一种硬件测试架制造技术

本发明专利技术提供一种硬件测试架，包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。本发明专利技术的硬件测试架无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，极大地提高了硬件测试的效率，减少了对硬件的损伤。

A Hardware Testing Frame

The invention provides a hardware test stand, which comprises at least two fixed feet intersecting at an intersection point, movably fixed on the hardware surface to be tested, a central probe fixed at the intersection point, and one end contacting the test point of the hardware to be measured. The hardware test stand of the invention can test one or more test points without welding, which greatly improves the efficiency of hardware test and reduces the damage to hardware.

【技术实现步骤摘要】
一种硬件测试架
本专利技术涉及测试架的
，特别是涉及一种硬件测试架。
技术介绍
现有技术中，在进行硬件调试时往往需要在很多测试点上进行测试，或者部分测试点需要同时用示波器进行量测。现有的硬件测试方式主要包括以下两种：(1)采用焊接引线，对焊点进行焊接引出导线，然后对导线端进行量测然而，由于焊点较多且部分位置难以焊接，导致测试时间延长，测试成本增加；且很容易造成硬件损坏，导致测试有效性较低。(2)直接采用手持探针进行按压式测试然而，该方式不能同时测试多个测试点，导致测试效率低下。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种硬件测试架，无需焊接即可进行一个或多个测试点的测试，极大地提高了硬件测试的效率，减少了对硬件的损伤。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种硬件测试架，包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。于本专利技术一实施例中，所述固定脚的个数为三个。于本专利技术一实施例中，所述固定脚的底端设置有吸盘，通过所述吸盘固定在所述待测硬件表面。于本专利技术一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硬件测试架，其特征在于：包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。

【技术特征摘要】
1.一种硬件测试架，其特征在于：包括：至少两个固定脚，相交于一交叉点，可移动地固定在待测硬件表面；中心探针，固定在所述交叉点上，且一端与所述待测硬件的测试点相接触。2.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚的个数为三个。3.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚的底端设置有吸盘，通过所述吸盘固定在所述待测硬件表面。4.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：还包括绝缘套，包覆在所述中心探针表面。5.根据权利要求1所述的硬件测试架，其特征在于：所述固定脚为可伸缩结构。6.根据权利要求5所述的硬件测试架，...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙振，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31