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本实用新型公开了一种充电计时芯片寿命测试装置，包括底座，所述底座的顶部外壁开有检测台安装槽，且检测台安装槽的底部内壁通过螺钉固定有振动弹簧，所述振动弹簧的顶部外壁通过螺钉固定有检测台，且检测台的顶部外壁一侧通过铰链连接有转动杆，所述检测台的...
该专利属于旌芯半导体科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过旌芯半导体科技（上海）有限公司授权不得商用。

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