一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野内，调整待测工件，使线性光能够遍历整个待检测区域，摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。本发明专利技术利用反射光线对高光物体表面的检测，能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大，检测结果更为精确。

A Highlight Object Surface Defect Detection System and Method Based on Reflected Light

The invention discloses a high-light object surface defect detection system and method based on reflected light, including a controller, a reflective light receiving board, a linear light source and a camera, which transports the workpiece to the detection position so that the output light of the linear light source directly illuminates the surface of the workpiece to be measured. At this time, the reflective light receiving board receives the reflective light from the surface of the workpiece to be measured, and the reflective light receiving board is on the camera. In the acquisition field of vision, the workpiece to be measured is adjusted so that the linear light can traverse the whole area to be detected. The camera captures the image sequence containing the reflected light and inputs the controller. The method uses reflected light to detect the surface of a high-light object, enlarges the surface defect of the object by increasing the distance from the reflection point to the reflection receiving plane, and the detection result is more accurate.

【技术实现步骤摘要】
一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法
本专利技术涉及数字图像处理领域，具体涉及一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法。
技术介绍
机器视觉技术是利用图像采集系统将图像转换成数字信号，再利用上位机通过分析数字图像之间的数字关系，最终通过提取、分析图像特征，实现人类目的的过程。但是高光物体由于其表面对光线有极强的反射作用，一定程度上遮盖了所需的物体特征。现在比较通用的方法是通过偏振镜片等滤镜加之以有效的光源消除高光区域进行检测，但是消除高光区域的同时易造成缺陷特征的弱化，对于一些细微的缺陷难以检测，这成为制约一些行业引入机器视觉设备进行自动化检测的重要瓶颈。
技术实现思路
为了克服现有技术存在的缺点与不足，本专利技术提供一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法。本专利技术采用如下技术方案：一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野内，调整待测工件，使线性光源的出射光能够遍历整个待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野内，调整待测工件，使线性光源的出射光能够遍历整个待检测区域，摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。

【技术特征摘要】
1.一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野内，调整待测工件，使线性光源的出射光能够遍历整个待检测区域，摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。2.根据权利要求1所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，还包括传动设备,所述传动设备包括皮带、传动齿轮及直流电机，所述直流电机分别与传动齿轮及控制器连接。3.根据权利要求2所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，还包括夹取设备，所述夹取设备包括夹取待测工件并进行旋转的夹具及控制夹具旋转的旋转步进电机。4.根据权利要求1所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，还包括挡光板，所述挡光板设置在反射光接收板的正前方。5.根据权利要求1所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，所述反射光接收板是不透明的。6.根据权利要求4所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统，其特征在于，所述挡光板开有一个孔。7.一种如权利要求1所述的一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统的方法，其特征在于，包括如下：S1读取包含反射光线的图像，通过灰度值加权和与限定阈值相比较，找出有效图像；S2对灰度图像进行滤波处理，根据图片像素特征选取上界阈值及下界阈值，剔除低于下界阈值及高于上界阈值的灰度区域，保留待测工件边缘及缺陷造成的光线散射的灰度区域；S3进行二值化处理，对二值化图像进行上下边缘的局部均值滤波...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜娟，赵欢，胡跃明，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：发明
国别省市：广东,44