The present disclosure relates to a manufacturing method of an array substrate, an array substrate, a display panel and a display device. The manufacturing method includes: providing a substrate, the substrate includes the first and second regions; forming a shading layer on the first region; forming a buffer layer covering the shading layer and the substrate; forming a first active layer and a second active layer on the surface far from the substrate, the first active layer corresponds to the first region, and the second active layer corresponds to the second region; and removing the first active layer from the substrate. The first gate insulating layer is formed on the surface of the first gate insulating layer and the first gate overlapped on the first gate insulating layer, and the second gate insulating layer and the second gate insulating layer overlapped on the surface of the second active layer far from the substrate are formed; the positive projection of the first gate insulating layer is located in the first gate insulating layer, and the positive projection of the second gate is located in the second gate insulating layer; the edge of the first gate and the first gate insulating layer are located in the second gate insulating layer. The distance between the edges of the second gate is larger than that between the edges of the second gate and the edges of the second insulating layer.
【技术实现步骤摘要】
显示装置、显示面板、阵列基板及其制造方法
本公开涉及显示
,具体而言,涉及一种阵列基板的制造方法、阵列基板、显示面板及显示装置。
技术介绍
目前,显示面板的应用越来越广泛,尤其是OLED(有机发光二极管)显示面板已经广泛的应用到了各种显示设备中。在现有显示面板中,薄膜晶体管是必不可少的电子器件。由于顶栅薄膜晶体管(TopGateTFT)比底栅薄膜晶体管(BottomGateTFT)有更优异的性能,包括更小的寄生电容、更大的开态电流及其更高的稳定性等优点,因此得到了广泛的应用。通常情况下,阵列基板中,为了提高驱动管的稳定性,有些薄膜晶体管的下方设有遮光层,以遮蔽光线;而为了提高开口率,有些薄膜晶体管下方通常无遮光层,这些遮光层在后续的工艺过程中会对被其遮蔽的薄膜晶体管产生作用,造成被遮蔽的薄膜晶体管小于未被遮蔽的薄膜晶体管的阈值电压,从而影响阵列基板上薄膜晶体管的阈值电压的均匀性,进而降低阵列基板的性能,最终导致降低显示面板的显示质量。需要说明的是,在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种阵列基板的制造方法、阵列基板、显示面板及显示装置,可提高薄膜晶体管的阈值电压的均匀性。根据本公开的一个方面,提供了一种阵列基板的制造方法。其特征在于,该制造方法包括:提供一衬底,所述衬底包括第一区域和第二区域;在所述第一区域上形成遮光层;形成覆盖所述遮光层和所述衬底的缓冲层;在所述缓冲层远离所述衬底的表面形成第一有源层和第二有源层,所述第一有源层与所述第 ...
【技术保护点】
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:提供一衬底,所述衬底包括第一区域和第二区域;在所述第一区域上形成遮光层;形成覆盖所述遮光层和所述衬底的缓冲层;在所述缓冲层远离所述衬底的表面形成第一有源层和第二有源层,所述第一有源层与所述第一区域对应,所述第二有源层与所述第二区域对应;在所述第一有源层远离所述衬底的表面形成第一栅绝缘层和层叠于所述第一栅绝缘层的第一栅极,以及在所述第二有源层远离所述衬底的表面形成第二栅绝缘层和层叠于所述第二栅绝缘层的第二栅极;所述第一栅极的正投影位于所述第一栅绝缘层内,所述第二栅极的正投影位于所述第二栅绝缘层内;所述第一栅极的边缘与所述第一栅绝缘层的边缘的间距大于所述第二栅极的边缘与所述第二栅极绝缘层的边缘的间距。
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:提供一衬底,所述衬底包括第一区域和第二区域;在所述第一区域上形成遮光层;形成覆盖所述遮光层和所述衬底的缓冲层;在所述缓冲层远离所述衬底的表面形成第一有源层和第二有源层,所述第一有源层与所述第一区域对应,所述第二有源层与所述第二区域对应;在所述第一有源层远离所述衬底的表面形成第一栅绝缘层和层叠于所述第一栅绝缘层的第一栅极,以及在所述第二有源层远离所述衬底的表面形成第二栅绝缘层和层叠于所述第二栅绝缘层的第二栅极;所述第一栅极的正投影位于所述第一栅绝缘层内,所述第二栅极的正投影位于所述第二栅绝缘层内;所述第一栅极的边缘与所述第一栅绝缘层的边缘的间距大于所述第二栅极的边缘与所述第二栅极绝缘层的边缘的间距。2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,在所述第一有源层远离所述衬底的表面形成第一栅绝缘层和层叠于所述第一栅绝缘层的第一栅极;以及在所述第二有源层远离所述衬底的表面形成第二栅绝缘层和层叠于所述第二栅绝缘层的第二栅极;所述第一栅极的边缘与所述第一栅绝缘层的边缘的间距大于所述第二栅极的边缘与所述第二栅极绝缘层的边缘的间距,包括:在所述第一有源层、所述第二有源层及所述缓冲层远离所述衬底的表面形成绝缘材料层;在所述绝缘材料层远离所述衬底的表面形成栅极材料层;在所述栅极材料层远离所述衬底的表面形成光刻胶层;对所述光刻胶层进行曝光并显影,以形成与所述第一有源层对应的保留区、与所述第二有源层对应的半保留区;对所述栅极材料层采用湿法刻蚀工艺进行刻蚀,以形成第一栅极和第二栅极;对所述绝缘材料层采用干法刻蚀工艺进行刻蚀,以形成第一栅绝缘层和第二栅绝缘层;所述第一栅极位于所述第一栅绝缘层远离所述衬底的表面上,所述第二栅极位于所述第二栅绝缘层远离所述衬底的表面上;所述第一栅极的边缘与所述第一栅绝缘层的边缘的间距大于所述第二栅极的边缘与所述第二栅极绝缘层的边缘的间距。3.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述制造方法还包括:在所述缓冲层远离所述衬底的表面上形成第一源极、第一漏极、第二源极、第二漏极。4.根据权利要求3所述的制造方法,其特征在于,所述第一有源层包括第一外围区和第一外围区内的第一沟道区,所述第二有源层包括第二外围区和第...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏同上,王东方,王庆贺,刘军,李伟,闫梁臣,
申请(专利权)人:合肥鑫晟光电科技有限公司,京东方科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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