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本发明公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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