一种可用于开发设备的试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可用于开发设备的试验装置，其包括主框架和撑板组件，主框架上相对的两侧各设置有一侧板，主框架和侧板之间设置有至少一个调节孔组，侧板通过调节孔组可相对主框架移动以调整侧板之间的间距，撑板组件安装于主框架上，且撑板组件位于主框架两侧的侧板之间。通过这样的技术方案，可根据不同的间距试验要求，通过调节孔组来调整侧板之间的间距，以此来实现试验装置间距可调的功能，使得试验数据可参考性较高，便于产品的设计优化与结构调整。

A Test Device for Developing Equipment

The invention discloses a test device which can be used for developing equipment, including a main frame and a supporting plate component. The opposite sides of the main frame are provided with a side plate, and at least one adjusting hole group is arranged between the main frame and the side plate. The side plate can adjust the spacing between the side plates by adjusting the hole group relative to the main frame. The supporting plate component is installed on the main frame, and the supporting plate component is located on the main frame. Between the side plates on both sides of the main frame. According to the requirements of different spacing tests, the spacing between side plates can be adjusted by adjusting the hole groups, so as to realize the function of adjustable spacing between test devices, which makes the test data more referential and convenient for product design optimization and structural adjustment.

【技术实现步骤摘要】
一种可用于开发设备的试验装置
本专利技术涉及开关设备
，具体说是一种开关设备柜的开发试验装置。
技术介绍
对于开关设备的开发，特别是开关设备尺寸限定且空间有限的柜型开发，经常涉及到内部的间距调整，但目前并没有便于调整间距的试验装置，大多只是采用简化的模型对其中单一的一个模块或部件进行方向性的摸底，试验数据可参考性不高，不利于产品的设计优化与结构调整。
技术实现思路
本专利技术提供一种可用于开发设备的试验装置，用于解决试验数据可参考性不高，不利于产品的设计优化与结构调整的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种可用于开发设备的试验装置，包括：主框架，所述主框架上相对的两侧各设置有一侧板，所述主框架和所述侧板之间设置有至少一个调节孔组，所述侧板通过调节孔组可相对主框架移动以调整侧板之间的间距；用于安装试品的撑板组件，设置在主框架上，且所述撑板组件位于主框架两侧的侧板之间。优选的，所述调节孔组包括两个以上的调节孔，所述调节孔设置在所述主框架和所述侧板两者之一上，所述主框架和所述侧板两者中的另一个上设置有与调节孔相匹配的止动件，所述止动件插设于所述调节孔以使得侧板与主框架相连接。优选的，所述调节孔组中,相邻调节孔的侧部相连通。优选的，所述撑板组件上设置有两组以上用于安装试品的安装结构，所述试品可相对安装结构或者撑板组件移动以调整试品之间的间距。优选的，所述安装结构包括至少一个条形孔组，所述条形孔组包括一个以上的第一条形孔。优选的，所述条形孔组包括两个以上的第一条形孔，相邻第一条形孔的侧部相连通。优选的，所述安装结构还包括一个以上的第二条形孔。进一步优选的，所述主框架包括横架和立架，所述横架与所述立架通过连接片相连接。进一步优选的，所述主框架上设置有位于主框架底部的底架，所述底架的底面与所述主框架的底面之间具有间距。进一步优选的，所述底架内设置有安装板，所述安装板上设置有板孔。本专利技术的有益效果是：本专利技术涉及一种可用于开发设备的试验装置，其包括主框架和撑板组件，主框架上相对的两侧各设置有一侧板，主框架和侧板之间设置有至少一个调节孔组，侧板通过调节孔组可相对主框架移动以调整侧板之间的间距，撑板组件安装于主框架上，且撑板组件位于主框架两侧的侧板之间。通过这样的技术方案，可根据不同的间距试验要求，通过调节孔组来调整侧板之间的间距，以此来实现试验装置间距可调的功能，使得试验数据可参考性较高，便于产品的设计优化与结构调整。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明：图1是本专利技术的第一视角结构图；图2是图1中的A结构的放大图；图3是图1中的B结构的放大图；图4是本专利技术的第二视角结构图；图5是图4中的C结构的放大图；图6是图4中的D结构的放大图；图7是本专利技术的第三视角结构图；图8是撑板组件的结构图。具体实施方式如图1至图8所示，本专利技术是一种可用于开发设备的试验装置，其包括主框架10和撑板组件30，主框架10上相对的两侧各设置有一侧板20，主框架10和侧板20之间设置有至少一个调节孔组，侧板20通过调节孔组可相对主框架10移动以调整侧板20之间的间距，撑板组件30安装于主框架10上，且撑板组件30位于主框架10两侧的侧板20之间。在试验时，可根据不同间距试验要求，通过调节孔组来调整侧板20之间的间距。调节孔组包括两个以上的调节孔21，调节孔21设置在主框架10和侧板20两者之一上，主框架10和侧板20两者中的另一个上设置有与调节孔21相匹配的止动件22，止动件22插设于调节孔21以使得侧板20与主框架10相连接。调节孔组中，相邻调节孔21的侧部相连通，相邻两调节孔21中，其中一个调节孔21的中心与另一个调节孔21的中心两者之间的距离小于调节孔21的直径。当需要调整侧板20之间的间距时，拆下止动件22，选择相应的调节孔21后，侧板20相对主框架10移动，以完成调节；当完成调整距离之后，将止动件22再次安装于调节孔21内，使得侧板20固定于主框架10上。通过这样的结构，可根据不同的间距试验要求，选择不同调节孔21安装，以此实现侧板20间距可调的功能。当然，止动件22可以为螺钉，也亦可是销钉。在撑板组件30上设置有两组以上用于安装试品的安装结构31，试品可相对安装结构31或者撑板组件30移动以调整试品之间的间距，试品为隔离静触头、极柱等，安装结构31可用于安装隔离静触头、极柱等。安装结构31包括至少一个条形孔组，条形孔组包括一个以上的第一条形孔311，通过螺钉或销钉等紧固件将试品定位于第一条形孔311。当条形孔组包括两个以上的第一条形孔311时，相邻第一条形孔311的侧部相连通。同时，安装结构31还包括一个以上的第二条形孔312。在第一条形孔311内安装螺钉等紧固件，以将隔离静触头及极柱等试品安装于撑板组件30。在调整试品之间的间距时，通过第一条形孔311和第二条形孔312的调整间距方式，试品可相对安装结构31移动以使试品安装于第一条形孔311以及第二条形孔312，这样不仅便于调整间距时的准确定位，还提高了测试数据的可靠性。在本专利技术中，主框架10可采取型材和/或管材拼装而成。通过便捷式间距可调的试验装置特点，使得试品的试验数据可参考性较高，便于产品的设计优化与结构调整。主框架10包括横架11和立架12，横架11与立架12通过连接片40相连接。除此之外，相邻的横架11与横架11之间亦通过连接片40相连接。同时，在侧板20上安装有侧板加强筋50，通过这样的结构使得整个试验装置的整体强度及稳定性得到了较好的提高。在主框架10上设置有位于主框架10底部的底架13，底架13的底面与所述主框架10的底面之间具有间距。在底架13内设置有安装板131，安装板131上设置有板孔1311，板孔1311可用于安装绝缘子，为绝缘试验时储备额外的一种高压引线方式。本专利技术的工作原理：当需要调节侧板20之间的间距时，拆下止动结构后，侧板20相对主框架10移动，以完成调节；当完成侧板20之间的间距调节之后，将止动件22再次安装于调节孔21内，使得侧板20固定于主框架10上；当需要调整试品之间间距时，根据不同的间距试验要求选择对应的第一条形孔311以及第二条形孔312。上述实施例只是本专利技术的优选方案，本专利技术还可有其他实施方案。本领域的技术人员在不违背本专利技术精神的前提下还可作出等同变形或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所设定的范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可用于开发设备的试验装置，其特征在于，包括：主框架(10)，所述主框架(10)上相对的两侧各设置有一侧板(20)，所述主框架(10)和所述侧板(20)之间设置有至少一个调节孔组，所述侧板(20)通过调节孔组可相对主框架(10)移动以调整侧板(20)之间的间距；用于安装试品的撑板组件(30)，设置在主框架(10)上，且所述撑板组件(30)位于主框架(10)两侧的侧板(20)之间。

【技术特征摘要】
1.一种可用于开发设备的试验装置，其特征在于，包括：主框架(10)，所述主框架(10)上相对的两侧各设置有一侧板(20)，所述主框架(10)和所述侧板(20)之间设置有至少一个调节孔组，所述侧板(20)通过调节孔组可相对主框架(10)移动以调整侧板(20)之间的间距；用于安装试品的撑板组件(30)，设置在主框架(10)上，且所述撑板组件(30)位于主框架(10)两侧的侧板(20)之间。2.根据权利要求1所述的一种可用于开发设备的试验装置，其特征在于：所述调节孔组包括两个以上的调节孔(21)，所述调节孔(21)设置在所述主框架(10)和所述侧板(20)两者之一上，所述主框架(10)和所述侧板(20)两者中的另一个上设置有与调节孔(21)相匹配的止动件(22)，所述止动件(22)插设于所述调节孔(21)以使得侧板(20)与主框架(10)相连接。3.根据权利要求2所述的一种可用于开发设备的试验装置，其特征在于：所述调节孔组中,相邻调节孔(21)的侧部相连通。4.根据权利要求1所述的一种可用于开发设备的试验装置，其特征在于：所述撑板组件(30)上设置有两组以上用于安装试品的安装结构(31)，所述试品可相对安...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，于冬初，曾大生，甘绍添，刘玉蓉，于虹，林显卿，唐梦君，
申请(专利权)人：中山市明阳电器有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44