The application relates to a chip detection method, device, computer equipment and storage medium. The method includes: acquiring the chip image to be detected; generating the corresponding image moments according to the chip image; generating the corresponding chip image recognition operator according to the image moments; generating the qualified detection results if the chip image recognition operator matches the preset template recognition operator; and generating the detection if the chip image recognition operator does not match the preset template recognition operator. Unqualified results. The application can improve the accuracy of chip qualification test.
【技术实现步骤摘要】
芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及贴装
，特别是涉及一种芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
在芯片生产的生产线上，通常需要对芯片进行合格性检测、定位贴装等。例如，在SIM(SubscriberIdentificationModule用户识别模块)芯片生产线上，需要检测SIM芯片是否合格、对SIM芯片进行定位以确定对SIM芯片贴装的位置。传统方式中一般是采用模板匹配法进行芯片识别检测，但是模板匹配法存在对噪音敏感的问题，出现合格性检测错误的情况较多，错误率比较高。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的芯片合格性检测错误率高的技术问题，提供一种能够提高检测准确率的芯片检测方法、装置、计算机设备和存储介质。一种芯片检测方法，所述方法包括：获取待检测芯片的芯片图像；根据所述芯片图像生成对应的图像矩；根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。一种芯片检测装置，所述装置包括：图像获取模块，用于获...
【技术保护点】
1.一种芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测芯片的芯片图像；根据所述芯片图像生成对应的图像矩；根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测芯片的芯片图像；根据所述芯片图像生成对应的图像矩；根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子匹配，则生成检测合格结果；若所述芯片图像的识别算子与预设的模板识别算子不匹配，则生成检测不合格结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测芯片的芯片图像，包括：接收相机拍摄后发送的初始图像；对所述初始图像进行轮廓提取，若提取成功，则将所述初始图像作为待检测芯片的芯片图像。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述图像矩包括几何矩和几何中心距；所述根据所述芯片图像生成对应的图像矩，包括：对所述芯片图像进行阈值分割，得到二值化图像的离散函数；对所述二值化图像的离散函数进行黎曼积分，得到对应芯片图像的几何矩和几何中心距。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述图像矩生成对应芯片图像的识别算子，包括：根据所述几何中心距计算得到HU矩；根据所述几何中心距对所述HU矩进行优化，得到改进HU矩；根据所述几何矩计算得到离心率；将所述改进HU矩和所述离心率组成特征向量，得到所述芯片图像的识别算子。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述几何中心距对所述HU矩进行优化，得到改进HU矩，包括：通过比值计算去掉所述HU矩中的0阶...
【专利技术属性】
技术研发人员：寸毛毛，郑博，刘志昌，魏泽，王建鑫，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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