有滚轮（6）和连接杆（8），所述连接杆（8）的一端外壁通过铰链连接于转动杆（12）的一端外壁，且连接杆（8）的顶部外壁一侧通过螺钉固定有固定盒（9）。2.根据权利要求1所述的一种充电计时芯片寿命测试装置，其特征在于，所述固定盒（9）的底部内壁粘接有海绵垫（21），且海绵垫（21）的底部内壁放置有计时芯片（20），固定盒（9）的顶部外壁通过纽扣连接有弹性带（22），弹性带（22...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐永光，
申请(专利权)人：旌芯半导体科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31