一种硬件测试架制造技术

本发明专利技术提供一种硬件测试架，包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。本发明专利技术的硬件测试架无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，极大地提高了硬件测试的效率，减少了对硬件的损伤。

A Hardware Testing Frame

The invention provides a hardware test stand, which comprises at least two fixed feet intersecting at an intersection point, movably fixed on the hardware surface to be tested, a central probe fixed at the intersection point, and one end contacting the test point of the hardware to be measured. The hardware test stand of the invention can test one or more test points without welding, which greatly improves the efficiency of hardware test and reduces the damage to hardware.

【技术实现步骤摘要】
一种硬件测试架
本专利技术涉及测试架的
，特别是涉及一种硬件测试架。
技术介绍
现有技术中，在进行硬件调试时往往需要在很多测试点上进行测试，或者部分测试点需要同时用示波器进行量测。现有的硬件测试方式主要包括以下两种：(1)采用焊接引线，对焊点进行焊接引出导线，然后对导线端进行量测然而，由于焊点较多且部分位置难以焊接，导致测试时间延长，测试成本增加；且很容易造成硬件损坏，导致测试有效性较低。(2)直接采用手持探针进行按压式测试然而，该方式不能同时测试多个测试点，导致测试效率低下。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种硬件测试架，无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，极大地提高了硬件测试的效率，减少了对硬件的损伤。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种硬件测试架，包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。于本专利技术一实施例中，所述固定脚的个数为三个。于本专利技术一实施例中，所述固定脚的底端设置有吸盘，通过所述吸盘固定在所述待测硬件表面。于本专利技术一实施例中，还包括绝缘套，包覆在所述中心探针表面。于本专利技术一实施例中，所述固定脚为可伸缩结构。于本专利技术一实施例中，所述可伸缩结构通过螺栓固定。于本专利技术一实施例中，所述中心探针上设置有插槽，用于与外部测试仪器相连。于本专利技术一实施例中，所述中心探针包括从上到下依次相连的按压段、伸缩段和接触段；所述按压段用于向下施加按压力；所述伸缩段用于在所述按压力的作用下向所述接触段施加向下作用力；所述接触段用于在所述向下作用力的作用下与所述测试点固定接触。于本专利技术一实施例中，所述伸缩段采用弹簧。于本专利技术一实施例中，所述按压段的顶端设置有按压块。如上所述，本专利技术的硬件测试架，具有以下有益效果：(1)无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，便于移动；(2)该硬件测试架固定性好，探针弹力压持度强，测试信号稳定性高；(3)减少了对硬件的损伤，降低了测试成本，增加了测试效率。附图说明图1显示为本专利技术的硬件测试架于一实施例中的结构示意图。元件标号说明1固定脚11吸盘2中心探针21按压块具体实施方式以下由特定的具体实施例说明本专利技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点及功效。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。本专利技术的硬件测试架无需焊接即可进行测试点的测试，且多个硬件测试架可以同时工作以实现多个测试点的测试，从而减少了对硬件的损伤，极大地提高了硬件测试的效率，降低了测试的人工成本。如图1所示，于一实施例中，本专利技术的硬件测试架包括：至少两个固定脚1，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面。中心探针2，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。具体地，所述固定脚1作为支撑机构，用于支撑所述中心探针2。所述固定脚1可移动地设置在待测硬件表面，从而使得所述中心探针2能够测试所述待测硬件表面任意位置处的测试点，从而无需焊接，避免了焊接对待测硬件的损失。为了保证所述至少两个固定脚1的稳定性，于本专利技术一实施例中，所述固定脚的个数为三个，从而构成一个具有共同交叉点的三角架。优选地，所述固定脚1采用绝缘材料制成。由于不同的待测硬件的尺寸不同，故所述中心探针2的测试范围也不同。所述固定脚1的高度限制了所述中心探针2的活动范围，故需要根据实际情况调整所述中心探针2的活动范围。于本专利技术一实施例中，所述固定脚1为可伸缩结构，从而通过所述可伸缩结构直接调整所述固定脚1的高度，进而无需移动所述固定脚1的位置，即可调整所述中心探针2的活动范围。优选地，当所述固定脚1调整到所需长度时，所述可伸缩结构通过螺栓固定，从而保证所述固定脚1的稳定性。当所述硬件测试架进行测试时，所述固定脚1需固定在所述待测硬件表面，以保证所述中心探针2的稳定性。于本专利技术一实施例中，所述固定脚1的底端设置有吸盘11，通过所述吸盘11固定在所述待测硬件表面。所述吸盘无需借助外力即可实现所述固定脚1的固定，避免了对所述待测硬件表面的损坏。同时，所述吸盘11易于拆卸，可使得所述固定脚1在所述待测硬件表面移动。于本专利技术一实施例中，本专利技术的硬件测试架还包括绝缘套，包覆在所述中心探针2表面。由于所述中心探针2为导电材质，故在所述中心探针2表面包覆绝缘套，以便测试人员能够手动对所述中心探针2的位置进行灵活调整，而无需采用专门的绝缘工具，例如绝缘手套。为了便于与外部测试仪器相通信，于本专利技术一实施例中，所述中心探针2上设置有插槽，用于与外部测试仪器相连。因此，所述中心探针2可以直接将测试所采集的信号传输到外部测试仪器，如示波器，简单方便，提升了测试效率。为了进一步提升所述中心探针2的测试精准度，于本专利技术一实施例中，所述中心探针2包括从上到下依次相连的按压段、伸缩段和接触段。其中，所述按压段设置于上方，用于向下施加按压力；所述伸缩段位于中间，用于在所述按压力的作用下向所述接触段施加向下作用力；所述接触段位于下方，直接与所述待测硬件的测试点相接触，用于在所述向下作用力的作用下与所述测试点固定接触，以万册测试。由于弹性压力的作用，增加了所述中心探针2所采集信号的稳定性，提升了测试精度。优选地，所述伸缩段采用弹簧。更为优选地，所述按压段的顶端设置有按压块21，用于向下施加作用力，极大地提升了测试舒适度。综上所述，本专利技术的硬件测试架无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，便于移动；该硬件测试架固定性好，探针弹力压持度强，测试信号稳定性高；减少了对硬件的损伤，降低了测试成本，增加了测试效率。所以，本专利技术有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。上述实施例仅例示性说明本专利技术的原理及其功效，而非用于限制本专利技术。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利技术的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属
中具有通常知识者在未脱离本专利技术所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利技术的权利要求所涵盖。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硬件测试架，其特征在于：包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。

【技术特征摘要】
1.一种硬件测试架，其特征在于：包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。2.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚的个数为三个。3.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚的底端设置有吸盘，通过所述吸盘固定在所述待测硬件表面。4.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：还包括绝缘套，包覆在所述中心探针表面。5.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚为可伸缩结构。6.根据权利要求5所述的硬件测试架，...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙振，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31