【技术实现步骤摘要】
单片机功能测试装置
本技术涉及单片机功能测试
,特别是涉及一种单片机C8051F020/21功能测试装置。
技术介绍
目前多数产品使用的单片机为C8051F020/C8051F021,这两种芯片功能多,管脚多且间距小,测试困难,在生产阶段都是采取试用的办法,一旦芯片存在质量问题,取芯片的过程往往会损坏电路板。
技术实现思路
本技术针对现有技术存在的问题和不足,提供一种新型的单片机功能测试装置。本技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:本技术提供一种单片机功能测试装置,其特点在于,其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机,所述芯片测试座安装在测试转接板上,所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上,所述待测单片机与控制计算机通讯连接,所述测试主板上设有DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管,所述DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接,所述直流稳压电源与DC-DC数字电源电连接。较佳地,所述单片机功能测试 ...
【技术保护点】
1.一种单片机功能测试装置,其特征在于,其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机,所述芯片测试座安装在测试转接板上,所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上,所述待测单片机与控制计算机通讯连接,所述测试主板上设有DC‑DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管,所述DC‑DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接,所述直流稳压电源与DC‑DC数字电源电连接。
【技术特征摘要】
1.一种单片机功能测试装置,其特征在于,其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机,所述芯片测试座安装在测试转接板上,所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上,所述待测单片机与控制计算机通讯连接,所述测试主板上设有DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管,所述DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接,所述直流稳压电源与DC-DC数字电源电连接。2.根据权利要求1所述的单片...
【专利技术属性】
技术研发人员:梁坚,李觊,周燕,李彦生,李在丙,徐程,江海洋,
申请(专利权)人:昆明北方红外技术股份有限公司,
类型:新型
国别省市:云南,53
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